当前位置: 首页 > 专利查询>长安大学专利>正文

一种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法技术

技术编号:8021386 阅读:248 留言:0更新日期:2012-11-29 03:41
本发明专利技术公开了一种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法。方法对目标物体轮廓进行平滑后,然后进行标号处理,接着是基于0、1、2阶转动惯量求出二维目标物体的面积,质心和主轴方向,进而根据主轴方向求出通过质心并与其垂直的次轴方向,再基于主次轴方向求得目标物体的最小外界矩形,最后测量外界矩形的长和宽视为被测物体的长和宽,长宽比视为被测物体的第一形状参数,被测物体的面积与其外界矩形面积的比值为被测物体的第二形状参数。与现有技术相比,该方法是不受物体转动影响的,而且增加了两种不同的形状参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种矿岩块度测量方法,具体涉及一种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法
技术介绍
传统的人工岩石块度测量方法多为筛分法或手工测量法,其测量和分析方法不仅工作量大,效率低下,取样有限,而且统计结果也不够准确。随着计算机技术的快速发展,逐渐采用摄影法获取矿岩块度二维图像对岩体图像进行分析处理,从而获取岩石块度的尺寸和形状分布情况。虽然美国、加拿大、英国、德国、法国、意大利、瑞典、挪威、澳大利亚、南非等先后都研发了该类测量和分析方法,但没有标准和统一的方法,测量结果不够稳定。目前图像技术的测量方法很多,如常用的图像分析算法包括按扫描线测量岩石块度的长宽尺寸的方法(包括玄测量法)、当量圆直径算法(包括等效面积和等效周长及等效半径方法)和当量椭圆长算法(包括当量矩形,最大直径法,短轴算法等)等。其中,按扫描线测量岩石块度的长宽尺寸的方法与矿岩块度的转动有关,即同样的岩块,以不同的转角放置在图像中将被测量到不同的尺寸;当量圆直径算法虽然与转动无关,但不能给出任何形状参数,即一支长3-4倍于同样面积橡皮的铅笔,它们被测量的尺寸是一样的;当量椭圆长算法虽然优于前二者,但机械破碎加工的矿岩块度往往不具有圆形或椭圆形的形状(曲线边缘),所以也不宜用当量椭圆来表达。上述方法或与目标的物体转动有关或测量的参数太单一。此外,L. R. Ferret首创了简单FERRET算法,该算法根据测量与目标物体相切的两条平行线之间的距离,来确定不规则目标物体的长、宽等几何特征。但该方法因为缺少对测量方向的确定,使得测量的长度和宽度随该矩形的方向不同而不同,测量值不稳定。专
技术实现思路
针对现有岩石块度的图像测量技术的缺陷或不足,本专利技术的目的在于提供一种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法。为实现上述技术任务,本专利技术采取如下的技术解决方案—种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法,具体按下述步骤进行步骤一,对二值区域对象进行矿岩块度的边缘去噪,即进行数学形态学的开运算,得到平滑图像;步骤二,扫描平滑图像,对图像中的所有的矿岩块度物体进行标号,得到标号图像;步骤三,扫描标号图像,计算每一标号物体的0阶转动惯量、I阶转动惯量和2阶转动惯量;步骤四,依据步骤三中计算的0阶转动惯量、I阶转动惯量和2阶转动惯量确定每一标号物体的面积、质心、主轴方向及次轴方向(1)0阶转动惯量为标号物体的面积;(2)根据I阶转动惯量确定标号物体的质心;(3)根据2阶转动惯量确定标号物体的主轴方向;(4)标号物体的次轴方向为通过质心并与主轴方向垂直的方向;步骤五,以确定的主轴方向和次轴方向为基准,采用平行直线逼近法作每一标号物体的FERRET矩形在主轴方向上,两条平行于主轴方向的直线L1和直线L2分别沿垂直于主轴方向的方向相向平移,当平移的直线与标号物体的轮廓线相交一点时,停止平移;同理,两条与标号物体的次轴方向平行的直线L3和直线L4分别沿垂直于次轴方向的方向相向平移,当平移的直线与标号物体的轮廓线相交一点时,停止平移,最终四条直线相交构成一初始矩形,该初始矩形与标号物体共有N个相交点,N ^ 4 当N=4时,该初始矩形为FERRET矩形;·当NM时,即标号物体的轮廓线上存在有(N-4)条单像素延伸直线,分别计算每条单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件T,r=:,m为单像素延伸直线与初始矩形 M相交点的长度像素数,M为初始矩形长度像素数;分别比较每条单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件与阈值T的大小,当所有单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件均大于阈值T时,该初始矩形为FERRET矩形,否则,将初始矩形中的直线L1和直线L2分别沿垂直于主轴方向的方向相对平移,并将直线L3和直线L4分别沿垂直于次轴方向的方向相对平移,直至所有单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件均大于阈值T时得到FERRET矩形,其中5%彡T彡6% ;步骤六,计算每一标号物体的FERRET矩形参数,得出FERRET矩形的长L和宽W,其中FERRET矩形的长L作为标号物体的长,FERRET矩形的宽W作为标号物体的宽,计算FERRET矩形的宽长比W/L,将W/L作为标号物体的第一形状参数,计算标号物体面积A与FERRET矩形面积B的比值A/B,将A/B作为标号物体的第二形状参数。本专利技术的方法对目标物体轮廓进行平滑后(平滑的目的是避免外延的毛刺影响最小外界矩形的正确确定),然后进行标号处理,接着是基于0、1、2阶转动惯量求出二维目标物体的面积、质心和主轴方向,然后根据主轴方向求出通过质心并与主轴方向垂直的次轴方向,再基于主轴方向和次轴方向求得目标物体的最小外界矩形(矩形的四条直线是平行于主次轴方向逼近获得),最后测量外界矩形的长和宽视为被测物体的长和宽,长宽比视为被测物体的第一形状参数,被测物体的面积与其外界矩形面积的比值为被测物体的第二形状参数。与现有方法相比,该方法是不受物体转动影响,而且增加了两种不同的形状参数,方法简单,计算结果稳定,表达的矿岩块度参数全面。附图说明图I为本专利技术的方法流程图;图2为传统FERRET矩形示意图;图3 Ca)为采用最小二阶矩的方法确定主轴方向的示意图;图3 (b)为本专利技术的FERRET矩形示意图;图4 Ca)为标号图像示意图;图4 (b)为采用本专利技术的方法确定的各标号物体的FERRET矩形示意图。以下结合实施例与附图对本专利技术作进一步详细说明。具体实施例方式专利技术人对FERRET算法进行的改进原理如下如图2所示,传统的FERRET算法首先从二值图的边界任选一点,经过此点做边界的切线,取与该切线平行的直线,使它与边界的另外一侧相切,当这两条切线间的垂直距离达到最大时,此时的距离为被测目标物体的长度值,当垂直距离达到最小时为被测目标的宽度值。从图2可以看出,这种算法虽然简单却存在着缺陷如果目标物体中存在多个点对时且通过他们的切线之间的距离相等,那么选取哪两个点作为目标物体宽度的取值就存 在取舍问题,使测量结果不稳定,这将影响研究测量结果的准确度。在过去的研究中,多个国外研究者选择的方法是在多个转角方向上进行同样的测量,或取平均测量值,或选取中值或选取最大值等。无论如何,从连续函数的角度分析,这种FERRET矩形将有无穷多个,选取的数量越多,结果将越趋于准确,但这又是不现实的;另外一个问题是取得FERRET矩形越多,计算量也越大,即耗时又不精确。为了克服传统的FERRET矩形存在的问题,专利技术人作了了以下改进如图3所示,改进的FERRET算法充分利用了二维几何图形(矿岩块度)的旋转不变性原理来确定矿岩块度的主、次轴方向,原理步骤如下A.使用求最小二阶矩的方法,确定测量不规则矿岩块度宽度的主轴方向和次轴方向首先用0阶转动惯量求得被测目标物体的面积;假定被测物体是均质的,用两个垂直方向的一阶转动惯量来求得被测物体的质心;最后在两个垂直方向上获得三个二阶转动惯量;B.目标物体主轴方向的具体确定理论基础从图3看出,改进的FERRET算法主要是增加了确定目标物体主轴方向的方法,它使得岩石块度宽度的测量结果趋于稳定。由图3所示,虚线为通过物体质心的任意一条直线,二值图目标物体为f (X,y),点(x,y)到虚线的垂直距离为转动半径R,可得转动惯本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种基于改进的FERRET的矿岩块度测量方法,其特征在于,具体按下述步骤进行:步骤一,对二值区域对象进行矿岩块度的边缘去噪,即进行数学形态学的开运算,得到平滑图像;步骤二,扫描平滑图像,对图像中的所有的矿岩块度物体进行标号,得到标号图像;步骤三,扫描标号图像,计算每一标号物体的0阶转动惯量、1阶转动惯量和2阶转动惯量;步骤四,依据步骤三中计算的0阶转动惯量、1阶转动惯量和2阶转动惯量确定每一标号物体的面积、质心、主轴方向及次轴方向:步骤五,以确定的主轴方向和次轴方向为基准,采用平行直线逼近法作每一标号物体的FERRET矩形:在主轴方向上,两条平行于主轴方向的直线L1和直线L2分别沿垂直于主轴方向的方向相向平移,当平移的直线与标号物体的轮廓线相交一点时,停止平移;同理,两条与标号物体的次轴方向平行的直线L3和直线L4分别沿垂直于次轴方向的方向相向平移,当平移的直线与标号物体的轮廓线相交一点时,停止平移,最终四条直线相交构成一初始矩形,该初始矩形与标号物体共有N个相交点,N≥4:当N=4时,该初始矩形为FERRET矩形;当N>4时,即标号物体的轮廓线上存在有(N?4)条单像素延伸直线,分别计算每条单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件τ,m为单像素延伸直线与初始矩形相交点的长度像素数,M为初始矩形长度像素数;分别比较每条单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件与阈值T的大小,当所有单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件均大于阈值T时,该初始矩形为FERRET矩形,否则,将初始矩形中的直线L1和直线L2分别沿垂直于主轴方向的方向相对平移,并将直线L3和直线L4分别沿垂直于次轴方向的方向相对平移,直至所有单像素延伸直线与初始矩形相交点的边界条件均大于阈值T时得到FERRET矩形,其中:5%≤T≤6%;步骤六,计算每一标号物体的FERRET矩形参数,得出FERRET矩形的长L和宽W,其中FERRET矩形的长L作为标号物体的长,FERRET矩形的宽W作为标号物体的宽,计算FERRET矩形的宽长比W/L,将W/L作为标号物体的第一形状参数,计算标号物体面积A与FERRET矩形面积B的比值A/B,将A/B作为标号物体的第二形状参数。FDA00001886424700011.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王卫星
申请(专利权)人:长安大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1