光学式位置检测装置及带有位置检测功能的设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学式位置检测装置及带有位置检测功能的设备，该光学式位置检测装置基于使光源部点亮时的受光部的受光结果来检测对象物体的位置。在光学单元的外壳的前侧外壳部分，构成有默认光生成用反射部，该默认光生成用反射部在不存在对象物体的状态下，也会使默认光射入受光部。因此，可以基于默认光的受光结果，对光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系恰当地进行初始设定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及以光学方法检测对象物体的位置的光学式位置检测装置、以及具备该光学式位置检测装置的带有位置检测功能的设备。
技术介绍
作为以光学方法检测对象物体的光学式位置检测装置，例如提出有如下的装置， 即，分别从第一光源部及第二光源部向对象物体射出检测光，用受光部检测被对象物体反射的检测光。根据该光学式位置检测装置，可以基于第一光源部及第二光源部依次点亮时的受光部的受光强度的比较结果、或按照使第一光源部及第二光源部依次点亮时的受光部的受光强度相等的方式控制第一光源部及第二光源部时的驱动电流的比较结果来检测对象物体的位置(例如，参照专利文献1)。专利文献1日本特表2003-534554号公报在专利文献1所记载的光学式位置检测装置中，利用来自多个光源部的检测光的射出强度与受光部的受光强度的关系来检测对象物体的位置。由此，在光源部中驱动电流与发光强度的关系存在偏差的情况下，或者在受光部的入射光量与信号强度的关系存在偏差的情况下，检测精度会降低。所以，在光学式位置检测装置中，需要先将驱动光源部的驱动电流和受光部的受光强度的关系恰当地进行初始设定。另外，在光学式位置检测装置中， 优选在每次起动时都将驱动电流和受光强度的关系恰当地进行初始设定。但是，由于在专利文献1中没有记载上述的初始设定的必要性，因此在专利文献1 所记载的技术中，存在难以将驱动电流与受光强度的关系始终预先设定为恰当的条件的问题。而且，由于在引用文献1的图1中，在第一光源部、第二光源部以及受光部的前侧配置有透光部件，因此记载有如下的情形，即，在存在对象物体的条件下使第一光源部及第二光源部点亮时，由透光部件反射的光与由对象物体反射的光一起射入到受光部。但是，在引用文献1中，没有任何如下的记载，即，在不存在对象物体的状态下使第一光源部及第二光源部点亮，向受光部射入默认光；或基于受光部的默认光的受光结果对驱动电流与受光强度的关系进行初始设定。
技术实现思路
鉴于以上的问题，本专利技术的目的在于，提供一种即使在不存在对象物体的状态下， 也可以将与光源部的发光强度对应的强度的光作为默认光射入受光部，可以基于该默认光的受光结果，对光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系恰当地进行初始设定的光学式位置检测装置及具备该光学式位置检测装置的带有位置检测功能的设备。为了解决上述问题，本专利技术提供一种光学式位置检测装置，可以以光学方法检测对象物体的位置，其特征在于，具有光源部，其射出检测光；受光部，其接受由位于上述检测光的射出空间的上述对象物体反射的上述检测光；位置检测部，其基于上述光源部点亮时的上述受光部的受光结果，检测上述射出空间中的上述对象物体的位置；默认光生成用反射部，其将从上述光源部射出的检测光的一部分反射，在上述射出空间中不存在上述对象物体的情况下，使之作为默认光射入上述受光部。本专利技术中所说的“默认光”是指在光学式位置检测装置起动时不存在对象物体的状态下受光部所接受的光，本专利技术中，也可以替代该光而将射入受光部的光作为“默认光”进行说明。本专利技术中，在点亮光源部时，受光部的受光结果与从光源部经过对象物体到达受光部的距离或从光源部射出的检测光所形成的强度分布对应。所以，只要直接使用受光部的检测结果，或者使用基于受光部的检测结果使光源部之间差动时的驱动电流等，就可以检测出对象物体的位置。另外，本专利技术中，由于设有默认光生成用反射部，因此在不存在对象物体的情况下点亮光源部时，与光源部与受光部的位置关系无关，从光源部射出的检测光的一部分由默认光生成用反射部反射，作为默认光射入受光部。由此，可以基于受光部的默认光的受光强度，对光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系进行初始设定。所以，由于可以将光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系始终设定为恰当的条件， 因此可以高精度地检出对象物体的位置。本专利技术中，优选具有覆盖上述光源部及上述受光部的外壳，上述默认光生成用反射部由在上述外壳中位于上述光源部的光射出侧的前侧外壳部分构成。根据该构成，可以利用外壳的一部分来构成默认光生成用反射部。所以，由于不需要另外追加新的部件，因而可以实现构成的简化。本专利技术中，优选上述默认光生成用反射部的反射率比上述前侧外壳部分中的构成上述默认光生成用反射部的部分以外的部分高。根据该构成，即使检测光在上述外壳部分中照射到默认光生成用反射部以外的部分，由于该部分的反射率低，因此也可以防止检测光的一部分成为杂散光而泄漏到检测光的射出空间等。另外，本专利技术的其他的方式提供一种以光学方式检测对象物体的位置的光学式位置检测装置，其特征在于，具有光源部，其射出检测光；受光部，其接受由位于上述检测光的射出空间的上述对象物体反射的上述检测光；位置检测部，其基于上述光源部点亮时的上述受光部的受光结果，检测上述射出空间中的上述对象物体的位置；默认光生成用光源， 其与上述光源部联动地射出光，在上述射出空间中不存在上述对象物体的情况下，使之作为默认光射入上述受光部。本专利技术中，在点亮光源部时，受光部的受光结果与从光源部经过对象物体到达受光部的距离、或从光源部射出的检测光所形成的强度分布对应。所以，只要直接使用受光部的检测结果，或者使用基于受光部的检测结果使光源部之间差动时的驱动电流等，就可以检测出对象物体的位置。另外，本专利技术中，由于设有默认光生成用光源，因此在不存在对象物体的情况下点亮光源部时，默认光生成用光源也会点亮，向受光部射入默认光。所以，可以基于受光部的默认光的受光强度，对光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系进行初始设定。由此，由于可以将光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系始终设定为恰当的条件，因此可以高精度地检出对象物体的位置。本专利技术中，优选将上述默认光生成用光源与上述光源部中所用的光源并联或者串联地电连接。根据该构成，可以与光源部联动地点亮默认光生成用光源。本专利技术中，优选采用如下的构成，S卩，设置多个上述光源部，上述位置检测部基于以使上述多个光源部中的一部分光源部点亮时的上述受光部的受光强度与另外一部分的光源部点亮时的上述受光部的受光强度相等的方式驱动该光源部时的驱动条件的比较结果，检测上述对象物体的位置。如果使用此种差动，就可以自动地修正环境光等的影响。在进行该差动的情况下，可以使一部分的光源部与另外一部分的光源部直接差动，然而也可以设置射出不经由上述射出空间射入上述受光部的参照光的参照用光源，使一部分的光源部与参照用光源差动，并且使另外一部分的光源部与参照用光源差动，比较它们的差动结果，基于驱动光源部时的驱动条件的比较结果来检测对象物体的位置。应用了本专利技术的光学式位置检测装置可以用于具备配有可视面的可视面构成部件的带有位置检测功能的设备中。该情况下，可以采用将上述检测光沿着上述可视面射出的构成或将上述检测光透过上述可视面射出的构成中的任意一种。本专利技术中，作为上述可视面构成部件，可以使用显示图像的直视型图像生成装置， 该情况下，上述可视面是在上述直视型图像生成装置中显示上述图像的图像显示面。根据该构成，可以将带有位置检测功能的设备构成为带有位置检测功能的直视型显示装置。本专利技术中，作为上述可视面构成部件，可以使用可视信息的屏幕，该情况下，上述可视面是在上述屏幕中辨识上述信息的屏幕面。根据该构成，可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种光学式位置检测装置，其特征在于，是以光学方式检测对象物体的位置的光学式位置检测装置，具有：光源部，其射出检测光；受光部，其接受由位于所述检测光的射出空间的所述对象物体反射的所述检测光；位置检测部，其基于所述光源部点亮时的所述受光部的受光结果，检测所述射出空间中的所述对象物体的位置；及默认光生成用反射部，其反射从所述光源部射出的检测光的一部分，在所述射出空间中不存在所述对象物体的情况下，使之作为默认光射入所述受光部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：清濑摄内，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：JP