一种扫描切片测试数据编码方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术给出了一种扫描切片测试数据编码方法及装置。所述方法中利用了两个参考切片，所述方法包括：分析当前扫描切片与第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析下一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片；对所述第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值；根据所述当前扫描切片的相容性分析结果和所述用于分析下一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片对所述扫描切片进行编码。本发明专利技术提出包含移位相容的扫描切片编码方案,提高了扫描切片编码效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试领域，特别涉及一种扫描切片测试数据编码方法及装置。
技术介绍
随着集成电路设计规模的增大，测试数据量呈指数级增长，这导致了传统外部ATE(Automatic Test Equipment,自动测试设备)面临着存储空间不足、IO (Input Output,输入输出)带宽有限以及测试时间过长等严峻的问题，测试成本越来越高。测试数据编码是解决上述问题的有效方法之一，对于包含多条扫描链的待测电路，使用广播式扫描方法并行将输入数据广播至不同扫描中，能够有效减少数据传输时间、以及降低对ATE存储容量的要求。测试数据中通常包含大量的无关位(X-bit)，这些无关位可以被任意赋值为O或I而不会影响故障覆盖率。因此选取适当的机制并结合相应的无关位填充策略，能够有效提高数据编码效率。现有技术中有一种DURS(Dynamic Updating Reference Slices,动态更新扫描切片的数据编码方法)。DURS方案使用三个参考切片并利用各扫描切片与参考切片的相容性关系进行编码。在解码电路中通过一个FSM (Finite Status Machine，有限状态机)对输入数据进行解码，进而配置多路选择器以选通⑶T (Circuit Under Test，待测电路)的扫描切片与所对应的参考切片的通路。DURS方案的主要缺点是，当扫描切片与三个参考切片均不相容时，码字不能实现编码效果，同时需要将该切片的数值依次注入至参考切片中来完成更新，因而对无相容性的参考切片的解码消耗时间比较长，而且由三个参考切片以及3选I的多路选择器所引入的硬件资源开销较高。可见现有技术对数据的挖掘不足，编码效率还有提升的空间。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术的目的在于提供一种扫描切片测试数据编码方法以及一种扫描切片测试数据编码装置。在第一方面，本专利技术实施例提供一种扫描切片测试数据编码方法，所述方法利用了对所述扫描切片进行相容性分析的第一参考切片和第二参考切片，所述方法包括步骤从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一参考切片直接相容、与第二参考切片直接相容、与第一参考切片移位相容、与第二参考切片移位相容以及与第一参考切片和第二参考切片都不相容，其中，所述直接相容的类型包括直接相等和直接互补，移位相容的类型包括移位相等和移位互补；待所述所有分析扫描切片的相容性关系和生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片的过程结束后，从倒数第二个扫描切片开始，依次根据所述当前扫描切片相容性分析结果，以及用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片，对所述用于分析当前扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片中的无关位进行回溯赋值；待所述对所有參考切片中的无关位回溯赋值过程结束后，根据所述当前扫描切片的相容性分析结果，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片对当前扫描切片进行编码；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征所述不相容性的比特以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二參考切片直接相客，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述直接相容的类型的比特组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二參考切片移位相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述移位相容类型的比特，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一/第二參考切片的第一位组成。 在第二方面，本专利技术实施例提供一种扫描切片测试数据编码装置，所述装置包括參考切片生成単元，用于从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一參考切片或者第二參考切片的相容性关系，井根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片和第二參考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一參考切片直接相容、与第二參考切片直接相容、与第一參考切片移位相容、与第二參考切片移位相容以及与第一參考切片和第二參考切片都不相容，其中，所述直接相容的类型包括直接相等和直接互补，移位相容的类型包括移位相等和移位互补；回溯赋值单元，用于待所述所有扫描切片的相容性关系分析和生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片和第二參考切片的过程结束后，从倒数第二个扫描切片开始，依次根据所述当前扫描切片相容性分析结果，以及用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片，对所述用于分析当前扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片中的无关位进行回溯赋值；编码单元，用于待对所有參考切片中的无关位回溯赋值过程结束后，根据所述当前扫描切片的相容性分析结果，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片或第二參考切片对当前扫描切片进行编码；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征所述不相容性的比特以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一參考切片组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二參考切片直接相客，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述直接相容的类型的比特组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二參考切片移位相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述移位相容类型的比持，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一/第二參考切片的第一位组成。本专利技术实施例提出基于扫描切片与两个參考切片相容性关系的扫描切片编码方案，提高了扫描切片编码效率。附图说明下面结合附图，对本专利技术的具体实施方案做进ー步的详细描述，附图中图I是本专利技术实施例的包含移位相容的扫描切片编码方案的应用场景图；图2为本专利技术实施例的扫描切片测试数据编码方案编码表；图3为本专利技术实施例的一种扫描切片测试数据编码方法流程图；图4为本专利技术实施例的一种扫描切片测试数据编码装置示意图。具体实施例方式现有测试数据编码方式中，对于与参考切片移位相容的扫描切片没有相应的编码方案，导致现有测试数据编码方式效率不高。为此，本专利技术实施例提出包含移位相容的扫描切片编码方案。 下面结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。图I是本专利技术实施例的包含移位相容的扫描切片编码方案的应用场景图。在图I中，测试数据编码装置100对测试数据中扫描切片进行编码。本场景图以参考切片I或者参考切片2为例，但这不能构成对本专利技术实施例的限制，也可以采用两个以上的参考切片。所述参考切片I、参考切片2分别存储于移位寄存器RS1、RS2中。测试数据编码装置100将测试数据中的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫描切片测试数据编码方法，所述方法利用了对所述扫描切片进行相容性关系分析的第一参考切片和第二参考切片，其特征在于，所述方法包括步骤 从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据当前扫描切片与所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一参考切片直接相容、与第二参考切片直接相容、与第一参考切片移位相容、与第二参考切片移位相容以及与第一参考切片和第二参考切片都不相容，其中，所述直接相容的类型包括直接相等和直接互补，移位相容的类型包括移位相等和移位互补； 从倒数第二个扫描切片开始，依次根据所述当前扫描切片相容性分析结果，以及用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片，对所述用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值； 根据所述当前扫描切片的相容性分析结果，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片对当前扫描切片进行编码；如果所述当前扫描切片的 相容性分析结果为不相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征相容性分析结果的比特以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片直接相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特和用于表征所述直接相容的类型的比特组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片移位相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述移位相容类型的比特，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一/第二参考切片的第一位组成。2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片直接相容，那么所述生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一和第二参考切片具体包括如果当前扫描切片与所述第一 /第二参考切片直接相等，则利用当前扫描切片与第一/第二参考切片进行求交运算后的结果作为用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一 /第二参考切片，用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二 /第一参考切片与用于分析当前扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片相等；如果当前扫描切片与所述第一 /第二参考切片直接互补，则利用对扫描切片求反后的值与第一 /第二参考切片进行求交运算后的结果作为用于分析后一个扫描切片相容性的第一/第二参考切片，用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片与用于分析当前扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片相等。3.如权利要求I所述的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片移位相容，那么所述生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一和第二参考切片具体包括如果当前扫描切片与所述第一 /第二参考切片移位相等，则利用当前扫描切片与移位后的第一参考切片/移位后的第二参考切片进行求交运算后的结果作为用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一 /第二参考切片，用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片与用于分析当前扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片相等；如果当前扫描切片与所述第一 /第二参考切片移位互补，则利用对扫描切 片求反后的值与移位后的第一参考切片/移位后的第二参考切片进行求交运算后的结果作为用于分析后一个扫描切片相容性的第一 /第二参考切片，用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片与用于分析当前扫描切片相容性关系的第二/第一参考切片相等。4.如权利要求I所述的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，那么所述生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一和第二参考切片具体包括用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片与当前扫描切片相等，用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二参考切片与用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片相等。5.如权利要求1-4之一的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片直接相容，那么所述对用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值具体包括用于分析所述当前扫描切片的第一/第二参考切片与所述用于分析后一个扫描切片的第一/第二参考切片相等。6.如权利要求1-4之一的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为与第一 /第二参考切片移位相容，那么所述对用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值具体包括用于分析所述当前扫描切片的第一 /第二参考切片除最后一位不变外，其余从第一位至倒数第二位依次对应等于用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一/第二参考切片的第二位至最后一位。7.如权利要求1-4之一的方法，其特征在于，如果当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，那么所述对用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值具体包括用于分析所述当前扫描切片的第一参考切片与用于分析后一个扫描切片相容性关系的第二参考切片相等。8.一种扫描切片测试数据编码装置，其特征在于，所述装置包括 参考切片生成单元，用于从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一参考切片直接相容、与第二参考切片直接相容、与第一参考切片移位相容、与第二参考切片移位相容以及与第一参考切片和第二参考切片都不相容，其中，所述直接...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴殿丞，朱浩，王东辉，洪缨，候朝焕，
申请(专利权)人：中国科学院声学研究所，
类型：发明
国别省市：