一种α β放射性表面污染测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种αβ放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。本实用新型专利技术采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术公开了一种测量仪，尤其涉及一种用于检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受α和/或β放射性污染的程度的α β放射性表面污染测量仪。
技术介绍
α β放射性表面污染测量仪，用于检测放射 性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受α和/或β放射性污染的程度的。其中，市场现有产品为两种专用探测器形式，探测不同类型射线需更换相应探测器，不能同时探测两种射线。实际工作中使用不便，成本高；我们的仪表用一个复合探测器，可同时测量α，β两种射线。此外，现有的探测器与显示主机间现有产品存在传输距离短，小于一米，易受干扰，难于满足高空远距测量要求。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是满足同一探测器可同时测量不同类型射线(α和/或β)要求，简化操作，便捷测量。本技术解决上述技术问题所采取的技术方案如下一种α β放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。其中，优选的结构是，所述处理器是单片机。其中，优选的结构是，所述电源还连接有电源开关。其中，优选的结构是，所述显示器是液晶显示器。本专利技术采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。以下结合附图对本技术进行详细的描述，以使得本技术的上述优点更加明确。图I是本技术α β放射性表面污染测量仪的电路原理示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术进行详细的说明。其中，图I是本技术α β放射性表面污染测量仪的电路原理示意图；如图I所示，所述α β放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，其中，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；也就是说，所述探测器捕获到α和/或β射线后，将不同的射线处理并产生不同的信号，从而供后续的电路对上述信号进行分析。其中，所述探测器又连接一信号放大器，其中，所述不同的射线形成的不同的信号，经过高压电容耦合到所述放大器进行 信号增强处理。其中，上述电容在图中并没有显示，但是，本领域人员应该意识到，根据现有的电路原理，上述电容在需要的时候是可以存在的，在此不详细说明。其中，该信号放大器又连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别，其中，所述信号甄别器又连接到一处理器中，优选的是，在二者之间设有整形器件，其中，所述信号甄别器对上述信号甄别不同信号，区分出信号类型，整形后，传输到上述处理器中。其中，上述信号甄别器可以采取能够实现上述功能的电子器件，在此不进行详细说明。其中，所述处理器又连接一显示器；且所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。其中，还设有电源开关，其中，打开所述电源开关，电源可以为内部的器件进行供电及提供探测器需要的工作高压。下面对本技术的工作原理进行详细说明所述探测器捕获到α和/或β射线后，不同的射线会产生不同的信号，经过高压电容耦合到放大器进行信号增强处理，再经过甄别不同信号，区分出信号类型，整形后，传输到主机，然后送CPU计数及液晶显示出来。工作过程为打开电源，按测量的射线α和/或β类型。仪器开启工作，拿起探测器，测量面面对被测平面。测量时间到后，自动给出测量结果。本专利技术采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。需要注意的是，上述具体实施例仅仅是示例性的，在本技术的上述教导下，本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行各种改进和变形，而这些改进或者变形落在本技术的保护范围内。本领域技术人员应该明白，上面的具体描述只是为了解释本技术的目的，并非用于限制本技术。本技术的保护范围由权利要求及其等同物限定。权利要求1.ー种a 3放射性表面污染测量仪，其特征在于，包括电源和探測器，所述探测器用于探测a和/或0射线并形成对应的信号； 所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探測到的a和/或P射线信号进行甄别； 所述信号甄别器又连接有ー处理器，且所述处理器又连接ー显示器； 其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。2.根据权利要求I所述的a3放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述处理器是单片机。3.根据权利要求I或2所述的a3放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述电源还连接有电源开关。4.根据权利要求I或2所述的a3放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述显示器是液晶显示器。专利摘要本技术公开了一种αβ放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。本技术采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。文档编号G01T1/167GK202583475SQ20122020382公开日2012年12月5日 申请日期2012年5月8日 优先权日2012年5月8日专利技术者马激涛, 李四平 申请人:西安西核彩桥实业科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种αβ放射性表面污染测量仪，其特征在于，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马激涛，李四平，
申请(专利权)人：西安西核彩桥实业科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：