【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种可用于表面污染监测仪校准的工具，包括底座，底座的两端开有卡条活动槽，卡条活动槽中设有两个贯穿两端卡条活动槽的卡条，卡条的下方开有放射源槽。本技术的可用于表面污染监测仪校准的工具，通过调节卡条，可适用于不同尺寸规格的探测器，使表面污染监测仪整个校准过程更为便捷方便，极大改善和简化校准过程。【专利说明】 —种可用于表面污染监测仪校准的工具
本技术涉及辐射监测与防护
，具体涉及一种可用于表面污染监测仪校准的可用于表面污染监测仪校准的工具。
技术介绍
在核电厂、后处理厂等含放射性操作的部门，放射性监管部门和相关放射性物质使用单位等都配备有表面污染监测仪。该仪器能够测量物体表面的α、β粒子污染情况，以便决定是否采取去污等处理措施，防止人员被放射性污染。表面污染监测仪在放射性监控领域大量使用，生产厂家很多，或因为使用目的不同、或因为使用对象不同，造成表面污染监测仪的探测器尺寸有不同的规格，这给这些仪器的校准带来不少困扰。本技术正是针对该问题而提出的一种可用于表面污染监测仪校准的工具。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本技术的目的在...
【技术保护点】
一种可用于表面污染监测仪校准的工具，其特征在于，包括底座（1），底座（1）的两端开有卡条活动槽（4），卡条活动槽（4）中设有两个贯穿两端卡条活动槽（4）的卡条（3），卡条（3）的下方开有放射源槽（2）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，黄亚雯，韦应靖，李强，冯梅，杨慧梅，牛蒙青，陈立，
申请(专利权)人：中国辐射防护研究院，
类型：新型
国别省市：山西;14
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