本发明专利技术提供了一种FPGA控制设备的检测装置和方法，检测装置包括：内存网卡单元和FPGA，所述内存网卡单元包括内存和PHY；所述FPGA包括：分别对所述内存和所述PHY进行控制的内存控制器和MAC控制器，与所述内存控制器和所述MAC控制器分别连接的内存检测模块和MAC检测模块，以及分别与所述内存检测模块和所述MAC检测模块连接的结果汇总模块；检测方法以地址线走1、地址线走0、数据线走1、数据线走0的方式对所述内存进行检测，以单burst的方式对内存存储区块进行检测。本发明专利技术提供的FPGA控制设备的检测装置和方法可有效定位可能存在的硬件故障，验证各控制通路的正确性。
【技术实现步骤摘要】
一种FPGA控制设备的检测装置和方法
本专利技术属于信号检测
，具体涉及一种FPGA控制设备的检测装置和方法。技术背景在现在的网络通信中，一些设备的主芯片由FPGA来实现，FPGA的内部可集成MAC 控制器、DDR控制器和QDR控制器等功能处理部件，相应的，FPGA的周边一般有MAC接入、内存插槽、QDR存储颗粒等板载器件。当PCB板卡焊接好后，需要对这些内部和外部的功能部件进行正确性检测，以排除可能的逻辑故障或硬件故障。现有的FPGA板卡设备在焊接好后，对FPGA板卡设备的电气检测一般为通过物理方式测量板卡上的电阻或电压来判断是否存在硬件故障，但对一些PCB板上内层或无测量孔的信号线则无法测量其正确性；FPGA内部的功能也需要烧写完整的固件程序才能进行系统的调试，在调试过程中即使发现问题也不能很快就定位是否由何处的硬件故障引起。专利号ZL200510080017. 3，名称为一种芯片接口检测装置及方法的专利技术中披露了一种利用外部检测器件和内部检测器件检测外部存储模块控制或数据正确性的方法，此方法对检测FPGA外部的内存设备有指导意义，但此方法具有所用设备多，且检测内容单一， 只能对存储模块进行检测，不能对其他控制设备进行检测的缺陷。
技术实现思路
为克服上述缺陷，本专利技术提供了一种FPGA控制设备的检测装置和方法，可有效定位可能存在的硬件故障，验证各控制通路的正确性。为实现上述目的，本专利技术提供一种FPGA控制设备的检测装置，所述检测装置包括内存网卡单元和FPGA，所述内存网卡单元包括内存和PHY ；所述FPGA包括分别对所述内存和所述PHY进行控制的内存控制器和MAC控制器；其改进之处在于，所述FPGA还包括 与所述内存控制器和所述MAC控制器分别连接的内存检测模块和MAC检测模块，以及分别与所述内存检测模块和所述MAC检测模块连接的结果汇总模块。本专利技术提供的优选技术方案中，所述检测装置包括与所述FPGA连接的LED显示单兀。本专利技术提供的第二优选技术方案中，所述内存包括DDR/2/3SDRAM和QDR/II/ II+SRAMO本专利技术提供的第三优选技术方案中，所述PHY包括千兆PHY和万兆PHY。本专利技术提供的第四优选技术方案中，所述内存控制器包括DDR内存控制器和QDR 内存控制器；所述DDR内存控制器对DDR/2/3SDRAM进行控制；QDR内存控制器对QDR/II/ II+SRAM进行控制。本专利技术提供的第五优选技术方案中，所述MAC控制器包括千兆MAC控制器和万兆 MAC控制器。本专利技术提供的第六优选技术方案中，所述内存检测模块包括DDR内存检测模块和QDR内存检测模块。本专利技术提供的第七优选技术方案中，所述MAC检测模块包括千兆MAC检测模块和万兆MAC检测模块。本专利技术提供的第八优选技术方案中，所述结果汇总模块将所述DDR内存检测模块、所述QDR内存检测模块、所述千兆MAC检测模块和所述万兆MAC检测模块输入的实时结果进行寄存，当所有的检测结束后，所述结果汇总模块会按照时间先后顺序将四个检测模块的最终结果依次输出显示给所述LED显示单元。本专利技术提供的第九优选技术方案中，所述LED显示单元包括8个LED指示灯。本专利技术提供的第十优选技术方案中，所述DDR内存检测模块，用于检测DDR/2/3 SDRAM的数据线、控制线及存储空间。本专利技术提供的较优选技术方案中，所述QDR内存检测模块，用于检测QDR/II/ II+SDRAM的数据线、控制线及存储空间。本专利技术提供的第二较优选技术方案中，所述千兆MAC检测模块，用于检测千兆网络所在通路的数据传输正确性。本专利技术提供的第三较优选技术方案中，所述万兆MAC检测模块，用于检测万兆网络所在通路的数据传输正确性。本专利技术提供的第四较优选技术方案中，提供一种FPGA控制设备的检测方法，所述检测方法以地址线走1、地址线走0、数据线走1、数据线走0的方式对所述内存进行检测，其特征在于，所述检测方法以单burst的方式对存储空间进行检测。本专利技术提供的第五较优选技术方案中，所述检测方法包括如下步骤(1)对地址线进行检测，判断对地址线的检测是否完成，判断结果为“否”，则继续对地址线进行检测；判断结果为“是”，则输出检测结果并进行步骤2 ； (2)对数据线进行检测，判断对数据线的检测是否完成，判断结果为“否”，则继续对数据线进行检测；判断结果为“是”，则输出检测结果并进行步骤3 ； (3)对内存存储区块进行检测，判断对内存存储区块的检测是否完成，判断结果为“否”，则继续对内存存储区块进行检测；判断结果为“是”， 则输出检测结果并结束。与现有技术比，本专利技术提供的一种FPGA控制设备的检测装置和方法，通过自动检测，可有效验证FPGA内各控制通路的正确性，若有故障，亦可准确定位FPGA网络控制设备上存在的故障的位置，减少此类设备在焊接完后初检的时间；而且检测装置及方法可对 DDR/2/3 SDRAM、QDR/II/II+SRAM、千兆PHY和万兆PHY分别进行检测，在检测时只需一张没有焊接质量问题的PCB电路板和需要检测的板卡即可，在检测过程中无需人工干预，检测的结果可通过LED灯来显示，避免了现有检测方法使用设备多，检测内容单一，只能对存储模块进行检测，不能对其他控制设备进行检测的缺陷。附图说明图1为FPGA控制设备的检测装置的结构示意图。图2为FPGA控制设备的检测方法的流程图。具体实施方式5如图1所示，FPGA控制设备的检测装置包括内存网卡单元和FPGA，所述内存网卡单元包括DDR/2/3 SDRAM、QDR/II/II+SRAM、千兆PHY和万兆PHY ；所述FPGA包括与所述DDR/2/3 SDRAM、所述QDR/II/II+SRAM、所述千兆PHY和所述万兆PHY依次连接的DDR内存控制器、QDR内存控制器、千兆MAC控制器和万兆MAC控制器，与所述DDR内存控制器、所述QDR内存控制器、所述千兆MAC控制器和所述万兆MAC控制器依次连接的DDR内存检测模块、QDR内存检测模块、千兆MAC检测模块和万兆MAC检测模块，以及与所述DDR内存检测模块、所述QDR内存检测模块、所述千兆MAC检测模块和所述万兆MAC检测模块分别连接的结果汇总模块。在检测装置的FPGA内部实现MAC控制器、DDR控制器和QDR控制器等功能处理模块，同时在各控制器旁边各增加一个检测模块，用于检测PCB板卡焊接好后，这些内部和外部功能部件的正确性，以排除可能的逻辑或硬件故障；具体的，在PCB板卡焊接好并经过普通电气测试后，在FPGA上烧写入本检测程序，检测时将各控制器形成闭环回路，向该闭环回路发送特定的检测数据，以检测各控制器每条地址线或数据线的连通性，从而可有效定位可能存在的硬件故障，验证各控制通路的正确性。具体的，FPGA控制设备的检测装置的各部件功能描述如下DDR/2/3 SDRAM，为普通的SODIMM内存，在此处指DDR、DDR2、DDR3三种中的某一种内存，即此处待检测的内存及其所在通路所有物理器件在同一时刻仅有一种被检测；QDR/II/II+，为普通的SRAM存储颗粒，在此处指QDR、QDRII、QDRII+三种中的某一种颗粒，即此处待检测的SRAM存储颗粒及其所在通路的所有物理器件在本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种FPGA控制设备的检测装置，所述检测装置包括内存网卡单元和FPGA，所述内存网卡单元包括内存和PHY ；所述FPGA包括分别对所述内存和所述PHY进行控制的内存控制器和MAC控制器；其特征在于，所述FPGA包括与所述内存控制器和所述MAC控制器分别连接的内存检测模块和MAC检测模块，以及分别与所述内存检测模块和所述MAC检测模块连接的结果汇总模块。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括与所述FPGA连接的LED显示单元。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述内存包括DDR/2/3SDRAM和QDR/ II/II+SRAM。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述PHY包括千兆PHY和万兆PHY。5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述内存控制器包括DDR内存控制器和QDR内存控制器；所述DDR内存控制器对DDR/2/3 SDRAM进行控制；QDR内存控制器对 QDR/II/II+SRAM 进行控制。6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述MAC控制器包括千兆MAC控制器和万兆MAC控制器。7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述内存检测模块包括DDR内存检测模块和QDR内存检测模块。8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述MAC检测模块包括千兆MAC检测模块和万兆MAC检测模块。9.根据权利要求7、8所述的检测装置，其特征在于，所述结果汇总模块将所述DDR内存检测模块、所述QDR内存检测模块、所述千兆MAC检测模块和所述万兆MAC检测模块输入的实时结果进行寄存，当所有的检测结束后，所述结果汇总模块会按...
【专利技术属性】
技术研发人员：张英文，李静，窦晓光，刘朝辉，
申请(专利权)人：曙光信息产业北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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