主板测试系统及其测试治具技术方案

技术编号:7809324 阅读:180 留言:0更新日期:2012-09-27 08:07
一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。本发明专利技术实现了方便快捷地对所述主板进行测试。本发明专利技术还包括一种应用所述测试治具的主板测试系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种主板测试系统及其测试治具
技术介绍
随着服务器的主板尺寸越来越小,为了节省空间,很多主板在设计上放弃了使用传统的PCIE插槽,而使用更为迷你的连接器,但是在对主板的测试过程中需要用到带有PCIE连接器的显卡、网卡等来插接到主板内,而没有PCIE插槽的主板在测试方面给测试机开发人员造成了很大的困扰。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种主板测试系统及其测试治具,以方便快捷地对所 述主板进行测试。一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一 PCIE连接端口、一 PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。一种主板测试系统,包括一主板及一测试治具,所述主板包括一 PCIE信号端口,所述测试治具包括一板体、一 PCIE连接端口、一 PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。本专利技术主板测试系统通过所述测试治具的PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口,从而将所述主板的PCIE信号端口连接至所述PCIE插槽,当对所述主板进行测试时将所述外界卡插入所述PCIE插槽内即可,方便快捷。附图说明下面结合附图及较佳实施方式对本专利技术作进一步详细描述 图I是本专利技术主板测试系统的较佳实施方式的示意图。主要元件符号说明 _板体110 PCIE连接端口PCIE插槽i电源模组 11 及电流保护电落—50~软排线_60_测试治具_100主板|200PCIE信号端口|220主板测试系统|300 如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施例方式请参考图I,本专利技术主板测试系统300的较佳实施方式包括一主板200及一测试治具100。所述主板200包括一 PCIE信号端口 220。所述测试治具100连接至所述PCIE信号端口 220来对所述主板200进行测试。所述测试治具100包括一板体10、一 PCIE连接端口 20、一 PCIE插槽30、一电源模组40及一稳压及电流保护电路50。所述电源模组40连接至所述PCIE插槽30及所述稳压及电流保护电路50以给所述PCIE插槽30及所述稳压及电流保护电路50提供电压。所述 PCIE连接端口 20通过一软排线60连接至所述PCIE信号端口。所述PCIE插槽30连接至所述PCIE连接端口以与所述PCIE信号端口 220通信。所述稳压及电流保护电路50连接至所述PCIE插槽30以对所述PCIE插槽30进行稳压及电路保护。由于所述稳压及电流保护电路50属于现有技术,所述稳压及电流保护电路50的具体的电路结构在此不再赘述。 当对所述主板200进行测试时,需要将一外接卡如一显卡(未示出)插入所述PCIE插槽30内,启动所述主板200。所述主板200的PCIE信号端口 220通过所述PCIE信号端口 220与所述测试治具100的PCIE插槽30上的显卡通信。通过连接至所述主板200的显示器(未示出)便可直观得到所述主板200的性能参数。在本实施方式中,所述稳压及电流保护电路50是用于对所述PCIE插槽30进行稳压及电流保护。在其他实施方式中,在所述PCIE插槽30的电压及电流稳定的条件下,所述稳压及电路保护电路50可以省略。所述主板测试系统300通过所述测试治具100的PCIE连接端口 20连接至所述主板200的PCIE信号端口 220,从而将所述主板200的PCIE信号端口 220连接至所述PCIE插槽30,当所述显卡插入所述PCIE插槽30内即可对所述主板200进行测试,方便快捷。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端ロ来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一 PCIE连接端ロ、一 PCIE插槽及ー电源模组,所述PCIE连接端ロ用于连接至所述主板的PCIE信号端ロ,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端ロ以与所述主板上的PCIE信号端ロ通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。2.如权利要求I所述的测试治具,其特征在于所述测试治具还包括一稳压及电流保护电路,所述电源模组连接至所述稳压及电流保护电路以给所述稳压及电流保护电路提供电压,所述稳压及电流保护电路连接至所述PCIE插槽以对所述PCIE插槽进行稳压及电路保护。3.—种主板测试系统,包括一主板及ー测试治具,所述主板包...

【专利技术属性】
技术研发人员:张万宏
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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