自动光学检测系统技术方案

本发明专利技术是一种自动光学检测系统，包含一第一影像撷取装置、一数据库以及一比较单元。第一影像撷取装置用以撷取一组合式框架的一撷取影像，其中撷取影像包含组合式框架的接合区域。数据库用以储存至少一参考影像。比较单元与第一影像撷取装置以及数据库电性连接，用以比较撷取影像以及参考影像，并判定组合式框架是否存在缺陷。上述的自动光学检测系统可缩短检测组合式框架的时间并节省相关人力成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种自动光学检测系统，特别是有关一种检测组合式框架的接合品质的自动光学检测系统。
技术介绍
为了减少废料产生，目前平面显示器所使用的矩形框架大多是以多个构件所接合而成的组合式框架。举例而言，如图Ia所示，组合式框架1是由二个L型构件IlaUlb相对接合而成。请参照图Ib至图le，多个长条型构件12a 12d、L型构件13a、13b与长条型构件13c、等边U型构件14a、14b或不等边U型构件15a、15b亦可接合成所需的组合式框架。上述组合式框架的生产流程是先冲压出L型、长条型或U型构件，接着再以适当方法将构件接合，例如以焊接或铆合。为了确认接合品质，目前是以人力逐一检视组合式框架的接合部位，如此不仅降低生产速度，亦增加人力成本。综上所述，如何以较低的成本以及较快的速度即可确认组合式框架的接合区域的接合品质便是目前极需努力的目标。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种自动光学检测系统，其是以一影像撷取装置撷取组合式框架的影像，并将所撷取的影像与一参考影像比较，以自动化确认组合式框架的接合品质。根据本专利技术的一种自动光学检测系统包含一第一影像撷取装置、一数据库以及一比较单元。第一影像撷取装置用以撷取一组合式框架的一撷取影像，其中撷取影像包含组合式框架的接合区域。数据库用以储存至少一参考影像。比较单元与第一影像撷取装置以及数据库电性连接，用以比较撷取影像以及参考影像，并判定组合式框架是否存在缺陷。本专利技术的有益技术效果是本专利技术的自动光学检测系统能够以自动化的方式撷取组合式框架的影像，并将所撷取的影像与一参考影像比较以确认组合式框架的接合品质。 因此，本专利技术的自动光学检测系统可大幅缩短检测以及生产组合式框架的时间，并节省检测组合式框架的接合品质的人力成本。附图说明以下通过具体实施例配合附图对本专利技术进行详细说明，当更容易了解本专利技术的目的、
技术实现思路
、特点及其所达成的功效，其中图Ia至图Ie为显示现有的组合式框架的示意图。图2为显示本专利技术一实施例的自动光学检测系统的示意图。图3为显示本专利技术另一实施例的自动光学检测系统的影像撷取装置与组合式框架的相对位置的示意图。具体实施方式请参照图2，本专利技术的一实施例的自动光学检测系统包含一第一影像撷取装置 21a、一数据库22以及一比较单元23。第一影像撷取装置21a用以撷取一组合式框架1的一撷取影像。撷取影像包含组合式框架1的接合区域。组合式框架1是应用于一平面显示装置，其可由L型构件、长条型构件、U型构件或以上的组合所组成，如图Ia至图le。于一实施例中，第一影像撷取装置可为一电荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)、互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS)传感器或接触式影像传感器(Contact Image SensonCIS)。数据库22用以储存至少一参考影像。比较单元23与第一影像撷取装置21a以及数据库22电性连接。比较单元23比较第一影像撷取装置21a所撷取的撷取影像以及数据库22中所储存的参考影像，并判定组合式框架1的接合区域是否存在缺陷。于一实施例中，数据库22中所储存的参考影像可为具有缺陷的组合式框架的撷取影像。因此，当第一影像撷取装置21a所撷取的撷取影像与参考影像相同时，即可判定组合式框架具有缺陷而必须剔除。当撷取影像与参考影像不同时，组合式框架即判定为合格品。需注意者，判定为合格的组合式框架中可能包含新型态的缺陷，亦即其撷取影像与数据库22中的参考影像皆不相同。此时，将包含新型态缺陷的撷取影像储存于数据库中即可作为下次检测时的参考影像。于另一实施例中，数据库22中所储存的参考影像可为合格的组合式框架的撷取影像。因此，当第一影像撷取装置21a所撷取的撷取影像与参考影像相同时，组合式框架即判定为合格品。当撷取影像与参考影像不同时，即可判定组合式框架具有缺陷而必须剔除。请再参照图2，于一实施例中，本专利技术的自动光学检测系统包含一警示单元M，其与比较单元23电性连接。警示单元M可用以在比较单元23检测到具有缺陷的组合式框架时警示一操作者作适当的处理。举例而言，警示单元M可为一指示灯号或于一显示装置显示适当的警示信息。请参照图3，于一实施例中，本专利技术的自动光学检测系统包含一第二影像撷取装置 21b。第二影像撷取装置21b亦是用以撷取组合式框架的撷取影像，以供比较单元23将其与参考影像进行比较。于一实施例中，第二影像撷取装置21b可为一电荷耦合元件、互补式金属氧化物半导体传感器或接触式影像传感器。如图3所示，第一影像撷取装置21a是设置于组合式框架的上方，亦即第一影像撷取装置21a的撷取影像方向与组合式框架所在的平面垂直。第一影像撷取装置21a可用以撷取组合式框架的俯视影像。而第二影像撷取装置21b则设置于组合式框架的斜上方，亦即第二影像撷取装置21b的撷取影像方向与组合式框架所在的平面具有一夹角。第二影像撷取装置21b可用以撷取组合式框架的斜视影像。第一影像撷取装置21a所撷取的俯视影像可用以判定斜焊、偏焊、焊道不全或焊道破损等缺陷。第二影像撷取装置21b所撷取的斜视影像可用以判定构成组合式框架的构件未共面的缺陷，例如构件IlaUlb在接合区域具有高度差，如图3所示。请再参照图3，于一实施例中，本专利技术的自动光学检测系统包含一第一光源25a， 其设置于组合式框架的上表面侧。第一光源2 用以提供组合式框架的上表面的照明，以使第一影像撷取装置21a及/或第二影像撷取装置21b可撷取到较为清晰的撷取影像。于一实施例中，第一光源2 可为一环形光源，而第一影像撷取装置21a则通过环形光源的中央孔251撷取组合式框架的影像，以使组合式框架的上表面不会有照明以及撷取影像的死角。需注意的是，设置多个第一光源2 亦可达到与环形光源相同的效果。此外，于一实施例中，本专利技术的自动光学检测系统还包含一第二光源25b，其设置于组合式框架的下表面侧。如此，当焊道不全或焊道破损时，第二光源2 所发出的光线即会透过焊道的缺陷，而被第一影像撷取装置21a所撷取并呈现在撷取影像上，使比较单元25易于判定焊道不全或焊道破损等缺陷。需注意的是，第一光源2 及/或第二光源2 可包含多种发光色系。依据组合式框架的材料特性，操作者可选用适合色系的光源，使组合式框架产生适当的反射， 以供影像撷取装置撷取影像。综合上述，本专利技术的自动光学检测系统能够以自动化的方式撷取组合式框架的影像，并将所撷取的影像与一参考影像比较以确认组合式框架的接合品质。因此，本专利技术的自动光学检测系统可大幅缩短检测以及生产组合式框架的时间，并节省检测组合式框架的接合品质的人力成本。以上所述的实施例仅是为说明本专利技术的技术思想及特点，其目的在使熟悉此项技术的人士能够了解本专利技术的内容并据以实施，当不能以其限定本专利技术的专利范围，即凡是根据本专利技术所揭示的精神所作的均等变化或修饰，仍应涵盖在本专利技术的专利范围内。权利要求1.一种自动光学检测系统，其特征在于，包含一第一影像撷取装置，其用以撷取一组合式框架的一撷取影像，该撷取影像包含该组合式框架的接合区域；一数据库，其用以储存至少一参考影像；以及一比较单元，其与该第一影像撷取装置以及该数据库电性本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种自动光学检测系统，其特征在于，包含：一第一影像撷取装置，其用以撷取一组合式框架的一撷取影像，该撷取影像包含该组合式框架的接合区域；一数据库，其用以储存至少一参考影像；以及一比较单元，其与该第一影像撷取装置以及该数据库电性连接，用以比较该撷取影像以及该参考影像，并判定该组合式框架是否存在缺陷。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林网生，
申请(专利权)人：州巧科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71