【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种利用超声波来无损检测受检件的方法，可以按照该方法根据所记 录的超声回波信号来确定受检件体积中某个缺陷的等效反射体尺寸。本专利技术还涉及一种适 合用来执行本专利技术方法的装置。
技术介绍
现有技术条件下类似的方法早已为人所知。可利用脉冲回波法将脉冲超声波射入 受检件之中，通过等效反射体尺寸ERG(英语ERS〃 equivalent reflector size")来描 述受检件体积中找到的缺陷，例如缩孔、杂质或裂纹。通过将受检件体积中的缺陷所引起的 回波信号的振幅与已知大小的模型参考缺陷进行比较，即可确定该等效反射体尺寸的值。 在这种所谓的参考试块法中，检验者使用一个其中植入了一个或多个参考反射体的参考试 块作为受检件的等效参考试块，将受检件的回波信号与参考试块上获得的回波信号进行比 对。例如可以在参考试块中钻出一些尺寸已知的圆柱形孔。然后将超声波在钻孔处反射时 出现的回波信号与检测受检件时获得的回波信号进行比对。因此若采用参考试块法，检验 者可使用一个合适的探头，例如一种合适的斜探头，在受检件和预先制备好的参考试块上 进行测量。而如果采用AVG...
【技术保护点】
一种利用超声波来对受检件（１００）进行无损检测的方法，包括以下方法步骤： ａ．将定向超声波脉冲以入射角β射入所述受检件（１００）之中，其中以电子方式调整所述入射角β， ｂ．记录由入射到所述受检件（１００）之中的所述超声波脉冲产生的回波信号， ｃ．确定入射位置Ｘ０，在该入射位置Ｘ０处能够记录对应于受检件体积中的缺陷（１０２）的回波信号， ｄ．确定所述缺陷（１０２）的ＥＲＳ值在所述位置Ｘ０处变得最大时的入射角β↓［最大］， ｅ．将受检件（１００）表面上的入射位置从Ｘ０变为Ｘ１，其中检测所述入射位置的变化，以及 ｆ．以电子方式调整入射角β，以使得所述缺陷（１０２）的所...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：Y·奥伯多弗，
申请(专利权)人：通用电气传感与检测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：DE
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