一种壁厚测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测量装置，尤其涉及一种壁厚测量装置。本实用新型专利技术提供了一种壁厚测量装置，包括工作台，所述工作台上设有支架，所述支架包括分叉状的第一顶杆和第二顶杆，所述第二顶杆连接有螺旋测微器，所述螺旋测微器包括测微螺杆，所述第一顶杆上设有与所述测微螺杆相对应的小砧。本实用新型专利技术的有益效果是：可通过第一顶杆将待测量产品顶起，并通过第一顶杆与螺旋测微器相配合，以测量出待测量产品的壁厚，在操作上较为方便，并且方便测量同一待测量产品的多处壁厚。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量装置，尤其涉及一种壁厚測量装置。
技术介绍
传统的壁厚測量主要是测量者手持螺旋测微器进行测量，在操作上较不方便，并且，对于ー些筒状类的薄壁产品(例如塑料盒子、塑料盖子或塑料箱子)，还需要測量其壁厚的均匀性，即需要测量该薄壁产品的多个位置的壁厚，因此，采用现有的螺旋测微器来測量薄壁产品的壁厚的測量效率较低。
技术实现思路
为了解决现有技术中的问题，本技术提供了ー种。本技术提供了一种壁厚測量装置，包括工作台，所述工作台上设有支架，所述支架包括分叉状的第一顶杆和第二顶杆，所述第二顶杆连接有螺旋测微器，所述螺旋测微器包括测微螺杆，所述第一顶杆上设有与所述测微螺杆相对应的小砧。作为本技术的进ー步改进，所述工作台旋转连接有转盘。作为本技术的进ー步改进，所述转盘与所述工作台之间设有倾斜角度调节机构。作为本技术的进ー步改进，所述工作台上设有测角仪滑台。作为本技术的进ー步改进，所述支架为U形状。作为本技术的进ー步改进，所述支架与所述工作台通过调节螺栓连接。本技术的有益效果是通过上述方案，可通过第一顶杆将待測量产品顶起，并通过第一顶杆与螺旋测微器相配合，以测量出待测量产品的壁厚，在操作上较为方便，并且方便測量同一待测量产品的多处壁厚。附图说明图I是本技术ー种壁厚测量装置的结构示意图。具体实施方式以下结合附图说明及具体实施方式对本技术进ー步说明。图I中的附图标号为螺旋测微器I ;支架2 ;调节螺栓3 ;工作台4 ;倾斜角度调节机构5 ;转盘6 ;待测量产品7。如图I所示,ー种壁厚测量装置,包括工作台4,所述工作台4上设有支架2,所述支架2包括分叉状的第一顶杆和第二顶杆，所述第二顶杆连接有螺旋测微器1，所述螺旋测微器I包括测微螺杆，所述第一顶杆上设有与所述测微螺杆相对应的小砧，其中，小砧是螺旋测微器I (又称千分尺)上的部件，接触被测物体与测微螺杆相对的一端。。如图I所示，所述工作台4旋转连接有转盘6，可通过旋转所述转盘6来旋转待测量产品7，进而测量待测量产品7不同位置的壁厚，以达到測量待测量产品7壁度的均匀性的目的。如图I所示，所述转盘与4所述工作台之间设有倾斜角度调节机构5。如图I所示，所述工作台4上设有测角仪滑台。如图I所示，所述支架2为U形状。如图I所示，所述支架2与所述工作台4通过调节螺栓3连接，用于调节所述螺旋测微器I的高度。本技术提供的一种壁厚測量装置，可通过第一顶杆将待测量产品7顶起，并通过第一顶杆与螺旋测微器I相配合，以测量出待测量产品7的壁厚，在操作上较为方便， 并且方便測量同一待测量产品7的多处壁厚。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进ー步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种壁厚測量装置，其特征在于包括工作台，所述工作台上设有支架，所述支架包括分叉状的第一顶杆和第二顶杆，所述第二顶杆连接有螺旋测微器，所述螺旋测微器包括测微螺杆，所述第一顶杆上设有与所述测微螺杆相对应的小砧。2.根据权利要求I所述的壁厚測量装置，其特征在于所述工作台旋转连接有转盘。3.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑珏斌，
申请(专利权)人：森骏卓越精密模具深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：