【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检具，特别涉及一种镭射测高检具。
技术介绍
在加工行业的生产过程中，有时需要对产品的高度进行检测，而且对检测的精度有较高的要求，一般的常规检具很难达到要求，因此在对产品的高度进行检测时往往需要使用到2. 5D甚至3D的测量设备，这些测量设备虽然精度很高，但成本较高，使得企业的成本增加，而且采用这种2. 5D、3D的测量设备往往需要较长的测量时间较长，因此使用起来效率较低。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本技术要解决的技术问题是提供一种结构简单、 制造成本低，使用方便、测量精度高的检具。为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案一种镭射测高检具，其包括一机架，所述机架上设有一放置产品用的平台，所述平台的一侧设有一镭射测高主机，所述镭射测高主机上设有可上下移动的探头，所述镭射测高主机与一 IXD连接。优选的，所述平台上设有基准块，所述探头下端设有限位块，所述限位块与所述基准块位置相对，所述平台上还设有一产品仿形治具，所述产品仿形治具的上表面与所述基准块的上表面位于同一水平面上。优选的，所述机架上还有归零块，所述归零块与所述限位块相对，所述归零块通过一...
【技术保护点】
１．一种镭射测高检具，其特征在于：其包括一机架，所述机架上设有一放置产品用的平台，所述平台的一侧设有一镭射测高主机，所述镭射测高主机上设有可上下移动的探头，所述镭射测高主机与一ＬＣＤ连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：史树杰，
申请(专利权)人：应华精密表面处理苏州有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32
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