一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，由圆锥台形外壳构成，圆锥台形外壳的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳的内壁中沿轴向连续设置有两个以上数目的环状台阶，任意一个环状台阶的内圆周均与圆锥台形外壳共轴，从圆锥台形外壳的下端向上、环状台阶的内圆周的直径逐个递增，环状台阶的下台阶面均与圆锥台形外壳轴向垂直，任意一个环状台阶的上台阶面均是其上侧相邻的环状台阶的下台阶面。环状台阶的下台阶面上各自放置有一个砝码，砝码所在的环状台阶的高度大于该砝码的高度。砝码由小到大，按从下到上的顺序对应放置在环状台阶上，不会放错，环状台阶的高度大于砝码的高度，因此上下相邻的任意两个砝码之间不会接触碰撞。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及机械领域，尤其涉及材料硬度测试装置，特别涉及用于显微维氏硬度计的砝码托架，具体的是一种用于显微维氏硬度计的砝码托架。
技术介绍
现有技术中，显微维氏硬度计用于测试金属材料，包括微小零件、薄板、金属箔、电线、薄硬化层和电镀层，还可以用于测试玻璃、珠宝和陶瓷等非金属材料，它可以遵循金属的结构，测试感应硬化或渗碳等材料的内部硬度。显微维氏硬度计中利用砝码对杠杆加压， 实现需要的加荷。砝码从大到小层叠放置，相邻的砝码之间容易放错和发生碰撞，影响砝码的精度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，所述的这种用于显微维氏硬度计的砝码托架要解决现有技术中显微维氏硬度计中相邻的砝码之间容易放错和发生碰撞、影响砝码的精度的技术问题。本技术的这种用于显微维氏硬度计的砝码托架，由一个圆锥台形外壳构成， 其中，所述的圆锥台形外壳的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳的内壁中连续设置有两个以上数目的环状台阶，任意一个所述的环状台阶的内圆周均与圆锥台形外壳共轴，从圆锥台形外壳的下端向上、环状台阶的内圆周的直径逐个递增，任意一个环状台阶的下台阶面均与圆锥台形外壳的轴向垂直，任意一个环状台阶的上台阶面均是其上侧相邻的环状台阶的下台阶面。进一步的，任意一个所述的环状台阶的下台阶面上，均各自放置有一个砝码，砝码所在的环状台阶的高度均大于该砝码的高度，砝码所在的环状台阶的内圆周的直径均大于该砝码的直径。进一步的，圆锥台形外壳的底面的下侧同轴设置有一个连接座。本技术的工作原理是砝码由小到大，按从下到上的顺序放置在圆锥台形外壳内，每个砝码只能对应放置在一个环状台阶上，环状台阶的高度大于砝码的高度，因此上下相邻的任意两个砝码之间不会接触。本技术和已有技术相比较，其效果是积极和明显的。本技术利用圆锥台形外壳构成砝码托架，在圆锥台形外壳的内侧连续设置两个以上数目的环状台阶，每个砝码只能对应放置在一个环状台阶上，不会放错，同时，环状台阶的高度大于砝码的高度，上下相邻的任意两个砝码之间不接触，因此不会发生碰撞。附图说明图1是本技术的用于显微维氏硬度计的砝码托架的结构示意图。具体实施方式实施例1如图1所示，本技术的用于显微维氏硬度计的砝码托架，由一个圆锥台形外壳1构成，其中，所述的圆锥台形外壳1的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳1 的内壁中连续设置有两个以上数目的环状台阶2，任意一个所述的环状台阶2的内圆周均与圆锥台形外壳1共轴，从圆锥台形外壳1的下端向上、环状台阶2的内圆周的直径逐个递增，任意一个环状台阶2的下台阶面3均与圆锥台形外壳1的轴向垂直，任意一个环状台阶 2的上台阶面4均是其上侧相邻的环状台阶2的下台阶面。进一步的，任意一个所述的环状台阶2的下台阶面3上，均各自放置有一个砝码5， 砝码5所在的环状台阶2的高度均大于该砝码5的高度，砝码5所在的环状台阶2的内圆周的直径均大于该砝码5的直径。进一步的，圆锥台形外壳1的底面的下侧同轴设置有一个连接座6。本实施例的工作过程是砝码5由小到大，按从下到上的顺序放置在圆锥台形外壳1内，每个砝码5只能对应放置在一个环状台阶2上，环状台阶2的高度大于砝码5的高度，因此上下相邻的任意两个砝码5之间不会接触。权利要求1.一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，由一个圆锥台形外壳构成，其特征在于所述的圆锥台形外壳的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳的内壁中连续设置有两个以上数目的环状台阶，任意一个所述的环状台阶的内圆周均与圆锥台形外壳共轴，从圆锥台形外壳的下端向上、环状台阶的内圆周的直径逐个递增，任意一个环状台阶的下台阶面均与圆锥台形外壳的轴向垂直，任意一个环状台阶的上台阶面均是其上侧相邻的环状台阶的下台阶面。2.如权利要求1所述的用于显微维氏硬度计的砝码托架，其特征在于任意一个所述的环状台阶的下台阶面上，均各自放置有一个砝码，砝码所在的环状台阶的高度均大于该砝码的高度，砝码所在的环状台阶的内圆周的直径均大于该砝码的直径。3.如权利要求1所述的用于显微维氏硬度计的砝码托架，其特征在于圆锥台形外壳的底面的下侧同轴设置有一个连接座。专利摘要一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，由圆锥台形外壳构成，圆锥台形外壳的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳的内壁中沿轴向连续设置有两个以上数目的环状台阶，任意一个环状台阶的内圆周均与圆锥台形外壳共轴，从圆锥台形外壳的下端向上、环状台阶的内圆周的直径逐个递增，环状台阶的下台阶面均与圆锥台形外壳轴向垂直，任意一个环状台阶的上台阶面均是其上侧相邻的环状台阶的下台阶面。环状台阶的下台阶面上各自放置有一个砝码，砝码所在的环状台阶的高度大于该砝码的高度。砝码由小到大，按从下到上的顺序对应放置在环状台阶上，不会放错，环状台阶的高度大于砝码的高度，因此上下相邻的任意两个砝码之间不会接触碰撞。文档编号G01N3/02GK202141637SQ20112024420公开日2012年2月8日 申请日期2011年7月12日 优先权日2011年7月12日专利技术者钱保根 申请人:上海尚材试验机有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，由一个圆锥台形外壳构成，其特征在于：所述的圆锥台形外壳的顶面的直径大于其底面的直径，圆锥台形外壳的内壁中连续设置有两个以上数目的环状台阶，任意一个所述的环状台阶的内圆周均与圆锥台形外壳共轴，从圆锥台形外壳的下端向上、环状台阶的内圆周的直径逐个递增，任意一个环状台阶的下台阶面均与圆锥台形外壳的轴向垂直，任意一个环状台阶的上台阶面均是其上侧相邻的环状台阶的下台阶面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱保根，
申请(专利权)人：上海尚材试验机有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。