本发明专利技术提供一种光头以及光盘装置。在干涉型的光头以及光盘装置中，难以正确地使作为来自光信息记录介质的反射光的信号光和与信号光干涉的参照光的光轴一致，并且难以高精度地生成干涉光。通过角锥棱镜等在伴有位置偏移的状态下高精度地反射与来自光信息记录介质的信号光干涉的参照光，在伴有位置偏移的状态下使信号光和参照光成为高精度地平行的状态。此外，使用偏振分离单元对这些信号光和参照光进行二分，生成干涉光。由此，能够提供再生信号稳定、与目前相比为高品质的干涉型光头以及光盘装置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光盘装置的再生信号的高S/N化。
技术介绍
关于光盘，到使用蓝色半导体激光器、高NA物镜的蓝光光盘已经产品化的阶段， 作为光学系统的分辨率几乎到达了极限，面对进一步的大容量化，今后考虑记录层的多层化是起作用的。在这样的多层光盘中，由于需要来自各记录层的检测光量大体相同，不得不减小来自特定的记录层的反射率。但是，由于在光盘大容量化的同时还需要视频等的配音速度的高速化，所以数据传输速度的高速化也在继续进行，在这样的情况下无法充分确保再生信号的S/N比(信噪比)。因此，为了今后同时推进记录层的多层化和高速化，需要检测信号的高S/N化。例如在专利文献1、专利文献2以及专利文献3等中叙述了与光盘的再生信号的高 S/N化有关的技术。专利文献1、专利文献2与磁光盘的再生信号的高S/N化有关，目的在于使来自半导体激光器的光在照射到光盘之前分支，使不照射光盘的光与来自光盘的反射光合波来进行干涉，由此经由增大不照射在光盘的光的光量来放大微弱信号的振幅。目前在磁光盘的信号检测中使用的偏振分束器的透过光和反射光的差动检测中，本质上是使原本的入射偏振成分与经过磁光盘的偏振旋转而产生的与入射偏振方向垂直的偏振成分干涉， 以入射偏振光放大垂直偏振成分来进行检测。因此，如果增大原本的入射偏振成分则能增大信号，但是需要将入射到光盘的光强度抑制到某种程度以下，以便不会消除或者覆盖数据。对此，在上述现有技术中，预先分离与信号光干涉的光，能够与盘表面的光强度无关系地增强使其不是在光盘上聚光地与信号光干涉、、而是用于信号放大而干涉的光的强度。由此在原理上光强度的允许范围内，越增大强度，越能够提高与对来自光检测器的光电流进行电压变换的放大器的噪音相比的S/N比。在专利文献3中，关于使用光致变色介质的光盘的再生信号的高S/N比，与参考文献1、参照文献2相同，经由使不照射光盘的光与来自光盘的反射光干涉，来进行信号放大。关于使用光致变色介质的光盘，因为用于信号再生的入射光的强度越高越加速介质的恶化，所以与上述磁光盘相同向记录介质照射的光的强度具有限制。在专利文献1中，使两个光干涉来检测干涉光强度。此时，使干涉的盘反射光的光路长度可变，来确保干涉信号振幅。在专利文献2、专利文献3、专利文献4中除了干涉光强度检测，还进行差动检测。由此消除对信号无作用的各光的强度成分，经由使信号振幅成为 2倍来实现高S/N化。一般，由两个光的干涉得到的干涉信号的振幅依赖于干涉的两个光之间的相位差 (光路长度差)，当上述光路长度差以使用的光源的波长程度的等级进行变动时，振幅变动变得不稳定。对此，在专利文献4、专利文献5、专利文献6、专利文献7中生成相互干涉状态不同的多个干涉信号，通过它们的运算来生成信号，由此谋求输出不依赖于干涉相位的放大信号。专利文献1日本特开平5_；3似678号公报专利文献2日本特开平6-22；3433号公报专利文献3日本特开平6-068470号公报专利文献4日本特开2008-65961号公报专利文献5日本特开2008-243273号公报专利文献6日本特开2008-310942号公报专利文献7日本特开2008-269680号公报
技术实现思路
在上述使用光的干涉的信号的检测方法中，为了正确地得到放大后的信号，需要正确地使干涉的两个光束的位置、光轴方向一致。特别是对光轴方向的精度要求0.001度级别这样的非常高的精度。例如在专利文献4中，经由反射镜反射与来自光盘的反射光(信号光)干涉的光束(参照光)，但是由于反射镜的微小的倾斜产生光轴偏移，产生信号光和参照光之间的光轴偏移。对此，在专利文献5中，在由透镜使参照光聚光后由反射镜反射， 就能确保光轴方向的高精度。这是因为即使在反射由透镜会聚后的光束的反射镜中产生倾斜，在反射光再次通过透镜成为平行光时不会产生光轴的倾斜。信号光也相同地经由物镜使其在光盘上聚光然后反射，所以不会因为光盘的倾斜而产生光轴的倾斜。同样地在专利文献6中，成为经由使参照光入射到角锥棱镜(corner cubeprism)的中心并反射，来提高反射光的光轴方向的精度的结构。即，因为以高精度确定了信号光与参照光的光轴方向， 所以不产生合波时的光轴方向偏移，能够稳定地确保输出信号。此外，在专利文献7中成为使用光束位移器(beam displacer)、角锥棱镜等使参照光正确地反平行(即光轴方向相差 180° )出射，由此提高参照光的光轴方向的精度，抑制信号光与参照光之间的光轴方向误差的结构。但是，在上述的专利文献5、6、7中，信号光和参照光在相互垂直的偏振状态下合波后，生成相互不同的相位关系的多个合波光束，因此使用无偏振分束器或无偏振衍射光栅。这样的元件产生在两个不同的偏振状态(水平偏振、垂直偏振)下不同的相位差，一般难以将该相位差的值控制为希望的值。因为其实质的原因，存在在生成的干涉光中的信号光和参照光的相位差中产生误差，结果再生信号变得不稳定的课题。此外，难以正确地控制无偏振分束器的分支比(透过光与反射光的强度比)。在上述现有技术中，与偏振状态无关需要使分支比为1 1，但实际上产生误差，在这一点上也存在再生信号不稳定的课题。本专利技术的第一目的在于提供一种能够容易地进行两个光的光轴调整、信号放大效果高、输出稳定的干涉型的光头。本专利技术的第二目的在于提供一种能够容易地进行两个光的光轴调整、信号放大效果高、输出稳定的干涉型的光盘装置。为了达成本专利技术的第一目的使用以下的方法。(1)由以下构成半导体激光器等光源；把从光源出射的光束分离为信号光束和参照光束的偏振分束器等偏振分离单元；使所述信号光束在光信息记录介质上聚光并照射的物镜等聚光单元；对从所述光信息记录介质反射并遵循逆向的轨迹的信号光，伴有位置偏移地平行地出射所述参照光的角锥棱镜等形成的平行光出射单元；分离所述信号光和所述参照光的偏振光的光束位移器等第二偏振分离单元；分别将偏振分离单元生成的信号光和参照光的各个进行合波，产生合波光束的光束位移器等合波单元；从所述合波光束产生信号光与参照光的干涉光的渥拉斯顿棱镜等干涉光生成单元；检测所述干涉光生成单元生成的干涉光的各个的检测器。由此，能够在高精度地确定了信号光和参照光的光轴方向的状态下产生这些光束，能够稳定地得到放大信号。(2)在(1)中，所述平行光出射单元由伴有位置偏移地平行地出射从所述偏振分离单元生成的参照光的角锥棱镜等平行光反射单元以及所述偏振分离单元构成，所述偏振分离单元反射从所述平行反射单元出射的参照光。由此，即使在不同的方向上出射从所述偏振分离单元生成的信号光和参照光的情况下，也可以在容易分离的状态下使信号光和参照光平行，通过降低调整数有助于降低光头的成本。(3)在O)中所述平行光反射单元是角锥棱镜。由此，可以容易地生成伴有位置偏移平行地反射的光束，光头的组装调整变得容易ο(4)在O)中，设所述平行光反射单元是在与中心轴不同的场所，与中心轴平行地入射所述参照光的聚光单元和配置在所述聚光单元的焦点位置的反射镜。由此，可以仅通过价格便宜的光学部件生成伴有位置偏移地平行反射的光束，可以实现光头的低成本化。(5)在(1)中设所述平行光出射单元由以下构成不伴有位置偏移地向完全相反的方向出射从所述偏振分离单元生成的参照光的反射单元本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种光头，其特征在于，包括：光源；偏振分离单元，其把从光源出射的光束分离为信号光束和参照光束；聚光单元，其把所述信号光束聚光并照射在光信息记录介质上；平行光出射单元，其对从所述光信息记录介质反射并遵循逆向的轨迹的信号光，伴有位置偏移地平行地出射所述参照光；第二偏振分离单元，其分离所述信号光和所述参照光的偏振光；合波单元，其将由所述偏振分离单元生成的信号光和参照光的各个进行合波，产生合波光束；干涉光生成单元，其从所述合波光束产生信号光和参照光的干涉光；以及检测器，其检测从所述干涉光生成单元生成的干涉光的各个。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：三上秀治，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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