【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，尤其是采用分光光度法测定碳素材料中Si含量的方法。
技术介绍
目前，测定碳素材料中Si含量的方法主要有重量法、可见分光光度法和ICP法等。 其中重量法操作复杂、费时，不利于快速分析；ICP法需要十分贵重的仪器，不利于推广应用；采用可见分光光度法测定碳素材料中的Si含量准确性高、操作简便，符合行业需求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种操作方法简单、准确性高的碳素材料中Si 含量的测定分析方法。为实现本专利技术的技术问题，具体的技术方案是，用无水碳酸钠或/和硼酸作熔剂，将碳素材料灼烧后的灰分进行熔融后，再用稀盐酸溶液浸取出试液，调节试液PH值后加入钼酸铵使硅形成硅钼杂多酸，在高酸度硫酸介质中经还原剂还原成硅钼蓝，用比色法分析确定Si含量。本专利技术的技术方案还在于还包括将碳素材料高温灰化步骤，称取适量经研磨的碳素材料平铺于瓷舟中，置于高温电阻炉由室温缓慢升至750 900°C，在该温度下灼烧1 3小时。本专利技术的技术方案还在于将经灰化的碳素材料装入钼坩埚中，加入适量无水碳酸钠或/和硼酸，搅拌均勻后在800 900°C熔融。本专利...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴玉华，金汉卿，
申请(专利权)人：湖南晟通科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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