射频集成电路测试系统及控制方法技术方案

本发明专利技术公开了射频集成电路测试系统，包括上位机、底层硬件控制模块、测试夹具板和可程控测试仪器；其特征在于：在上位机中设置有串口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；在底层硬件控制模块中包括单片机，在单片机中设置有MCU串口模块、数据运算模块、MCU功能初始化模块和电路设置操作模块；其中：串口模块用于上位机与底层硬件控制模块的单片机进行通信；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对可程控测试仪器进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；可广泛用于射频电路的控制与测试分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试系统及方法，具体涉及。
技术介绍
随着集成电路的发展，越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制，因此对于集成电路的测试分析，首先需要验证数字功能模块部分，以达到通过数字功能模块控制模拟部分的正常工作。由于不同的电路内部集成的数字功能模块并不一样，其中包括I2C通信协议、SPI串行通信协议、逻辑电平控制等。而对于射频集成电路，根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元，其参数指标差异性较大。 因此对于不同的电路，需要对测试系统的硬件部分单独制作，测试系统的程序部分也需要根据不同的协议等编写不同的界面控制程序，造成工作量大，成本高，周期长，效率低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题之一在于提供射频集成电路测试系统。本专利技术所要解决的技术问题之二在于提供射频集成电路测试系统控制方法。为了解决上述技术问题，根据本专利技术的第一个技术方案，射频集成电路测试系统， 包括上位机、底层硬件控制模块、测试夹具板和可程控测试仪器；其特征在于在上位机中设置有串口模块、电路功能设置模块、参数测试模块，其中 串口模块用于上位机与底层硬件控制模块的单片机进行通信； 电路功能设置模块(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；包括用于对测试系统的总线工作模式进行设置；兼容多种接口、多种协议；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；实现多功能、多项目的复用；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供通用接口总线的调用；提供自动化测试的函数调用按键；对可程控测试仪器进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；对测试结果进行显示和存储；实现自动化测试；在底层硬件控制模块中包括单片机，在单片机中设置有MCU串口模块、数据运算模块、 MCU功能初始化模块和电路设置操作模块，其中MCU串口模块用于与上位机进行通信，MCU串口模块接收上位机通过串口模块输出的数据，进行处理后输出到数据运算模块；并且对于有寄存器操作的待测射频集成电路内部寄存器的值，通过底层硬件控制模块与测试夹具板对应的总线接口读取，进行处理后通过 MCU串口模块发送至上位机；数据运算模块用于对接收到的数据进行恢复，给MCU功能初始化模块和电路设置操作模块提供可识别的数据；MCU功能初始化模块对数据运算模块输出的数据进行判断，并通过判断后的结果按数据执行相应功能的单片机I/O 口初始化；电路设置操作模块对数据运算模块输出的数据进行判断，并通过判断后的结果调用对应的功能设置函数利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制；待测射频集成电路安装在测试夹具板上，待测射频集成电路通过测试夹具板和底层硬件控制模块与上位机进行通讯，并且，待测射频集成电路通过测试夹具板输出信号到可程控测试仪器或者接收可程控测试仪器输出的信号；可程控测试仪器接收上位机的参数测试模块输出的信号，通过测试夹具板读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统的一种优选方案，电路功能设置模块还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；MCU串口模块还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路内部寄存器的值，通过底层硬件控制模块与测试夹具板对应的总线接口读取，进行处理后通过MCU串口模块发送至上位机。根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统的一种优选方案，所述底层硬件控制模块还包括电平转换电路，所述上位机中还设置有并口模块，并口模块通过电平转换电路和测试夹具板对待测射频集成电路进行读写控制；所述电平转换电路将上位机的并口模块输出的电平信号进行转换后通过测试夹具板输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过测试夹具板输出的数据进行转换后输出到上位机。由于在上位机(1)中既设置有串口模块，又设置有并口模块，底层硬件控制模块 (2 )中还设置有电平转换电路(6 )，保证了本系统接口既适用于串口也适用于并口。根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统的一种优选方案，所述上位机中还设置有传输线校准模块；传输线校准模块用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块。保证了测试精度。根据本专利技术的第二个技术方案，射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于包括如下步骤A、根据待测射频集成电路，通过电路功能设置模块对测试系统进行设置和选择；B、单片机等待接收数据，当单片机收到数据后，按自定义通讯协议对数据进行处理，处理后执行上位机的指令；C、通过参数测试模块选择所要测试参数；D、根据当前所测试参数的功能设置函数对待测射频集成电路进行工作模式的控制；并通过通用接口总线GPIB对可程控测试仪器进行状态设置；E、读取可程控测试仪器测试数据；F、调用传输线校准模块的校准数据，对测试数据进行校准并显示；G、判断测试结果是否合格，并将判定结果显示。根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，步骤A包括对测试系统的总线工作模式进行选择；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，对于有寄存器的待测射频集成电路，步骤A中还包括对寄存器进行读和/或写操作。根据本专利技术所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，步骤B中单片机等待接收数据，当单片机收到数据后，对数据进行处理，并按自定义通讯协议执行上位机的指令，具体步骤为Bi、单片机等待接收数据，B2、单片机收到数据后，判断收到的数据是否是数据帧头；若是数据帧头，进入步骤 B3 ；若不是数据帧头，返回步骤Bl ； B3、数据接收并存储；B4、判断收到的数据是否是数据帧尾；若是数据帧尾，进入步骤B5 ；若不是数据帧尾， 返回步骤B3 ；B5、数据运算模块对接收到的数据包中的非帧头和帧尾的数据进行恢复； B6、MCU功能初始化模块判断恢复后的数据中是否有协议指令，若恢复后的数据中有协议指令，进入步骤B7 ；若数据中无协议指令，判断数据中是否有协议初始化后标识，若数据中无协议初始化后标识，返回步骤Bl ；若数据中有协议初始化后标识，进入步骤B8 ；B7、MCU功能初始化模块对相应I/O 口进行初始化，并且对已经初始化的I/O 口进行标识，返回步骤Bl ；B8、电路设置操作模块判断恢复后的数据中是否有功能指令，若数据中无功能标识，返回步骤Bl ；若数据中有功能标识，则再次判断是否已经有协议初始化后标识，如果没有则返回步骤Bl，如果有协议初始化后标识，则调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制，返回步骤Bi。本专利技术所述的的有益效果是本专利技术兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准模块，保证了测试精度；本专利技术使用方便，功能多、效率高，能实现自动化测试，可广泛应用于射频收发通道、频综、调制器与解调器等射频电路的控制与测试分析，具有良好的应用前景。附图说明图1是专利技术所述的射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈昆，阳润，王露，苏良勇，范麟，唐睿，万天才，徐骅，
申请(专利权)人：重庆西南集成电路设计有限责任公司，中国电子科技集团公司第二十四研究所，
类型：发明
国别省市：