本发明专利技术涉及不挥发电荷存储器件的制备方法、所得不挥发电荷存储器件及其应用。所述不挥发电荷存储器件的制备方法，具体步骤如下：a)用原子层化学气相沉积方法在衬底表面沉积Al2O3，形成隧穿层；b)用原子层化学气相沉积方法在隧穿层表面沉积一层(HfO2)x(Al2O3)1-x薄膜作为存储层；c)用原子层化学气相沉积方法在(HfO2)x(Al2O3)1-x存储层表面沉积一层Al2O3作为阻挡层。不挥发电荷存储器件包含顺序连接的隧穿层、存储层和阻挡层，利用Al2O3作为存储器件的隧穿层和阻挡层，(HfO2)x(Al2O3)1-x作为器件的存储层。本发明专利技术能够很好的提高器件的写入和擦除速度，同时这种制备方法操作简单、易于控制。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种不挥发电荷存储器件、其制备方法及应用，属微电子材料领域。
技术介绍
几十年来，集成电路的发展基本遵循了 Intel公司创始人之一的Gordon Ε. Moore 博士 1964年预言的摩尔定律在集成电路的单个芯片上集成的元件数，即集成电路的集成度，每12至18个月增加一倍，特征尺寸缩小倍。随着器件的特征尺寸越来越小，传统的浮栅型不挥发半导体存储器件面临严重的漏电问题。浮栅型存储器件中隧穿层尺寸的不断减小，以至于一个缺陷就会导致多晶硅浮栅中存储的电荷全部损失。为了解决这一难题，多晶硅-氧化物-氮化物-氧化物-硅(S0N0Q型半导体存储器件被广泛地研究。但是，研究表明利用氮化物(Si3N4)作为存储层制备的电荷存储器件的数据保持性能较差，同时传统的S^2隧穿层和阻挡层的厚度也是越来越薄，由于量子隧穿效应导致的隧穿电流迅速增加，结果导致SiO2层不能起到绝缘介质的作用，器件的漏电流已达到无法承受的地步。采用高介电常数(high-k)材料可以在保证对沟道有相同控制能力的条件下，栅介质层的物理厚度增大，于是栅层与沟道间的直接隧穿电流将大大减小。高介电常数(high-k) (HfO2)x(Al2O3)I-X 二元氧化物已经被研究证明能很好的减小漏电流。相比于纯的HfO2, (HfO2)x(Al203)h 二元氧化物具有高的电荷陷阱密度，能显著提高电荷存储性能。相比SiO2,Al2O3具有高的介电常数(9)和宽的禁带宽度(8. 8eV)，所以采用Al2O3作为隧穿层和阻挡层代替SiO2,能很好的减小漏电流和提高器件的存储性能。原子层化学气相沉积(ALD)是high-k材料制备领域正在发展中的极具挑战性的一种制备技术。其原理是利用气相源在衬底表面吸附或反应的自饱和性实现逐层(layer by layer)生长，生成薄膜的厚度在工作窗口内不依赖于衬底温度、蒸气压、源流量等生长参数，只与循环周期的数目有关。由于其独特的自限制生长过程，原子层沉积成膜具有精确的厚度控制、优异的三维贴合性和大面积成膜均勻性等优点，在制备超薄薄膜、纳米结构方面独具优势。
技术实现思路
本专利技术提供一种不挥发电荷存储器件的制备方法，操作简单，易于控制，所得不挥发存储器件能够很好地提高器件的写入和擦除速度，显著提高器件的电荷存储性能。本专利技术还提供上述制备方法所得不挥发电荷存储器件。本专利技术还提供上述不挥发电荷存储器件在信息存储和不挥发半导体存储器件中的应用。所述不挥发电荷存储器件的制备方法，具体步骤如下a)以Al (CH3) 3作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面与氧源反应生成Al2O3，形成隧穿层；b)以HfCldt为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面与氧源反应生成HfO2,然后以Al (CH3)3作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面与氧源反应生成Al2O3，如此反复循环，在隧穿层表面沉积一层(HfO2) x (Al2O3) h薄膜作为存储层，其中0. 9彡χ彡0. 5。优选χ = 0. 8，通过调控沉积循环次数，控制χ值；C)以Al (CH3)3作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在(HfO2) ,(Al2O3) h存储层表面沉积一层Al2O3作为阻挡层。作为优选，隧穿层的厚度为2-4nm，阻挡层的厚度为8-lOnm。优选在阻挡层上面沉积钼作为上电极，衬底为Si。原子层化学气相沉积金属氧化物方法所述原子层化学气相沉积方法的具体步骤为金属源伴随氮气进入沉积室，与衬底表面反应并达到饱和，之后氧源由氮气带入腔体与金属源发生表面反应生成金属氧化物。一个循环过程的示意图如图1所示。从图1(a)中看出，氮气携带金属源进入沉积腔体；金属源与羟基(OH)终端的硅衬底反应，并使之达到饱和(图1 (b)所示)；随后，作为氧源的水进入腔体，发生表面反应(图1 (c))，从而获得预期的金属氧化物(图1(d))。所述不挥发电荷存储器件包含顺序连接的隧穿层、存储层和阻挡层，利用Al2O3作为存储器件的隧穿层和阻挡层，(HfO2)x(Al2O3)1I 二元氧化物作为器件的存储层。作为优选，以Si为沉底，Pt为上电极，所述不挥发电荷存储器件的结构为Si/ Al2O3/ (HfO2) x (Al2O3) JAWPt。所述的不挥发电荷存储器件在信息存储和不挥发半导体存储器件中的应用。使用 SiAl2O3/ (HfO2) x (Al2O3) ^yAl2O3ZPt电荷存储器件的方法和原理如下a) Si/Al203/(HfO2)X(Al2O3)1ViAl2CVPt 电荷存储器件的基本核心结构为 Al2O3/ (HfO2)x(Al2O3)1VAl2O3三明治结构(如图2所示)。b)当Pt电极相对与Si衬底施加一个正电压，电场由电极指向衬底。随着施加电压的增加，电场强度不断增加。P-Si衬底表面达到反型，形成表面电子通道，并且在电场作用下隧穿过Al2O3隧穿层，进入到Al2O3/(HfO2)x(Al2O3) ^Al2O3存储层，被电子陷阱态捕获， 达到存储的效果，该过程就是Si/Al203/Al203/(HfO2) X(A1203) h/Al^/Al^/Pt存储器件的写入过程。c)当切断电源，电子被存储在(HfO2)x(Al2O3)1I存储层中，而不会泄漏，从而起到电荷存储的效果。d)当Pt电极相对与Si衬底施加一个负电压，电场由衬底指向电极。一方面，P-Si 衬底中的空穴在电场作用下达到(HfO2)x(Al2O3)1I存储层与存储电子复合；另一方面，存储在(HfO2)x(Al2O3)1I中的电子在电场力的作用下，穿过隧穿层重新回到衬底。两种机制共同作用，达到对Si/Al203/(HfO2) JAIAWAIA/Pt存储器件的擦除操作。上述原子层化学气相沉积方法制备Al2O3/(HfO2)x (Al2O3) ^Al2O3电荷存储结构， 能够很好的提高器件的写入和擦除速度，同时这种制备方法使得隧穿层、存储层和阻挡层在一个沉积室内即可制作完成，操作简单、易于控制。使用该方法制备的Si/Al203/(HfO2) ,(Al2O3)1VAl2O3ZPt存储器件具有以下有益效果a)调节原子层沉积循环次数，沉积(HfO2)a8(Al2O3)a2作为存储层，结果表明该结构能够得到大的电荷存储滞回窗口。图3显示当扫描电压为士2V时，几乎没有窗口出现，表明此时并没有发生电荷存储现象。当扫描电压为士5V时，已经具有明显的滞回窗口。当扫描电压为士 14V时，存储窗口为5. 7V。b)图4显示，相比于纯的氧化铪(HfO2)作为存储层，(HfO2)a8(Al2O3)a2 二元氧化物薄膜能够显著的提高器件的电荷存储性能。这是由于Al2O3与HfO2形成二元氧化物，能提高薄膜中的陷阱态密度，从而在相同的写入电压下，(HfO2)a8(Al2O3)a2具有更高的电荷存储量。c)由图5可以看出，随着隧穿层Al2O3厚度的不断减小，SiAl2O3/ (HfO2) 0.8 (Al2O3) 0.2/Al203/Pt存储器件的写入和擦除速度不断增加。对于采用2nmAl203作为隧穿层，当存储窗口为IV时，所对应的写入和擦除速度分别为10V本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种不挥发电荷存储器件的制备方法，其特征在于具体步骤如下：ａ）以Ａｌ（ＣＨ３）３作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面反应生成Ａｌ２Ｏ３，形成隧穿层；ｂ）以ＨｆＣｌ４作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面反应生成ＨｆＯ２，然后以Ａｌ（ＣＨ３）３作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在衬底表面反应生成Ａｌ２Ｏ３，如此反复循环，在隧穿层表面沉积一层（ＨｆＯ２）ｘ（Ａｌ２Ｏ３）１－ｘ薄膜作为存储层，其中０．９≥ｘ≥０．５，通过调控沉积循环次数，控制ｘ值；ｃ）以Ａｌ（ＣＨ３）３作为金属源，水作为氧源，用原子层化学气相沉积方法在（ＨｆＯ２）ｘ（Ａｌ２Ｏ３）１－ｘ存储层表面沉积一层Ａｌ２Ｏ３作为阻挡层。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：汤振杰，刘治国，殷江，夏奕东，李爱东，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：发明
国别省市：84
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