利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法技术

技术编号:7029572 阅读:363 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法,本发明专利技术涉及一种使用光纤光栅检测温度变化的方法。用于检测温度变化。它解决了利用反射光波长变化测量待测温度变化时因为反射光波长是一个范围值而很难精确确定反射光波长变化数值的问题。本发明专利技术的方法包括下述步骤:一、将入射光入射到光纤光栅后反射,所述光纤光栅为偏振相关的光栅;二、得到的反射光在偏振光栅选定的长轴和短轴方向上出现光谱差异,安置在光纤光栅反射光路中的PDL分析解调仪利用光谱差异得到光纤光栅偏振相关损耗值,三、将PDL分析解调仪得到的偏振相关损耗值的变化,换算成外界环境温度的变化值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种使用光纤光栅检测温度变化的方法。
技术介绍
光纤光栅传感技术是目前较为成熟的传感技术,光纤光栅是利用光纤材料的光敏性,通过紫外光曝光的方法将入射光相干场图样写入纤芯,在纤芯内产生沿纤芯轴向的折射率周期性变化,从而形成永久性空间的相位光栅,其实质就是在纤芯内形成一个窄带的 (透射或反射)滤波器或反射镜。利用这一特性可制造出许多性能独特的光纤器件,它们都具有反射峰值波长可调范围大、附加损耗小、体积小,易与光纤耦合,可与其它光器件兼容成一体,不受环境尘埃影响等一系列优异性能。当光纤光栅所处环境的温度发生变化时,光栅的周期和纤芯折射率将发生变化, 从而使反射光的峰值波长发生相应的变化,通过测量待测温度变化前后反射光波长的变化,就可以计算出待测温度的变化情况。利用测量反射光的峰值波长变化测温度的测量方法如图1和图2所示,该测量方法存在的缺点是反射光的峰值波长曲线是一个比较宽的单峰曲线,环境温度变化后,单峰曲线沿横轴(横轴代表反射光波长的值,纵轴代表反射光的功率)发生位移,由于单峰曲线在最高点处较平坦,因此很难精确确定因为温度变化出现的反射光波长变化。专
技术实现思路
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【技术保护点】
1.利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法,其特征在于它的方法包括下述步骤:一、将入射光入射到光纤光栅后反射,所述光纤光栅为偏振相关的光栅;二、得到的反射光在偏振光栅选定的长轴和短轴方向上出现光谱差异,安置在光纤光栅反射光路中的PDL分析解调仪利用光谱差异得到光纤光栅偏振相关损耗值,三、将PDL分析解调仪得到的偏振相关损耗值的变化,换算成被测温度的变化值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:励强华张剑田春华高社成
申请(专利权)人:哈尔滨师范大学
类型:发明
国别省市:93

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