本发明专利技术为一种触控面板近接侦测装置与方法。运用在单层电极层中以矩阵方式排列的电极结构的电容式触控面板，其电极的近接感应功能可侦测到近接感应信号，将近接感应信号输出为一阶或多阶近接数据，并依据一阶或多阶近接资料计算出各个维度的相对坐标与移动趋势。通过不同时序的一阶近接数据可得空间中的平面移动手势，通过多阶近接资料可取得三个维度的移动趋势，并计算近接空间当中的三维手势。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一种触控面板，特别是关于一种。
技术介绍
随着光电科技的发展，近接切换装置已被大量运用在不同的机器上，例如智能性手机、运输工具的购票系统、数字照像机、遥控器与液晶屏幕等。常见的近接切换装置 (Proximity Device)包括如近接传感器(Proximity sensor)与角虫控面板(touch panel) 等。其中，近接传感器的运作方式为当一物体靠近传感器的感应范围内，近接传感器在触及该物体或不触及物体的状况下，经由近接感应的方式得知该物体接近近接传感器所在的位置。近接传感器将感应所得的信号转变为一电子信号，系统或机器会依据该电子信号做出适当的反应，达成控制系统状态的目的。触控面板则用于触碰坐标的计算，如单点触碰坐标或者多点触碰坐标的计算。近接传感器又称近接开关(Proximity Switch)，应用在许多液晶电视、电源开关、 家电开关、门禁系统、手持式遥控器与手机等，近年来，更是这些装置与设备不可或缺的角色之一。它负责侦测物体是否靠近，以便让控制器了解目前物体所在的位置。以家电应用来说，近接传感器被大量用在灯源的控制上，只要靠近近接传感器或碰触近接传感器，依据感测信号灯源就可进行开或关的动作。而近接传感器的种类及外型琳琅满目，为长方型、四方型、圆柱型、圆孔型、沟型、多点型等。依其原理可分成以下4种类型电感式、电容式、光电式与磁气式。由上可知，近接传感器与触控面板的应用领域差异极大，分别做为切换开关与触碰坐标的计算。以目前的技术而言，并未有如何处理近接传感器与触控面板两者的整合应用技术。因此，如何能整合近接传感器与触控面板两者，进而让近接传感器的短距离空间感测功能与触碰坐标侦测功能整合，成为可让电子设备大幅增加应用功能可能性的研究方向。
技术实现思路
鉴于以上公知技术的问题，本专利技术提供一种，用以侦测空间中对象进入触控面板的感应范围的情形。本专利技术提出一种触控面板近接侦测装置，包括以下主要组件电容式触控面板与控制单元。其中，电容式触控面板，具有位于同一平面的多个电极，该些电极彼此绝缘并各自对应于一坐标，该些电极用以侦测一对象的接近而产生一感应信号，并侦测该对象的触碰而产生一触碰信号。控制单元，连接电容式触控面板并具有一近接侦测模式与一触碰侦测模式，当执行近接侦测模式时，依据感应信号产生一近接数据；当执行触碰侦测模式时， 依据触碰信号计算对象的至少一坐标数据。本专利技术更提供一种触控面板近接侦测方法，运用于具有多个电极的一面板，该些电极彼此绝缘且对应于一坐标，用以侦测一对象的接近而产生一感应信号且侦测该对象的触碰而产生一触碰信号，该方法包含以下步骤提供该电容式触控面板一近接侦测模式； 执行该近接侦测模式；依据一工作时序，侦测一对象进入该些电极的空间感应区所产生的该感应信号；依据该工作时序与该电极所输出的该感应信号，产生一近接数据；及依据不同的该工作时序、该电极的该坐标与该电极所对应的该近接数据，计算该对象的一 X轴移动趋势、一 Y轴移动趋势与一 Z轴移动趋势。为让本专利技术的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举数个较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下附图说明图IA为其为本专利技术的触控面板近接侦测装置的功能方块图；图IB为其为本专利技术的触控面板近接侦测装置的功能方块图中选择近接侦测模式的示意图；图2A为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象以轨迹32经过触控面板11时的侦测示意图；图2B为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时的A-A剖面侦测示意图；图2C为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时的B-B剖面侦测示意图；图2D为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时，于时序T1、T2所输出的近接数据示意图；图2Ε为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时，于时序Τ3、Τ4所输出的近接数据示意图；图2F为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时，于时序Τ5、Τ6所输出的近接数据示意图；图2G为图2D中，于时序Tl所输出的近接数据详细内容示意图；图2Η为图2D中，于时序Τ2所输出的近接数据详细内容示意图；图21为图2Ε中，于时序Τ3所输出的近接数据详细内容示意图；图2J为图2Ε中，于时序Τ4所输出的近接数据详细内容示意图；图I为图2F中，于时序Τ5所输出的近接数据详细内容示意图；图2L为图2F中，于时序Τ6所输出的近接数据详细内容示意图；图3Α为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象以轨迹32经过触控面板11时的侦测示意图，其为选择近接侦测模式下的实施例；图;3Β为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时的A-A剖面侦测示意图；图3C为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时的B-B剖面侦测示意图；图3D为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 时，于时序Τ1、Τ2所输出的近接数据示意图；图3Ε为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11吋，于时序T3、T4所输出的近接数据示意图；图3F为运用本专利技术触控面板近接侦测装置中，对象2以轨迹32经过触控面板11 吋，于时序T5、T6所输出的近接数据示意图；图3G为图3D中，于时序Tl所输出的近接数据详细内容示意图；图3H为图3D中，于时序T2所输出的近接数据详细内容示意图；图31为图3E中，于时序T3所输出的近接数据详细内容示意图；图3J为图3E中，于时序T4所输出的近接数据详细内容示意图；图I为图3F中，于时序T5所输出的近接数据详细内容示意图；图3L为图3F中，于时序T6所输出的近接数据详细内容示意图；图4为运用本专利技术的触控面板近接侦测装置，所侦测出的空间相对坐标，再依据 空间相对坐标计算得移动趋势，再由移动趋势判断手势的示意图；图5为本专利技术的触控面板三维近接感应侦测方法流程图，ー阶近接侦测模式的一 实施例；图6为本专利技术的触控面板三维近接感应侦测方法流程图，多阶近接侦测模式的一 实施例；图7为本专利技术的触控面板三维近接感应侦测方法流程图，多阶近接侦测模式的另 一实施例；图8为本专利技术的触控面板三维近接感应侦测方法流程图，选择近接侦测模式的一 实施例；及图9为本专利技术的触控面板三维近接感应侦测方法流程图，选择近接侦测模式的另 ー实施例。符号说明1 触控面板近接侦测装置2物件11 触控面板14 触控感测电路16近接感测电路18 控制电路El E24 电极22 控制单元24连接板32、34轨迹41、42、43、44、45、46、47、53、59 感应范围Dl 距离Pl P7 相对坐标Tl T6 时序具体实施例方式本专利技术运用电容式触控面板本身所具有的近接感应功能，将所侦测到的近接感应 信号输出为近接数据，并依据近接数据计算出各个维度的移动趋势，再依据各个维度的移 动趋势来计算近接空间当中的手势判断，进而输出为控制指令。其中，本专利技术运用一控制单 元来实现触控感测与近接感测功能，并通过単一总线输出代表近接感应信号结果的近接数 据与代表触碰坐标的坐标资料。电容式触控面板主要分两类，分本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种触控面板近接侦测装置，其特征在于，包含：一电容式触控面板，具有位于同一平面的多个电极，该些电极彼此绝缘并各自对应于一坐标，该些电极用以侦测一对象的接近而产生一感应信号，并侦测该对象的触碰而产生一触碰信号；及一控制单元，连接该电容式触控面板并具有一近接侦测模式与一触碰侦测模式，当执行该近接侦测模式时，依据该感应信号产生一近接数据，当执行该触碰侦测模式时，依据该触碰信号计算该对象的至少一坐标数据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈亦达，颜敏峰，
申请(专利权)人：谊达光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71
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