【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及小型工件表面缺陷
,尤其涉及一种小型工件表面缺陷的评估方法以及利用该评估方法检测表面不合格工件的流程。
技术介绍
表面缺陷是影响小型工件表面质量的一个重要因素,直接影响着最终产品的外观和使用性能。例如,小型的永磁体工件的表面缺陷一方面影响到磁性材料用户关注的永磁材料的表磁分布和磁性能均勻性等特性,另一方面主要影响着永磁材料的耐腐蚀性这一决定磁体寿命的重要特性。小型的机械零部件的表面缺陷则严重影响着其力学性能和产品的外观。目前,对于表面缺陷的检测,国内外已具备了很多种方法,如人工目测法、激光超声检测法,涡流检测技术及光电检测技术等。但是,上述检测方法中大部分存在不足之处而不能在工业中推广应用,例如人工目测法存在检测效率低、检测质量受人的因素的影响较大,以及会增加成本等不足;激光超声检测法由于原理限制主要应用于超微裂纹的缺陷检测,难以评估具有多种缺陷的工件;涡流检测技术适用于大型板材的检测。因此,设计一种对存在缺角、掉边、裂纹、麻坑、异形等多种表面缺陷的小型工件进行缺陷检测和评估的方法具有重要的应用价值。
技术实现思路
本专利技术的技术目的针对现有技 ...
【技术保护点】
1.一种小型工件表面缺陷的评估方法,其特征是:包括如下步骤:步骤1:采用工业相机在特定光源下采集小型工件表面图像,并进行中值滤波处理,然后采用最大类间方差法计算图像分割的最佳阈值,对滤波后的图像进行阈值分割,得到二值图像;步骤2:对二值图像进行轮廓检测、计算轮廓面积计算,即为分割区域轮廓面积,该分割区域轮廓面积的大小反映麻坑的大小程度,计算分割区域轮廓的包围矩形,该包围矩形的长度和长度与宽度的比值参数反映裂纹的情况。对麻坑大小的要求,换算出麻坑所占的像素数m;其次,根据直方图统计,计算出像素数所占比例为m/s的最佳分割阈值T,该最佳分割阈值T满足公式:***其中,h(t)为 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:吴亮,王欣刚,庄克成,王志坚,
申请(专利权)人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所,
类型:发明
国别省市:97
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