压印痕宽度检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种压印痕宽度检测装置及方法，涉及液晶技术领域，解决了现有技术中压印痕宽度测量准确率低、效率低的问题，本发明专利技术所述压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本发明专利技术主要应用于液晶面板的制作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶
，尤其涉及压印痕(Nip)宽度检测装置及方法。
技术介绍
目前液晶显示技术中，液晶面板包括薄膜晶体管(TFT)阵列基板和彩膜基板 (Color filter)，在TFT阵列基板和彩膜基板之间滴注有液晶，所述TFT阵列基板和彩膜基板与液晶接触的面上形成有取向膜，所述取向膜上有锯齿状的沟槽。形成所述沟槽的方法， 一般是在所述基板表面涂布一层聚酰亚胺(Polyimide，PI)膜，通过摩擦工艺在PI膜上形成一定取向的沟槽。液晶分子沿沟槽排列，使PI表面的液晶分子不再杂乱的分布，而是依照沟槽固定而均一的方式排列，使液晶显示设备能够正常显示。但是由于摩擦布(RiAbing cloth)的不良会导致摩擦产生的沟槽不均勻，从而导致液晶分子排列不均勻，最终产生显示不良。为了使所述沟槽均勻需要控制摩擦工艺，而控制摩擦工艺的核心就是控制摩擦强度，现有技术中可以通过测量压印痕宽度来控制摩擦强度。但是在实际操作中压印痕宽度测量通常由人用肉眼观测完成。当基板尺寸较大时，比如五代线的基板，为了减少测量的工作量，现有技术中采用肉眼观测的方式测量基板压印痕部分区域的压印痕宽度。这种取部分区域压印痕宽度的样本代表整个基板压印痕宽度的方式准确度不高；如果通过肉眼测量更大区域的压印痕宽度来提高准确度，将造成工作量大，测量效率降低。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种，能够提高测量基板上的压印痕宽度的效率和准确度。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案一种压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构， 所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。一种压印痕宽度检测方法，利用压印痕宽度检测装置进行检测，所述压印痕宽度检测装置包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构、及测量系统，所述压印痕宽度检测方法包括通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像；通过所述测量系统测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本专利技术所述，所述支撑移动结构带动所述图像获取装置移动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板上的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，所述测量系统读取所述压印痕图像，并根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。与现有技术相比，使用本专利技术实施例所述技术方案，当被测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。所述压印痕图像的获取过程可以由本专利技术实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，省去了人工的反复操作，提高了测量的效率。在获取了所述压印痕图像后，由所述测量系统根据所述压印痕图像计算所述压印痕图像中的压印痕宽度，进一步提高了测量的效率，同时也提高了测量的准确度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例所述优选压印痕宽度检测装置的结构图；图2为本专利技术实施例所述改进的压印痕宽度检测装置的左视图；图3为本专利技术实施例所述图像获取装置的放大图；图4为本专利技术实施例所述压印痕宽度检测装置的俯视图；图5为本专利技术实施例所述压印痕宽度检测方法的流程图；图6为本专利技术实施例所述改进的压印痕宽度检测方法的流程图；图7为本专利技术实施例所述测量压印痕图像中的压印痕宽度的测量示意图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供了一种压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本专利技术所述压印痕宽度检测装置，所述支撑移动结构带动所述图像获取装置移动，使所述图像获取装置能够获取到被测基板上的任意位置的压印痕图像。在获取到所述被测基板的压印痕图像后，所述测量系统读取所述压印痕图像，并根据所述压印痕图像测量出所述压印痕宽度，完成对所述压印痕宽度的检测。使用本专利技术实施例所述压印痕宽度检测装置，当待测基板较大时，比如五代线的基板或者八代线的基板，仍可以检测出所述被测基板上压印痕的全部区域内的压印痕宽度，使检测结果更准确。所述压印痕图像的获取过程可以由本专利技术实施例所述压印痕宽度检测装置自动完成，省去了人工的反复操作，提高了测量的效率。在获取了所述压印痕图像后，由所述测量系统根据所述压印痕图像计算所述压印痕图像中的压印痕宽度，进一步提高了测量的效率，同时也提高了测量的准确度。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种优选的压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的支撑条1和支撑条2，所述支撑条1和支撑条2上架设有能够沿所述支撑条1和支撑条2移动的杆体3，所述杆体3上设有能够沿所述杆体3移动的图像获取装置4，所述图像获取装置4用于获取所述待测基板上的压印痕图像。所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。使用时，根据待测基板上压印痕位置，将所述图像获取装置4沿所述杆体3移动， 所述杆体3沿所述支撑条1和支撑条2移动，将所述图像获取装置4移动到能够获取所述待测基板上压印痕的位置，所述图像获取装置4获取所述压印痕图像。在所述图像获取装置4获取到所述压印痕图像后，所述测量系统读取所述图像获取装置4获取到的所述压印痕图像，读出所述压印痕图像后，可以采用手动的方式，获取需要测量的所述压印痕图像部分的两个边界线；也可以通过设定计算机程序的方式，由计算机自动获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线。在获取所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线后，所述测量系统根据所述需要测量的压印痕图像部分的两个边界线计算出所述压印痕宽度。根据摩擦工艺对摩擦沟槽的要求，预先设定压印痕宽度参照值，和允许的误差值。 在所述压印痕宽度被测量出来后，将测量出的压印痕宽度值同参照值进行比较，当测量出的压印痕宽度值同参照值之间的误差在允许的范围内时，表示被测量部分的压印痕宽度符合摩擦工艺的要求。当测量出的压印痕宽度值同参照值之间的误差超出允许的范围内时， 表示被测量部分的压印痕宽度不符合摩擦工艺的要求。当被测量部分的压印痕宽度不符合摩擦工艺的要求时，需要调整摩擦布，如果测量出的压印痕过宽，则把摩擦布对应位置力度调小；如果测量出的压印痕过窄，则把摩擦布对应位置力度调大。重新调整好摩擦布以后， 重新制作待测压印痕基板，重新测量。本实施例所述压印痕宽度检测装置，所述杆体能够沿所述支撑条移动，所述杆体上的图像获取装置可以沿所述杆体运本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种压印痕宽度检测装置，其特征在于，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。

【技术特征摘要】
1.一种压印痕宽度检测装置，其特征在于，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。2.根据权利要求1所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述支撑移动结构包括分别设置于待测基板两侧的两条支撑条；所述两条支撑条上架设有沿所述两条支撑条移动的杆体，所述杆体上设有沿所述杆体移动的图像获取装置。3.根据权利要求2所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述杆体上设置有沿所述杆体移动的安装架，所述图像获取装置安装在所述安装架上，并且所述图像获取装置沿所述安装架移动。4.根据权利要求3所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述安装架上还设有液晶滴注装置。5.根据权利要求2、3或4所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述两个支撑条之间设有支撑所述待测基板的支撑脚。6.根据权利要求5所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述支撑脚使用透明的有机玻璃材料制成。7.根据权利要求5所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述两个支撑条之间设有照向所述待测基板的板状背光源，所述支撑脚设置在背光源之上；或者所述两个支撑条之间设有照向所述待测基板的点状背光源，所述点状背光源分布在所述支撑脚之间。8.根据权利要求7所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述板状背光源上面贴有一层偏光片，所述偏光片偏光方向和所述待测基板上的压印痕取向平行。9.根据权利要求8所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，在所述图像获取装置获取图像的光路上加装可旋转的偏光滤镜。10.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的压印痕宽度检测装置，其特征在于，所述图像获取装置上设有照向所述待测基板的光源。11.一种压印痕宽度检测方法，利用压印痕宽度检测装置进行检测，其特征在于，所述压印痕宽度检测装置包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构、及测量系统，所述压印痕宽度检测方法包括通过所述图像获取装置获取所述待测基板上的压印痕图像； 通过所述测量系统测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。12.根据权利要求11所述的压印痕宽...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋勇志，鲁姣明，王煦，罗会月，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11