一种测量PIN光电二极管同轴封装外壳高度的千分表座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测量PIN光电二极管同轴封装外壳高度的千分表座，包括表座基板、PIN光电二极管安装板、数显千分表安装板、固定杆；数显千分表安装板设置有数显千分表安装孔和固定旋钮，且固定旋钮在安装孔旁边；固定杆垂直固定安装在表座基板的一侧；数显千分表安装板和PIN光电二极管安装板的一侧都有安装孔，数显千分表安装板和PIN光电二极管安装板分别通过旋转螺钉固定在固定杆上；数显千分表安装板设置于表座基板的上方，PIN光电二极管安装板设置于表座基板与数显千分表安装板之间。测量时，只需将PIN光电二极管安装在校准好的数显千分表座的PIN光电二极管安装板上，就可读出PIN光电二极管同轴封装外壳的高度，因此使用十分方便，测量也十分精确。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及量具
，具体涉及用于测量光通讯系统中的光电探测器耦合使用的PIN光电二极管同轴封装外壳高度所需的工装。
技术介绍
PIN光电二极管是在光通信领域，接收光纤传来的光信号，将光信号转换为电信号，以便后续电路处理的光电转换元器件。基于PIN芯片高带宽、低噪声和低廉的价格，被广泛应用于各种模拟光信号传输系统中，例如3G直放站光信号接收、CATV光网络接收等。 光网络的发展对光电探测器的需求量大大提高。在PIN光电二极管的耦合中，我们将一体化光纤和PIN光电二极管同轴封装外壳配合使用，且一体化光纤的高度和PIN光电二极管同轴封装外壳高度配合精准才能达到产品的参数要求，否则在耦合中会损坏器件。精确测量PIN光电二极管同轴封装外壳高度成为一个很难完成的工序。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种测量PIN光电二极管同轴封装外壳高度的千分表座以解决人为因素而造成的测量误差问题，从而解决一体化光纤与PIN光电二极管耦合时存在的高度匹配问题。为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是一种测量PIN光电二极管同轴封装外壳高度的千分表座，包括表座基板、PIN光电二极管安装板、数显千本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测量ＰＩＮ光电二极管同轴封装外壳高度的千分表座，包括表座基板（１）、固定杆（４）、数显千分表安装板（３）、ＰＩＮ光电二极管安装板（２）；所述的数显千分表安装板（３）设置有数显千分表安装孔（６）和固定旋钮（７），且固定旋钮（７）在数显千分表安装孔（６）旁边，其特征在于：所述的固定杆（４）垂直固定安装在表座基板（１）的一侧；所述数显千分表安装板（３）和ＰＩＮ光电二极管安装板（２）的一侧都有安装孔，数显千分表安装板（３）和ＰＩＮ光电二极管安装板（２）分别通过旋转螺钉固定在固定杆（４）上；所述的数显千分表安装板（３）设置于表座基板（１）的上方，ＰＩＮ光电二极管安装板（２）设置于表座基板（１）与...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邓焰，
申请(专利权)人：成都天润光电有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：90