一种接触式IC卡全触点信号测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种接触式IC卡全触点信号测试装置，它包含PCB模拟板及其在该板上设置的IC卡触点、IC卡槽、连接IC卡信号的两端排针和三端排针，用PCB实现接触式IC卡触点的尺寸和位置，模拟接触式IC卡与读卡器通信时的触点接触情形；IC卡槽用来插IC卡；接IC卡信号的两端排针用来连接或者断开IC卡与读卡器的信号连接；三端排针将IC卡触点的信号全部引出，方便测试。使用时，将IC卡插入IC卡槽，需要测试IC触点的哪个信号，就将示波器等测试仪器连接到相应信号连接的排针上，用短路冒将所有两端排针连接，将本装置插入读卡器进行读卡器对IC卡的操作，读卡器与IC卡通信的过程中就可以用示波器等测量仪器全部抓取通信信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于接触式IC卡的全触点的信号测试装置。
技术介绍
接触式IC卡生产商或者接触式读卡器生产商，在接触式IC卡的或者读卡器研发过程中，需要测试IC卡在与读卡器进行通信过程中各个触点上的信号，分析信号通信过程，使研发人员简捷明了的分析和定位问题。目前没有相关产品在接触式IC卡插入读卡器后可以引出IC卡全部触点上的信号使研发人员直接测试IC卡所有触点上的信号，大部分是拆开读卡器外壳，直接在读卡器与 IC卡连接的信号处将信号引出，不但容易损坏读卡器，也不方便测试。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术对接触式IC卡在与读卡器通信过程中全部触点信号测试的不足而设计，便于携带，成本低、能够满足接触式IC卡在与读卡器通信过程中方便、可靠的对IC卡全部触点信号的测试需求。本专利技术通过以下技术方案来实现一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于包含PCB模拟板，所述PCB模拟板上设置模拟触点、两端排针、三端排针和IC卡槽，模拟触点连接两端排针，两端排针与三端排针相连，三端排针连接IC卡槽。所述模拟触点设置Cl、C2、C3、C4、C5、C6、C7和C8等八个触点，其中Cl设置VD本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：骆科学，
申请(专利权)人：山东华翼微电子技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：