组合式射线无损检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种组合式射线无损检测方法及系统，该方法及系统将g射线源和X射线源与固体线阵探测器、气体线阵探测器及面阵探测器分别借助射线源支架和探测器支架集成在一个刚性基座上，通过不同射线源与不同探测器的组合，分别进行DR扫描成像和断层或锥束CT成像，实现对工件的多能量段、多模式组合检测，能同时满足高检测分辨率、高探测灵敏度、较强的射线穿透能力和良好的长期稳定性等检测要求，可应用于国防、航空航天、工业和科研等领域的高精度射线无损检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种组合式射线无损检测方法及系统，特别涉及一种采用g射线源和X射线源，以及线阵探测器和面阵探测器，能以多种射线源-探测器组合方式对工件进行高精度DR/CT辐射成像检测的组合式射线无损检测方法及系统，属于射线无损检测
，可应用于国防、航空航天、工业和科研等领域的精细无损检测。
技术介绍
DR (Digital Radiography,数字福射成像)和 CT (Computed Tomography,计算机 断层成像)技术是医学和工业领域常用的射线无损检测技术。现有的射线无损检测系统往往性能单一，主要针对某一类工件或缺陷进行检测，其性能指标如反差灵敏度、空间分辨率、穿透能力和长期稳定性等，多是单项突出而难于兼顾。根据所使用的射线源不同，射线无损检测系统分为高能系统和中低能系统。高能系统通常采用X射线加速器作为射线源，中低能系统通常采用X光机或放射性同位素作为射线源。对于不同的射线源，由于射线能量不同，强度不同，靶点尺寸不同，输出稳定性不同，造成所适用的检测工件厚度范围、缺陷分辨能力等检测指标也不同。另一方面，用于辐射成像的探测器也有多种，其探测效率、探测灵敏度、像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种组合式射线无损检测方法，该方法利用射线对待检测工件进行照射，利用探测器接收穿过工件的射线，并转换成数字信号，然后通过对所述信号进行处理，得到工件的辐射图像，其特征在于：？射线源采用包含g射线源和X射线源的组合式射线源，探测器采用包含固体线阵探测器、气体线阵探测器和面阵探测器的组合式探测器，通过切换不同的射线源和探测器组成不同的检测单元，实现对工件的DR扫描成像或断层CT成像或锥束CT成像；？所述组合式射线源和组合式探测器，以及装卡工件的工件转台均安装固定在同一刚性基座上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴志芳，安继刚，刘锡明，王立强，张颜民，丛鹏，黄毅斌，裘伟东，郑健，刘金汇，王振涛，谈春明，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：