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本发明公开了一种组合式射线无损检测方法及系统，该方法及系统将g射线源和X射线源与固体线阵探测器、气体线阵探测器及面阵探测器分别借助射线源支架和探测器支架集成在一个刚性基座上，通过不同射线源与不同探测器的组合，分别进行DR扫描成像和断层或锥束...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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