一种用于显微维氏硬度计的砝码托架制造技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及机械
，具体为一种用于显微维氏硬度计的砝码托架。
技术介绍
现有技术中，显微维氏硬度计用于测试金属材料，包括微小零件、薄板、金属箔、电线、薄硬化层和电镀层，还可以用于测试玻璃、珠宝和陶瓷等非金属材料，它可以遵循金属的结构，测试感应硬化或渗碳等材料的内部硬度。显微维氏硬度计中利用砝码对杠杆加压，实现需要的加荷。在中国专利号CN 202141637 U提出的“一种用于显微维氏硬度计的砝码托架”中，该专利通过利用圆锥台形外壳构成砝码托架，在圆锥台形外壳的内侧连续设置两个以上数目的环状台阶，每个砝码只能对应放置在一个环状台阶上，不会放错，同时，环状台阶的高度大于砝码的高度，上下相邻的任意两个砝码之间不接触，因此不会发生碰撞，随人有效的解决了砝码之间相互碰撞而引起的砝码精度问题，但是并没有考虑到砝码本体与托架本体之间的碰撞引起的砝码精度问题，而且该砝码托架的设置不便于砝码的取出，给砝码托架在使用时带来了非常大的不便。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，包括托架本体和砝码，所述托架本体的截面呈直角梯形结构，且该托架本体的顶部连续开设有不少于两个放置槽，且所述放置槽的半径自托架的一侧向另一侧逐级递增，且所述放置槽的侧面为半圆形结构，所述砝码的底部卡接在托架本体的放置槽内，且砝码与放置槽的内壁之间设置有防撞胶垫。优选的，所述托架本体的底部固定安装有连接座。优选的，所述放置槽的宽度大于砝码的厚度。优选的，所述放...
【技术保护点】
一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，包括托架本体（1）和砝码（4），其特征在于：所述托架本体（1）的截面呈直角梯形结构，且该托架本体（1）的顶部连续开设有不少于两个放置槽（2），且所述放置槽（2）的半径自托架的一侧向另一侧逐级递增，且所述放置槽（2）的侧面为半圆形结构，所述砝码（4）的底部卡接在托架本体（1）的放置槽（2）内，且砝码（4）与放置槽（2）的内壁之间设置有防撞胶垫（3）。
【技术特征摘要】
1.一种用于显微维氏硬度计的砝码托架，包括托架本体（1）和砝码（4），其特征在于：所述托架本体（1）的截面呈直角梯形结构，且该托架本体（1）的顶部连续开设有不少于两个放置槽（2），且所述放置槽（2）的半径自托架的一侧向另一侧逐级递增，且所述放置槽（2）的侧面为半圆形结构，所述砝码（4）的底部卡接在托架本体（1）的放置槽（2）内，且砝码（4）与放置槽（2）的内...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈洪军，
申请(专利权)人：无锡欧诺锁业有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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