继电器衔铁行程检测装置，包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表，支架垂直竖立在底板上，磁路托块放在底板上，百分表安装在支架上，所述百分表测量头与磁路托块上表面垂直，所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽，所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。利用电磁继电器中的衔铁在磁场作用下，衔铁的头端与铁芯吸合时，衔铁的尾端会抬起，其抬起的高度与衔铁头端与铁芯相吸合的距离相对应，即抬起的高度与衔铁与铁芯吸合行程相对应，这种检测衔铁动作的行程，检测直观快速，适合生产线上快速挑选行程合格的衔铁，剔除不合格衔铁在生产线上装配使用，以提高继电器的质量和可靠性。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种行程的检测装置，特别是用于检验继电器衔铁行程的检测装置。
技术介绍
电磁继电器中衔铁行程的大小影响继电器吸合或释放的性能。电磁继电器磁路在组装过程中，由于各零件存在着公差，以及各个装配模具的差异，磁路组装后，衔铁行程误差无法检测。目前仍没有专门检测衔铁行程大小的检测仪器，从而影响继电器的技术性能。CN202041140U提出一种检测继电器衔铁超行程的塞规，通过插入衔铁与铁芯之间的第一塞片检测衔铁超行程的下限值，然后使第一塞片和第二塞片同时插到衔铁与铁芯之间， 检测衔铁超行程的上限值，此方检测到的只是数值范围，无法得到精确值，再是塞规的厚度是一定的，同时塞进ニ块塞规，并不一定是超行程的上限值，上限值可能大于或小于塞规的2倍，因此塞规方法解决不了继电器衔铁行程测验实质问题。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对上述技术现状，设计ー种电磁继电器衔铁行程的检测装置，用于电磁继电器生产过程中挑选衔铁行程合格的产品，以达到提高电磁继电器的合格率、可靠性和生产效率。本技术采用的技术解决方案为继电器衔铁行程检测装置，它包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表，支架垂直竖立在底板上，磁路托块放在底板上，百分表安装在支架上，所述的百分表測量头与磁路托块上表面垂直，所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽，所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。本技术利用电磁继电器中的衔铁在磁场作用下，衔铁的头端与铁芯吸合吋，衔铁的尾端会抬起，其抬起的闻度与衔铁头端与铁芯相吸合的距尚相对应，即抬起的闻度与衔铁与铁芯吸合行程相对应，这种检测衔铁动作的行程，检测直观快速，适合生产线上快速挑选行程合格的衔铁，剔除不合格衔铁在生产线上装配使用，以提高继电器的质量和可靠性。附图说明图I为本技术立体结构图，其中图Ia为图I的A部放大图。图2为磁路末闭合状态测量示意图，其中图2a为图2的B部放大图。图3为磁路闭合状态测量示意图，其中图3a为图3的C部放大图。具体实施方式以下结合附图对本技术实施例作进ー步说明。參看图I所示，衔铁行程检测装置包括百分表I、支架2、磁路托架7、底板8和靠板9，百分表的表杆垂直穿过表盘与支撑横杆3垂直固定，支架2的上端与支撑横杆3垂直连接，支架2的下端与水平的底板8垂直固定，底板8上放置磁路托架7，底板8的一侧设侧面靠板9，所述底板8为长方体，磁路托架7为正立方体，立方体的表面粗糙度为O. 8，立方体的上下表面平行度为I μ m，侧面垂直度为I. 5 μ m，所述靠板9与磁路托架7的接触面的粗糙度为O. 8，垂直度为I. 5 μ m，以提高測量精和可靠性。參看图Ia所示，磁路托架7中间设纵向水平槽15，水平槽下为圆弧拱形腔16，磁路托架7的上表面的前侧设ニ条与所述水平槽15相垂直的卡槽19。所述的水平槽15和圆弧拱形腔16相连通用来放置继电器的磁路组件，如图la、图2 a、图3 a所示，磁路组件的轭铁6头端放置在水平槽15上，L形轭铁6的头端宽度比水平槽15宽，因此是搁在水平槽15上，而L形轭铁6的尾端宽度比水平槽15宽度小，由此L形轭铁6的尾部伸进圆弧拱形腔16内，并用水平槽的两边夹紧，设在磁路托架7前侧面上二相平行的卡槽19与轭铁6头端底面的凸块13相对应卡扣住，使摘放在底板8上的磁路托块7的如后左右都被夹住卡紧，在受到测量头4向下移压时，不上下左右位移，以使测量数值精确可靠。衔铁5的尾部设凸包14搭在轭铁6的头端，百分表测量头4与衔铁5尾部的凸包14对准，通过移动磁路 托架7沿侧面靠板9移动调整測量点与测量头4相对准。參看图2和图2a所示，当继电器轭铁6和衔铁5放入磁路托块7中间的水平槽15中夹紧，在磁路托块7中间的圆弧拱形腔16内末放磁铁20吋，磁路组件中的衔铁5头部未与铁芯12吸合，衔铁5尾部与轭铁6头部相贴紧，百分表测量头4测得的值为起始值，若按清零按钮11清零则为零值。參看图3和图3a所示，若在磁路托块7的中间圆弧拱形腔16内放进磁铁20，磁路组件中的衔铁5尾部与铁芯12吸合，相当于线圈通电使衔铁5头部与铁芯12吸合，衔铁5尾部翘起脱离轭铁6头部，百分表测量头4被抬高的值由数码显示器10显示，即为衔铁5动作行程值。多次测量误差在0.1 μ m。检测ー个样品时间不超过I秒钟，达到快速、准确、直观的效果。以下结合图2和图3简述利用本技术检测继电器衔铁行程的方法。a、根据轭铁6尾部的宽度值调节磁路托块7中间的水平槽15的宽度，使轭铁6尾部宽度值稍大于磁路托块7中间水平槽15宽度，以便继电器磁路部分可以顺利放入。将被测继电器轭铁和衔铁放置于磁路托块7的圆弧拱形腔16内，使轭铁6下表面上的4个凸块13正好卡在磁路托块7上表面的横向卡槽19内，使轭铁6内表面与磁路托块7的上表面贴平并且托住。b、在未将磁铁20放入磁路托块7内时,衔铁5与铁芯12处于未吸合状态,此时用杠杆百分表I伸出的测量头4压紧衔铁5的尾部的上表面，使衔铁5尾部凸包14接触轭铁6的上表面，并按动杠杆百分表I上的清零按钮11将数值清零。C、将磁铁20放入磁路托块7的圆弧拱形腔16中，使之产生磁场，衔铁5与铁芯12因磁场关系处于吸合状态，再将杠杆百分表I伸出的测量头4压在衔铁5的尾部，此时数码显示器10的显示值为继电器衔铁的行程。权利要求1.继电器衔铁行程检测装置，其特征在于包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表，支架垂直竖立在底板上，磁路托块放在底板上，百分表安装在支架上，所述的百分表测量头与磁路托块上表面垂直，所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽，所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。2.根据权利要求I所述的继电器衔铁行程检测装置，其特征是所述磁路托块(7)中间设纵向水平槽(15)，所述纵向水平槽(15)下为圆弧拱形腔(16)。3.根据权利要求I所述的继电器衔铁行程检测装置，其特征是所述磁路托块(7)的上表面前侧设ニ条与所述水平槽(15)相垂直的水平卡槽(19)。4.根据权利要求I所述的继电器衔铁行程检测装置，其特征是所述底板(8)为长方体，磁路托块(7)为正立方体，立方体的表面粗糙度为O. 8，立方体的上下表面的平行度为I μ m,侧面垂直度为I. 5 μ mo专利摘要继电器衔铁行程检测装置，包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表，支架垂直竖立在底板上，磁路托块放在底板上，百分表安装在支架上，所述百分表测量头与磁路托块上表面垂直，所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽，所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。利用电磁继电器中的衔铁在磁场作用下，衔铁的头端与铁芯吸合时，衔铁的尾端会抬起，其抬起的高度与衔铁头端与铁芯相吸合的距离相对应，即抬起的高度与衔铁与铁芯吸合行程相对应，这种检测衔铁动作的行程，检测直观快速，适合生产线上快速挑选行程合格的衔铁，剔除不合格衔铁在生产线上装配使用，以提高继电器的质量和可靠性。文档编号G01B5/02GK202511732SQ20122000426公开日2012年10月31日 申请日期2012年1月6日 优先权日2012年1月6日专利技术者华国平, 唐峰, 张立军 申请人:宁波金海电子有本文档来自技高网...
【技术保护点】
继电器衔铁行程检测装置，其特征在于包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表，支架垂直竖立在底板上，磁路托块放在底板上，百分表安装在支架上，所述的百分表测量头与磁路托块上表面垂直，所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽，所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张立军，唐峰，华国平，
申请(专利权)人：宁波金海电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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