一种用于电缆网络的导通绝缘测试方法技术

技术编号:7785290 阅读:404 留言:0更新日期:2012-09-21 05:26
本发明专利技术公开了一种用于电缆网络的导通绝缘测试方法,可实现对电缆网络的导通测试和绝缘测试。在导通测试中,将被测电缆网络一个或多个终端的接插件接点全部短接,将其余终端上的接插件转接至转接盒;将转接盒的公共端短接,并将与并接接插件接点相连的测试端闭合;确定基准点阻值;选择被测接插件接点,利用万用表测量与被测接插件接点与基准点的测试阻值;利用测试阻值获得被测接插件信号接点的实际阻值判断导通状态。在绝缘测试中,将被测电缆网络中一个或多个终端的接插件连接至转接盒的测试端;将转接盒的公共端全部短接,并将测试端与对应的公共端闭合;利用兆欧表对测试端进行绝缘检查。采用本发明专利技术简化了对电缆网络的导通绝缘测试流程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种用于电缆网络的导通绝缘测试方法
技术介绍
大型系统工程如航空、航天、建筑、电气工程等领域复杂多样的电缆网系统为硬件设备的互联提供供电及信号传输通路,为了保证供电及信号的安全可靠性,使用前需要对整个电缆网进行检查。传统的导通测试方法,不仅不能实现长传输电缆网的导通测试,并且对于多点并接线还需要对线阻进行阻值的计算,且获得的计算结果与实际线阻存在误差,对于长线供 电电缆网来说,阻值精度要求严格,供电过程中,误差值可能引起线压降过大,导致供电能力不足,对供电设备造成伤害。并且传统的测试方法对电缆网测试环境要求苛刻,导通不能实现远距离长线传输及单端的电缆网检查,绝缘测试需要逐一进行每个接插件上的每个接点对其余全部接点的单点对单点,单点对多点的绝缘检查,测试方法复杂并且占用测试时间较长。且传统测试方法的安全可靠性差,覆盖不全面,人力物力时间资源利用率低。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是针对现有技术的不足,提供了一种用于电缆的导通绝缘测试方法,简化了对电缆网络的导通绝缘测试流程。本专利技术的技术解决方案是在导通测试中(IA)将被测电缆网络中ー个或多个终端的接插件接点全部短接,将其余終端上的接插件与转接盒的测试端对应相连,所述转接盒包括测试端和公共端,所述测试端与所述公共端一一对应,并可通过开关控制测试端与公共端的连通;(IB)将所述转接盒的公共端进行短接,并将在所述电缆网络中的并接接插件接点 相连的测试端闭合,所述并接接插件接点用于在所述电缆网络中传输同一信号;(IC)选取转接盒中的测试端任一接点作为基准点,并利用万用表測量基准点的回路阻值,并确定基准点阻值;(ID)选择被测接插件信号接点,利用万用表測量与被测接插件相连的测试端信号接点与基准点的阻值作为测试阻值;(IE)将获得的测试阻值减去万用表测试的线路阻值及所述基准点阻值得到被测接插件的实际阻值,根据被测接插件信号接点的实际阻值确定被测接插件的导通状态;在绝缘测试中(2A)将被测电缆网络中ー个或多个终端的接插件对应连接至转接盒的测试端;(2B)将转接盒的公共端全部短接,并将转接盒上全部测试端与对应的公共端闭合;(2C)利用兆欧表对全部测试端进行绝缘检查。本专利技术与现有技术相比具有如下优点本专利技术通过对电缆网络进行导通和绝缘测试实现了对电缆网络的通路阻值和绝缘耐压性能的全面验证,并可 进ー步体现工程应用中电缆网络的可靠性能,同时大大減少了人力物カ时间资源利用问题。在导通测试中,采用远端接插件短接近端接插件并联的测试方法,解决了在复杂电缆及电缆网的导通测试,更适用于远程复杂电缆网测试,效果更加突出。并且与以往的电缆测试相比,本测试方法适用灵活,已达到测试流程的通用化及简便化。在绝缘测试中,采用近端短接ー对多,多对ー的测试方法,解决了多单点及多并点的电缆网测试覆盖性及繁琐问题,针对复杂接点电缆网测试更见成效。附图说明图I为本专利技术流程图,其中,图Ia为导通测试流程图,图Ib为绝缘测试流程图;图2为导通测试连接图;图3为绝缘测试连接图。具体实施例方式下面就结合附图对本专利技术做进ー步介绍。如图Ia为本专利技术导通测试流程图,过程如下步骤IA :将被测电缆网络按图2所示与转接盒进行连接,其中,电缆网络包括两个终端,将其中ー个终端的接插件接点全部短接,将另ー終端上的接插件与转接盒的测试端对应相连,所述转接盒包括测试端和公共端,在转接盒内部,测试端与所述公共端通过开关一一对应相连,利用开关控制测试端与公共端的连通。若对于卫星发射塔架复杂长线电缆网络,将塔架上电缆网络终端接插件使用全短路头全部短接,在发射塔架下电缆网络的η个终端接至转接盒上测试端。步骤IB :将上述转接盒的公共端利用短路头进行短接,同时将与在电缆网络中的传输同一信号的并接接插件相对应的测试端闭合。步骤IC :选取转接盒中的测试端任一接点作为基准点,利用万用表測量基准点的回路阻值作为基准点阻值。测试时,万用表选择“自动量程”欧姆档,使用负表笔任选转接盒测试端一点作为基准点,正表笔任选转接盒测试端一点作为基准点回路点进行基准点阻值测量。步骤ID :选择被测接插件,利用万用表測量与被测接插件相连的测试端接点与基准点的阻值作为测试阻值。将万用表负表笔插接在上述选取的基准点处不变,万用表正表笔放在并接接插件对应的测试端的任意一点测量电缆网络中在并接接插件中传输信号的阻值。步骤IE :将步骤ID中获得的测试阻值减去万用表测试的线路阻值及所述基准点阻值得到被测接插件信号接点的实际阻值,根据被测接插件信号接点的实际阻值确定被测接插件信号的导通状态。图Ib为本专利技术绝缘测试流程图,过程如下步骤2A :将被测电缆网络按图3所示将ー个终端的接插件对应连接至转接盒的测试端。对于发射塔架上的电缆网,可将卫星发射塔架上的电缆网络终端接至转接盒测试端,将转接盒公共端利用全短路头进行短接。步骤2B :将转接盒的公共端全部短接,并将转接盒上测试端与公共端间的控制开关全部闭合,连通对应的测试端和公共端。步骤2C :利用兆欧表对全部测试端进行绝缘检查。在绝缘检查中包括对接插件及接插件外壳间的绝缘检查以及并接接插件间的绝缘检查。在测试过程中对应的测试端如出现并接接插件接点,则兆欧表的绝缘指示为导通状态,直到并联接点全部断开,兆欧表指示才能显示为绝缘状态,如在测试过程中出现接插件黏连及断开状态,此测试方法都能够验证。确保电缆网的使用安全可靠性。测试时,利用兆欧表“250V”电压档,将兆欧表负表笔插接任意转接盒公共端接点处不变,兆欧表正表笔接至电缆网络中接插接壳上,测量电缆网全部接插件接 点对接插件壳体的绝缘性,观察兆欧表指示,指示为“⑴”,表示正常现象,没有信号与插件壳体短路。利用兆欧表正表笔接至转接盒测试端被测接点上,同时断开相应信号接点,兆欧表指针由导通状态自动回落至“⑴”,表示该信号绝缘正常,该测试信号与其余全部信号没有短路现象。传统的绝缘测试方法,只能将接插件上的接点进行一対一的绝缘测试,測量次数为(n-l) + (n-2)+……+ [n-(n-l)],其中,η为接插件接点数。数据量繁琐,并且不能体现电缆网络中并接接插件与其他接插件间的绝缘性,如果此时电缆网中中存在大量并接接点接插件,由于绝缘性差导致并联接点断开,此测试方法不能验证并联接点的完好性。上述绝缘测试方法采用近端短接ー对多,多对ー的测试,近端指在复杂难操作的电缆网络中,可以任意选择一端中相对易操作端进行绝缘测试,灵活性好。一对多指的是单ー传输信号通路与多路传输信号的绝缘测试,多对一指的是多路并接信号与单路信号的绝缘测试。因此,采用本专利技术减少了测试的繁琐性,测试次数小于等于η次,电缆网并接接点越多越复杂,测试越简单,測量次数越少,越节省时间。在大型系统电缆网中电缆根数成千上万,汇集的枝干复杂,終端接ロ接插件个数种类数量也是繁多,每个接插件的接点不同,对于ー个50芯接点全独立的接插件按照传统绝缘测试方法需要进行1250次测试,而采用本专利技术所述绝缘测试方法,只需要50次测试即可,进ー步的,如果50芯接插件中存在并接接插件,測量测试小于50次,并接接点越多,測量次数越少,同时可验证并接接插件在并接的情况下进行绝缘检查的并联完好性。本专利技术未详细说明部分属本领域技术人员公知常识本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电缆网络的导通绝缘测试方法,其特征在于包括以下步骤 在导通测试中 (IA)将被测电缆网络中一个或多个终端的接插件接点全部短接,将其余终端上的接插件与转接盒的测试端对应相连,所述转接盒包括测试端和公共端,所述测试端与所述公共端一一对应,并可通过开关控制测试端与公共端的连通; (IB)将所述转接盒的公共端进行短接,并将在所述电缆网络中的并接接插件接点相连的测试端闭合; (IC)选取转接盒中的测试端任一接点作为基准点,并利用万用表测量基准点的回路阻值,并确定基准点阻值...

【专利技术属性】
技术研发人员:訚梦楠刘波何晨王瑞宋世民
申请(专利权)人:北京空间飞行器总体设计部
类型:发明
国别省市:

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