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用于动态试验台的测力轴承机构制造技术

技术编号:7121990 阅读:280 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是一种轴承机构,特别涉及一种用于联轴器动态试验台的测力轴承机构。包括支架台,所述的支架台的上端中设有测力轴,所述的测力轴上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座、一对圆锥滚柱轴承和衬圈,所述的轴承座设在支架台中,所述的轴承座中设有一对圆锥滚柱轴承,所述的测力轴与一对圆锥滚柱轴承相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承间设有衬圈。用于动态试验台的测力轴承机构结构简单,稳定性高,操作方便。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种轴承机构,特别涉及一种用于联轴器动态试验台的测力轴承机构。
技术介绍
现有技术中的没有专门用于联轴器动态试验台,导致试验数据不准确,产品质量无法掌握。
技术实现思路
本技术主要是解决现有技术中存在的不足,提供一种结构简单的用于动态试验台的测力轴承机构。本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种用于动态试验台的测力轴承机构,包括支架台,所述的支架台的上端中设有测力轴,所述的测力轴上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座、一对圆锥滚柱轴承和衬圈,所述的轴承座设在支架台中,所述的轴承座中设有一对圆锥滚柱轴承,所述的测力轴与一对圆锥滚柱轴承相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承间设有衬圈。因此,本技术提供的用于动态试验台的测力轴承机构,结构简单,稳定性高, 操作方便。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式下面通过实施例,并结合附图,对本技术的技术方案作进一步具体的说明。实施例如图1所示,一种用于动态试验台的测力轴承机构,包括支架台1,所述的支架台1的上端中设有测力轴2,所述的测力轴2上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座3、一对圆锥滚柱轴承4和衬圈5,所述的轴承座3设在支架台1中,所述的轴承座3中设有一对圆锥滚柱轴承4,所述的测力轴2与一对圆锥滚柱轴承4相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承4间设有衬圈5。权利要求1. 一种用于动态试验台的测力轴承机构,其特征在于包括支架台(1),所述的支架台 (1)的上端中设有测力轴O),所述的测力轴( 上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座(3)、一对圆锥滚柱轴承(4)和衬圈(5),所述的轴承座C3)设在支架台(1) 中,所述的轴承座(3)中设有一对圆锥滚柱轴承G),所述的测力轴O)与一对圆锥滚柱轴承(4)相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承间设有衬圈(5)。专利摘要本技术是一种轴承机构,特别涉及一种用于联轴器动态试验台的测力轴承机构。包括支架台,所述的支架台的上端中设有测力轴,所述的测力轴上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座、一对圆锥滚柱轴承和衬圈,所述的轴承座设在支架台中,所述的轴承座中设有一对圆锥滚柱轴承,所述的测力轴与一对圆锥滚柱轴承相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承间设有衬圈。用于动态试验台的测力轴承机构结构简单,稳定性高,操作方便。文档编号F16C35/12GK202144838SQ20112027179公开日2012年2月15日 申请日期2011年7月25日 优先权日2011年7月25日专利技术者陈玉珍 申请人:沈艳艳本文档来自技高网...

【技术保护点】
设在支架台(1)中,所述的轴承座(3)中设有一对圆锥滚柱轴承(4),所述的测力轴(2)与一对圆锥滚柱轴承(4)相套接,所述的一对圆锥滚柱轴承(4)间设有衬圈(5)。1.一种用于动态试验台的测力轴承机构,其特征在于:包括支架台(1),所述的支架台(1)的上端中设有测力轴(2),所述的测力轴(2)上套有测力轴承机构,所述的测力轴承机构包括轴承座(3)、一对圆锥滚柱轴承(4)和衬圈(5),所述的轴承座(3)

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈玉珍
申请(专利权)人:沈艳艳
类型:实用新型
国别省市:86

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