电容触摸屏系统测试机技术方案

技术编号:7315552 阅读:204 留言:0更新日期:2012-05-04 00:31
一种电容触摸屏系统测试机包括Z向移动机构,所述Z向移动机构包括Z向滑轴、电机和探头,所述探头连接于所述Z向滑轴,所述Z向滑轴和所述电机通过旋转机构邻接。本发明专利技术电容触摸屏系统测试机的电机通过旋转结构带动所述Z向滑轴转动,实现曲线和多点测试的功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触摸屏系统测试机,尤其是一种电容触摸屏系统测试机
技术介绍
随着科学技术的发展,触摸屏已经逐渐取代机械式按钮面板成为手机、笔记本等电子设备新的操作界面。触摸屏包括电阻式触摸屏、红外线触摸屏、电容式触摸屏,它们通过不同的方式获得坐标,而电容式触摸屏由于其透光率、清晰度和可靠性更好,而被应用于越来越多的产品中。伴随着电容触摸屏的发展,电容触摸屏的测试机也随之发展,现有的电容触摸屏测试机只能够对触摸屏进行直线以及单点测试,不能满足现今不断发展的支持多指触控的电容触摸屏的测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种支持曲线以及多点测试的电容触摸屏系统测试机。为了解决上述问题,本专利技术提供一种电容触摸屏系统测试机包括Z向移动机构, 所述Z向移动机构包括Z向滑轴、电机和探头,所述探头连接于所述Z向滑轴,所述Z向滑轴和所述电机通过旋转机构邻接。与现有技术相比,本专利技术电容触摸屏系统测试机的电机可通过旋转机构带动所述 Z向滑轴转动,实现曲线和多点测试的功能。附图说明图1是本专利技术电容触摸屏系统测试机的示意图。图2是电容触摸屏系统测试机去除盖体和延长件的示意图。图3是电容触摸屏系统测试机Z向滑轴的部分放大主视图。图4是电容触摸屏系统测试机Z向滑轴的放大俯视图。图5是电容触摸屏系统测试机电机的放大示意图。图6是电容触摸屏系统测试机延长件的放大示意图。具体实施例方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的说明。请一并参阅图1和图2,本专利技术电容触摸屏系统测试机包括壳体1、盖扣所述壳体 1的盖体2和架设于所述壳体1的移动机构3,所述壳体1包括相对的侧壁10,所述侧壁10 设有滑槽(未标号)。所述移动机构3包括架设于所述壳体的支撑架30、双向移动机构31 和单向移动机构32,所述支撑架30包括相对的上、下基板300、301以及垂直连接上下基板 300,301并彼此相对的侧基板302,所述侧基板302部分伸入所述滑槽,使的所述支撑架30可相对壳体1滑动。所述双向移动机构31包括X向移动机构310和Z向移动机构311,所述X向移动机构310包括X向滑轴312、X向动力机构313,所述X向滑轴312 —端伸出侧基板302外固定于所述侧基板302并与所述上、下基板300、301平行。所述X向动力机构310和所述 Z向移动机构311固定在所述X向滑轴312,所述X向动力机构310位于所述X向滑轴312 伸出端所述侧基板302外侧,所述Z向移动机构311位于所述侧基板302之间的X向滑轴 312上。所述单向移动机构32,也即Y向移动机构固定于所述下基板301,使得所述支撑架 30带动所述双向移动机构31在Y方向运动。请一并参阅图3至图6,所述Z向移动机构311包括保护壳体330、电机331、探头 332、延长件333、Z向滑轴334以及旋转机构(未标号)。所述保护壳体330固定于所述X向滑轴312,其设有与所述电机331连接的开关335,所述开关335控制所述电机331相对所述Z向滑轴334的位置,可以是机械开关也可以是电动开关,所述开关335处于第一位置时所述电机331平行于所述Z向滑轴334,旋动或者按动所述开关,使所述开关处于第二位置时所述电机331从平行于所述Z向滑轴334旋转至垂直于所述Z向滑轴334,当然,也可以根据需要通过开关调节所述电机331与所述Z向滑轴334形成其他角度。所述Z向滑轴334纵向贯穿所述保护壳体330,与所述X向滑轴312垂直,所述电机 331设于所述保护壳体330内通过旋转机构与所述Z向滑轴334邻接,所述探头332通过可拆卸的固定机构固定于所述Z向滑轴334的端部,所述可拆卸的固定机构可以是螺栓,所述探头332可以包含单个探针,也可以包含多个探针,所述探针通过连接件连接,故可以根据需要选择合适的探头332安装至所述Z向滑轴334的端部,所述电机331包括转轴341。 所述旋转机构包括设于所述Z向滑轴334外壁的多个凸条337和设于所述转轴341外壁的多个转片;342。每个所述凸条337包括多个凸起338,使得所述凸条337为锯齿状,每两个相邻的凸条337之间为第一间隙339,一个所述凸条337的每两个相邻的凸起338之间为第二间隙340。当所述电机331的转轴341与所述Z向滑轴334平行时,所述电机331与所述Z 向滑轴334邻接位置处的转片342位于所述第一间隙339,即所述凸条337和所述转片342 交错排列,此时Z向滑轴可实现旋转运动;当所述电机331的转轴341与所述Z向滑轴334 垂直时,所述电机331与所述Z向滑轴334邻接位置处的转片342位于所述第二间隙340, 此时Z向滑轴可实现升降运动。所述延长件333可拆卸的固定于所述Z向滑轴334并与所述Z向滑轴334垂直,包括主体343和至少一连接于所述主体343的卡件344,所述卡件344可在所述主体343上滑动,也可将卡件;344固定于所述主体343,并相邻卡件344之间的间隔相同。所述主体343 的一端设有贯穿的卡固孔(未图示),所述卡固孔用于将所述延长件333固定于所述Z向滑轴334,所述探头332可以可拆卸的固定于所述卡件344。对电容屏进行多点测试时,在所述延长件333的任意卡件344上安装探头332,让其与所述Z向滑轴334上的探头332 —起滑动。对电容屏进行曲线测试时,同样在所述延长件333的任意卡件344上安装探头,所述电机331带动所述延长件333绕所述Z向滑轴 334转动,所述探头331绕着Z向滑轴334画圆。也可以通过选择不同的探头332,如包含多探针的探头332,完成曲线测试。本专利技术并不限于上述实施例,还可以通过其他旋转机构完成Z向滑轴334的转动,所述探头332完成曲线操作,如所述Z向滑轴334为L形,所述探头332安装与所述Z向滑轴334的端部以及弯折部;所述Z向滑轴334为倒T形,所述探头332安装于两端部和中间的连接部。 本专利技术的电容触摸屏系统测试机Z向移动机构311增加了延长件333,并Z向滑轴 334设有凸条337,使得所述电机331可以带动所述延长件333相对于所述Z向滑轴334转动。并且每个凸条337还设有多个凸起338,使得所述电机331可以带动所述Z向滑轴334 上下移动,方便检测。权利要求1.一种电容触摸屏系统测试机包括Z向移动机构,所述Z向移动机构包括Z向滑轴、电机和探头,所述探头连接于所述Z向滑轴,其特征在于所述Z向滑轴和所述电机通过旋转机构邻接。2.如权利要求1所述的电容触摸屏系统测试机,其特征在于所述旋转机构包括设于所述Z向滑轴的多个凸条和设于所述电机多个转片,所述电机与所述Z向滑轴邻接位置处, 所述凸条和所述转片交错排列。3.如权利要求2所述的电容触摸屏系统测试机,其特征在于每两个相邻的凸条之间为第一间隙,所述转片位于所述第一间隙。4.如权利要求2所述的电容触摸屏系统测试机,其特征在于所述凸条与所述电机平行。5.如权利要求2所述的电容触摸屏系统测试机,其特征在于所述凸条包括多个凸起, 每两个相邻凸起之间为第二间隙,所述凸条为锯齿状。6.如权利要求1所述的电容触摸屏系统测试机,其特征在于所述电机连接有开关,所述开关控制所述电机相对于所述Z向滑轴的角度。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李海
申请(专利权)人:苏州瀚瑞微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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