电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法技术

本发明专利技术涉及一种电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，包括以下步骤：建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V0i)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f(V0i)＝Vs；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi)；以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’i)，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值(V’i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触摸轨迹检测方法，尤其涉及一种基于多点。
技术介绍
近年来，随着触摸式电子设备如带有触摸屏的手机、平板电脑等的使用越来越普及，触摸检测技术也不断发展，通过触摸屏进行输入极大的提高了使用者的体验感。然而目前的触控检测技术皆是检测何处被按压或碰触，接着执行动作，但是对于需要体现笔触的应用则无法通过现行的检测方式来表现，也无法对触摸的压力进行区别。例如，传统的手写输入装置大多记录手写笔或触摸物在触摸屏的触摸轨迹，然后通过手写识别系统对触摸轨迹进行识别，并根据预先的设定显示对应字型的文字。这种文字的检测识别方式无法体现使用者的个人字迹风格。另外，现有技术中的手写方式为通过检测笔迹中触摸点的位置坐标，并根据位置坐标来对应显示该笔迹，然而，该种检测方式无法检测使用者笔触以及力度的大小，从而也无法实现传统书法中的“点、横、竖、钩、挑、长撇、短撇、捺”等笔法，在电子亲笔签名以及绘画等功能受到了限制。
技术实现思路
有鉴于此，确有必要提供一种可以体现笔触和压力的基于。一种电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，包括以下步骤建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(Vtli)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f (Vtli) = Vs ;接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi);以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’ i)，即f(Vi) = V i，通过校准后信号强度值(V’ i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。相较于现有技术，本专利技术不仅检测触摸轨迹中触摸点的位置坐标，还同时检测触摸点的信号强度值，并建立该信号强度值与该触摸点触摸面积之间的关系，即用触摸点的信号强度值来表示触摸点的触摸面积，使相同面积的触摸点具有相同的信号强度值，不同面积的触摸点具有不同的信号强度值，从而实现了不同笔触以及压力的触摸检测。可广泛应用于电子签名以及电子绘画，提高了使用者的体验感。附图说明图I为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法的流程图。图2为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中所适用的电阻式触摸屏的俯视结构示意图。图3为图2电阻式触摸屏主体单元的侧视结构示意图。图4为图2电阻式触摸屏中第一导电层以及第二导电层空间示意图。图5为本专利技术实施例碳纳米管膜的透射电镜照片。图6为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏相同接触面积不同位置触摸点的信号强度值示意图。 图7为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏不同接触面积且相同触摸位置的触摸点的信号强度值示意图。图8为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积Atl触摸点的实际信号强度值(Vtlix)校准为标准信号强度值(Vsx)的具体过程示意图。图9为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积Atl触摸点的实际信号强度值(Vtliy)校准为标准信号强度值(Vsy)的具体过程示意图。图10为本专利技术实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中的触摸轨迹示意图。图11为图10中触摸轨迹中的某一触摸点B处的实际信号强度值校准过程示意图。主要元件符号说明电阻式触摸屏10主体单元102控制单元104第一电极板12第一基体120第一导电层122第一电极124第二电极板14第二基体140第二导电层142第二电极144绝缘层18如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施例方式以下将结合附图详细说明本专利技术实施例触摸轨迹的检测方法。请参阅图1，本专利技术实施例提供一种电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法，包括如下步骤SI，建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(Vtli)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足MVtli) = Vs ；S2，接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；S3，判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi);以及S4，从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’ i)，即f(Vi) = V’ i，通过校准后信号强度值(T i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。本专利技术所述触摸轨迹的检测方法可适用于电阻式触摸屏，该电阻式触摸屏可具有如下所述的结构。请一并参阅图2、图3以及图4，该电阻式触摸屏10包括主体单元102以及控制单兀104。其中，该主体单兀102包括一第一电极板12,—第二电极板14以及设置在该第一电极板12以及与第二电极板之间的多个透明点状隔离物16。该第一电极板12包括一第一基体120,—第一导电层122以及多个第一电极124。该第一基体120为平面结构,该第一导电层122与多个第一电极124均设置在第一基体120 靠近所述点状隔离物16的表面。该多个第一电极124分别设置在第一导电层122沿第一方向的至少一端并分别与第一导电层122电连接。该第二电极板14包括一第二基体140，一第二导电层142以及多个第二电极144。该第二基体140为平面结构，该第二导电层142与多个第二电极144均设置在第二基体140靠近所述点状隔离物16的表面。该多个第二电极144分别设置在第二导电层142沿第二方向的至少一端并分别与第二导电层142电连接。该第一方向垂直于该第二方向，即多个该第一电极124与多个该第二电极144正交设置。本专利技术实施例中定义该第一方向为X方向，第二方向为y方向。进一步地，在所述触摸屏10中，该第二电极板14靠近第一电极板12的表面外围可以设置有一绝缘层18，该绝缘层18可以使该第一导电层122以及该第二导电层142在无触摸时间隔而实现电绝缘。所述第一导电层122以及第二导电层142可为一透明的导电异向性膜。具体地，该导电异向性膜在一个方向上的电导率远大于其他方向的电导率。当应用于该第一导电层122时,该最大电导率的方向为所述第一方向。当应用于该第二导电层142时,该最大电导率的方向为所述第二方向。该导电异向性膜可以一碳纳米管膜。该碳纳米管膜包括多个碳纳米管，该多个碳纳米管基本上沿相同方向定向延伸，从而使该碳纳米管膜在该多个碳纳米管的延伸方向上具有远大于其他方向的电导率。该碳纳米管膜可通过从一碳纳米管阵列中拉取形成。所述从碳纳米管阵列中拉取形成的碳纳米管膜中大多数碳纳米管的整体延伸方向基本朝同一方向且平行于该碳纳米管膜的表面。并且，所述从碳纳米管阵列中拉取获得的碳纳米管膜中，基本朝同一方向延伸的大多数碳纳米管中每一碳纳米管与在延伸方向上相邻的碳纳米管通过范德华力(van der waal’s force)首尾相连,从而使该碳纳米管膜能够实现自支撑。所述自支撑指碳纳米管膜不需要大面积的载体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，包括以下步骤：建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V0i)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f(V0i)＝Vs；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi)；以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’i)，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值(V’i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：施博盛，郑建勇，
申请(专利权)人：识骅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：