激光器参数测量系统技术方案

技术编号:7504310 阅读:199 留言:0更新日期:2012-07-11 03:59
本发明专利技术涉及一种激光器参数测量系统。该激光器参数测量系统包括一个第一透镜、一个第一楔板、一个第二楔板、一个第三楔板、一个第一图像采集装置、一个第二图像采集装置、一个能量探头和一个波形探头,外部待测量的激光器输出的光束经过所述第一透镜透射到所述第一楔板,经过所述第一楔板反射的光束依次穿过第二楔板、第三楔板进入第一图像采集装置,经过所述第一楔板透射的光束进入所述能量探头,经过所述第二楔板反射的光束进入第二图像采集装置,经过所述第三楔板反射的光束进入所述波形探头。本发明专利技术占用空间小、成本低、便于安装及调节,并且其应用范围广泛。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量系统,特别涉及一种用于对激光器参数进行测量的测量系统。
技术介绍
激光器技术的不断发展,使得其被广泛的应用到各个领域。由此,对于激光器的各参数的检测也显得日益重要,常见的一站式激光器综合参数测试系统,主要包括能量测试单元、时间波形测试单元、时间波形测试单元、近场测试单元、远场测试单元。能量测试单元主要进行激光单脉冲能量、能量稳定性的监测和测量。时间波形测试单元进行脉冲宽度、脉冲前沿、后沿、脉冲稳定性、重复频率等参数的测量。近场测试单元通过控制电机带动一科学级CXD作动,找出最佳近场位置,测出光斑尺寸、软化因子、近场调制度、瑞利距离、像传递位置等。远场测试单元通过控制电机带动一科学级CCD作动,找出束腰位置,测出发散角、指向性和衍射倍数、束腰尺寸。如图1所示,现有的激光器综合参数测量系统包括依光束入射方向依次设置的一个第一透镜110、一个第一楔板120、一个远场图像采集装置130、一个第二楔板140、一个能量探头150、一个第三楔板160、一个波形探头170、一个第二透镜180和一个近场图像采集装置190,该测量系统还包括一平台(图未示),上述元件都设置在该平台本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光器参数测量系统,其特征在于,该激光器参数测量系统包括一个第一透镜、 一个第一楔板、一个第二楔板、一个第三楔板、一个第一图像采集装置、一个第二图像采集装置、一个能量探头和一个波形探头,外部待测量的激光器输出的光束经过所述第一透镜透射到所述第一楔板,经过所述第一楔板反射的光束依次穿过第二楔板、第三楔板进入第一图像采集装置,经过所述第一楔板透射的光束进入所述能量探头,经过所述第二楔板反射的光束进入第二图像采集装置,经过所述第三楔板反射的光束进入所述波形探头。2.根据权利要求1所述的激光器参数测量系统,其特征在于,该激光参数测量系统还包括一个平台,所述第一楔板、所述第二楔板、所述第三楔板、所述第一图像采集装置、所述第二图像采集装置、所述能量探头和所述波形探头都设置在所述平台上。3.根据权利要求1或2所述的激光器参数测量系统,其特征在于,所述第一透镜设置在外部待测量的激光器的输出端位置,所述第一透镜与外部待测量的激光器的输出端的输出镜的距离小于该输出镜的像传递距离。4.根据权利要求3所述的激光器参数测量系统,其特征在于,该激光器参数测量系统还包括一个第...

【专利技术属性】
技术研发人员:樊仲维邱基斯唐熊忻张晶张国新
申请(专利权)人:北京国科世纪激光技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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