检测装置制造方法及图纸

技术编号:7896267 阅读:134 留言:0更新日期:2012-10-23 03:12
一种检测装置,用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的距离是否合格,该工件沿该第一轴线设两第一通孔,沿该第二轴线设一第二通孔,该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件,该第一定位件可卡置于其中的一第一通孔,该第二定位件可滑动地卡置于该工件的另一第一通孔,该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离,当工件的第一、第二轴线之间的距离合格时,该测量件可穿过该第二通孔,当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时,该测量件无法穿过该第二通孔。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置,特别涉及一种适用于检测工件的孔轴线垂直距离的检测装置。
技术介绍
工件通常会采用冲孔、铸造及注塑及机加等工艺生成许多通孔。有些工件上沿第一轴线设若干第一通孔及沿垂直第一轴线的第二轴线设若干第二通孔。第一与第二轴线之间的垂直距离需满足一定的尺寸要求。现有的测量方法一般使用三次元检测或在检测室中投影进行检测该距离。但此两种检测方法检测成本高、效率低,且不能满足大批量生产检测的需求。
技术实现思路
鉴于以上,有必要提供一种成本低且检测效率高的检测装置。一种检测装置,用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的垂直距离是否合格,该工件沿该第一轴线设两第一通孔,沿该第二轴线设一第二通孔,该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件,该第一定位件可卡置于该工件的一第一通孔,该第二定位件可相对滑动地卡置于该工件的另一第一通孔,该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离,当该工件的第一、第二轴线之间的距离合格时,该测量件可穿过该工件的第二通孔内,当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时,该测量件无法穿过该工件的第二通孔。本专利技术检测装置通过判断测量件是否可插入该工件的第二通孔内来检测工件的两轴线的垂直距离是否合格,操作快速准确,且该检测装置制造成本及工件的检测成本都很低。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图I是本专利技术检测装置的较佳实施方式与一工件的立体分解图。图2是图I的检测装置的立体组装图。图3是图I的检测装置与工件的立体组装图。图4至图6分别为图3在三种状态下的局部剖视图。主要元件符号说明 _支撑架 |20支撑板 22_ '第一固定块54第二固定块26_ 容置槽 |2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置,用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的垂直距离是否合格,该工件沿该第一轴线设两第一通孔,沿该第二轴线设一第二通孔,该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件,该第一定位件可卡置于该工件的一第一通孔,该第二定位件可相对滑动地卡置于该工件的另一第一通孔,该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离,当该工件的第一、第二轴线之间的距离合格时,该测量件可穿过该工件的第二通孔内,当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时,该测量件无法穿过该工件的第二通孔。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置,用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的垂直距离是否合格,该工件沿该第一轴线设两第一通孔,沿该第二轴线设一第二通孔,该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件,该第一定位件可卡置于该工件的一第一通孔,该第二定位件可相对滑动地卡置于该工件的另一第一通孔,该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离,当该工件的第一、第二轴线之间的距离合格时,该测量件可穿过该工件的第二通孔内,当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时,该测量件无法穿过该工件的第二通孔。2.如权利要求I所述的检测装置,其特征在于该支撑架包括一支撑板,该支撑板沿该第一轴线相间隔地突设一第一固定块及一第二固定块,该第一定位件可滑动地装设于该第一固定块,该第二定位件可滑动地装设于该第二固定块。3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于该第一固定块及第二固定块相对地沿该第一轴线的方向各开设一纵截面呈长圆形的定位孔,该第一定位件及第二定位件可纵向滑动地装设于该两定位孔。4.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于该支撑板开设一可收容该测量件的第二定位孔,该测量件可滑动地装设于该第二定位孔。5.如权利要求4所述的检测装置,其特征在于该第二定...

【专利技术属性】
技术研发人员:张秉君
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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