【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测和描述流体中的单个微粒的传感器系统
本专利技术涉及一种用于对流体中的单个粒子进行检测和描述的传感器系统。
技术介绍
在许多应用当中(例如在供水领域),都希望能够以经济、快捷的方式对微生物进行检测。较为普遍的方法是让微生物在营养土中生长,以进行检测。这种方法通常需要持续24至48小时,因此是相当缓慢的。尤其是在供水时,以食品行业为例,最好能够尽可能快地发现细菌,以便必要时能够停止生产。近年来,已经找到其他不同的方法来确认和量化细菌。这些方法能够更快地工作。然而,此时的问题在于,非常简单的运作方法往往需要大量的细菌,而能够确认少量细菌的方法又都非常昂贵。专利文献US5811251公开了一种基于CCD系统对存活的微生物的数量进行计量的系统。专利文献US5972641和US5518894公开了基于统计方法的快速测试系统,以确定现存的细菌数量。为了确认最小数量的细菌,这些方法需要多达十一个小时的时间。另外,专利文献US5891394、US5858697、US5763203、US5751839和US5663057提出了以荧光和激光灯为基础检测微生物的方法。这些方法的缺点在于需要费用昂贵的激光光源。此外,还公知有免疫测试,它们用于检测某些类型的微生物。但是,运用这些测试是有条件的,并且每个待检测的微生物都会产生抗体,因此它既耗时又昂贵。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的在于提出一种低成本的传感器系统,用于检测和描述流体中的单个粒子。本专利技术的目的通过具有本专利技术特征的传感器系统得以实现。优选的实施方式由在下面的说明以及附图给出。根据本专利技术的传感器系统是以 ...
【技术保护点】
1.一种用于对流体中的单个粒子(16)进行检测和描述的传感器系统,其特征在于,具有:能流过流体的测量单元(14);光源(2;30),其设置在所述测量单元(14)上并产生穿过所述测量单元(14)的光束(4;36);强度传感器(26;44),其在所述测量单元(14)上与所述光源(2;30)相对地设置,以检测从所述测量单元(14)离开的光束,并用于分别检测在至少两个不同的波长范围(λA,λB)内的光束的强度(IA,IB);以及与该强度传感器(26;44)连接的分析装置(28),其设计用于根据检测到的在所述两个波长范围(λA,λB)内的强度(IA,IB)来识别通过所述光束的粒子(16)的类型。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP08020927.32008年12月3日1.一种用于对流体中的单个粒子(16)进行检测和描述的传感器系统,具有:测量单元(14),集成于输送连续的流体的输送管道中,流体能够连续地流过该测量单元;光源(2;30),其设置在所述测量单元(14)上并产生穿过所述测量单元(14)的光束(4;36);强度传感器(26;44),其在所述测量单元(14)上与所述光源(2;30)相对地设置,以检测从所述测量单元(14)离开的光束,其特征在于,该强度传感器用于分别检测在至少两个不同的波长范围(λA,λB)内的光束的强度(IA,IB)并与分析装置(28)连接,该分析装置(28)设计用于根据检测到的在所述两个波长范围(λA,λB)内的强度(IA,IB)来识别通过所述光束的、能够表明流体中的微生物的粒子(16)的类型,其中,所述分析装置(28)通过从先前检测或存储的无粒子(16)的光束的基本强度(I0,A、I0,B、I0,C)减去实际检测到的强度(IA,IB),来确定关于所检测的波长范围(λA)的吸收率(AA,AB);所述分析装置(28)设计成,将对两个不同的波长范围(λA,λB)确定的吸收率(AA,AB)相互比较,并将其比值与存储的用于特定的待识别粒子(16)的比值进行比较。2.如权利要求1所述的传感器系统,其特征在于,所述强度传感器(26;44)设计成,使可在其中单独检测强度(IA)的第一波长范围(λA)是小于300nm的波长范围(λA)。3.如权利要求1或2所述的传感器系统,其特征在于,所述强度传感器(26;44)设计成,使在其中可单独检测强度(IA)的第一波长范围(λA)内,待检测的粒子(16)在光吸收(AA)下具有局部最小值,波长优选在220nm到260nm之间。4.如权利要求1或2所述的传感器系统,其特征在于,所述强度传感器(26;44)设计成,在可单独检测强度(IB)的第二波长范围(λB)内,待检测的粒子(16)在光吸收(AB)下具有局部最大值,波长(λB)优选在240nm到290nm之间。5.如权利要求1或2所述的传感器系统,其特征在于,所述强度传感器(26;44)设计成,在可单独检测强度(IC)的第三波长范围(λC)内,待检测的粒子(16)基本上没有光吸收,波...
【专利技术属性】
技术研发人员:安诺斯·本廷安,
申请(专利权)人:格伦德福斯管理联合股份公司,
类型:发明
国别省市:DK
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