低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件制造技术

本发明专利技术公布一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，包括测试块，所述测试块为长方体，所述长方体下表面及侧表面均为平面，上表面由第一平面、倾斜角度为1～10°的第一斜面、倾斜角度为10～20°的第二斜面、圆弧半径为10～50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。本发明专利技术充分考虑低压电器领域电触头的形状特点，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对具有斜面或圆弧面工件的检测能力进行标定；可以弥补其他多种标准中规定的测试块的不足，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于超声波探伤装备
，更具体地说，是涉及一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件。
技术介绍
超声波检测是目前应用最为广泛的无损检测方法之一。它具有穿透力强、设备轻便、检测成本低、检测效率高，并可以即时知道检测结果等优点。在实际检测中，由于被检测部件不同，而需要采用不同的超声波探伤标准。但是目前，在低压电器行业中，电触头的表面形状除了常见的平面，还有斜面和圆弧面等形状、现有的标准测试块功能单一，没有充分考虑待测工件的表面形状。没有专用试块进行超声检测中超声探头检测斜面和弧面的性能指标的标定，给检测工作带来了不便。
技术实现思路
针对上述现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是设计一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，该工件充分考虑电触头的表面形状，对斜面和圆弧面形状的电触头提供测试标准，补充现有测试标准的不足。为实现上述的目的，本专利技术采用的技术方案是，本专利技术提供一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，包括测试块，所述测试块为长方体，所述测试块的长方体下表面及侧表面均为平面，所述测试块的长方体上表面由第一平面、倾斜角度为I?10°的第一斜面、倾斜角度为10?20°的第二斜面、圆弧半径为10?50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。优选地，所述第一平面和所述第二平面的长度均为2?5mm、宽度均为10?20mm。优选地，所述第一斜面和所述第二斜面在水平面上的投影长度均为2?8mm、宽度均为10?20mm。优选地，所述圆柱面在水平面上的投影长度为5?10mm、宽度为10?20mm。优选地，所述长方体的长为13?40mm、宽为10mm、高为5?20mm。由于采用了上述技术方案，能得到以下有益效果:本专利技术所述工件充分考虑了低压电器领域电触头的形状特点，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对具有斜面或圆弧面工件的检测能力进行标定，本专利技术可以弥补其他多种标准中规定的测试块的不足，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。【附图说明】图1为本专利技术一实施例的低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件主视图；图2为本专利技术一实施例的低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件俯视图；图中:I为第一平面，2为第一斜面，3为第二斜面，4为圆柱面，5为第二平面。【具体实施方式】以下对本专利技术的技术方案作进一步的说明，以下的说明仅为理解本专利技术技术方案之用，不用于限定本专利技术的范围，本专利技术的保护范围以权利要求书为准。如图1所示，本专利技术为一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，包括测试块，所述测试块为长方体，所述测试块的长方体下表面及侧表面均为平面，所述测试块的长方体上表面由第一平面1、倾斜角度为I?10°的第一斜面2、倾斜角度为10?20°的第二斜面3、圆弧半径为10?50mm的圆柱面4以及第二平面5依次连接而成。本实施例中，所述第一平面I和所述第二平面5的长度均为2?5mm、宽度均为10 ?20mm。本实施例中，所述第一斜面2和所述第二斜面3在水平面上的投影长度均为2?8mm、宽度均10?20mm。本实施例中，所述圆柱面4在水平面上的投影长度为5?10mm、宽度为10?20mm。本实施例中，所述长方体的长为13?40mm、宽为10mm、高为5?20mm。作为一个优选实施方式，所述工件为长方体测试块，所述测试块的长方体下表面及侧表面均为平面，所述测试块的长方体上表面由第一平面1、5°的第一斜面2、10°的第二斜面3、圆弧半径为25_的圆柱面4以及第二平面5依次从左到右连接而成。作为一个优选实施方式，所述测试块总长度为20mm，其中:左右两端的第一、第二平面1、5长度均为2mm，第一、第二斜面2、3在水平面上的投影长度均为4mm，圆柱面4在水平面上的投影长度为8mm。所述第一、第二斜面2、3可以完成探头对斜面的标定，所述圆柱面4可以完成探头对圆弧面的标定。作为一个优选实施方式，如图2所示，为低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件的俯视图，所述工件为长方体的测试块，所述长方体的长为20mm、宽为10mm、高为5mm。所述长方体下表面及侧表面均为平面，上表面由第一平面1、倾斜角度为5°的第一斜面2、倾斜角度为10°的第二斜面3、圆弧半径为25mm的圆柱面4以及第二平面5依次连接而成。所述第一平面I和所述第二平面5的长度均为2mm、宽度均为10mm，所述第一斜面2和所述第二斜面3在水平面上的投影长度均为4mm、宽度均为10mm，所述圆柱面4在水平面上的投影长度为8mm、宽度为10mm。所述第一斜面2和所述第二斜面3可以完成超声探头对斜面的标定，所述圆柱面4可以完成探头对圆弧面的标定。本专利技术所述测试工件充分考虑了低压电器领域电触头的形状特点，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对具有斜面或圆弧面工件的检测能力进行标定，本专利技术可以弥补其他多种标准中规定的测试块的不足，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。尽管本专利技术的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本专利技术的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本专利技术的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本专利技术的保护范围应由所附的权利要求来限定。【主权项】1.一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，包括测试块，所述测试块为长方体，所述测试块的长方体下表面及侧表面均为平面，所述测试块的长方体上表面由第一平面、倾斜角度为I?10°的第一斜面、倾斜角度为10?20°的第二斜面、圆弧半径为10?50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。2.如权利要求1所述的一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，所述第一平面和所述第二平面的长度均为2?5mm、宽度均为10?20mm。3.如权利要求1所述的一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，所述第一斜面和所述第二斜面在水平面上的投影长度均为2?8mm、宽度均为10 ?20mm。4.如权利要求1所述的一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，所述圆柱面在水平面上的投影长度为5?10mm、宽度为10?20mm。5.如权利要求1-4任一项所述的一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，所述长方体的长为13?40mm、宽为10mm、高为5?20mm。【专利摘要】本专利技术公布一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，包括测试块，所述测试块为长方体，所述长方体下表面及侧表面均为平面，上表面由第一平面、倾斜角度为1～10°的第一斜面、倾斜角度为10～20°的第二斜面、圆弧半径为10～50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。本专利技术充分考虑低压电器领域电触头的形状特点，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对具有斜面或圆弧面工件的检测能力进行标定；可以弥补其他多种标准中规定的测试块的不足，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。【IPC分类】G01N29-30【公开号】CN104777235【申请号】CN201510167804【专利技术人】裘揆, 张国方, 贾海立, 肖东, 陈乐生 【申请人】上海和伍新材料科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，其特征在于，包括测试块，所述测试块为长方体，所述测试块的长方体下表面及侧表面均为平面，所述测试块的长方体上表面由第一平面、倾斜角度为1～10°的第一斜面、倾斜角度为10～20°的第二斜面、圆弧半径为10～50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：裘揆，张国方，贾海立，肖东，陈乐生，
申请(专利权)人：上海和伍新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31