一种珠体宽度缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿路径折线，将待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。本发明专利技术通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在路径折线基础上精细定位，获得珠体宽度边缘对，珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及视觉图像检测
，尤其涉及一种宽度缺陷检测方法及装置。
技术介绍
珠体具有一致的宽度和不规则的延展路径，例如电线或缆绳等均属于珠体。珠体各个位置处的宽度一致，但是延展路径不规则；其中，珠体的延展路径可能为基本趋势为直线的路径，例如曲线；当珠体的延展路径的弯曲度较大时，其基本趋势可以是折线等；而且，珠体的延展路径还可以为基本趋势为圆形的路径，例如闭合曲线或者圆弧等。珠体宽度是衡量珠体质量的重要技术特征，而珠体宽度缺陷检测主要是检测珠体宽度的一致性，即检测珠体宽度是否满足一定范围，是否存在宽度过小或过大的情况。如果珠体存在宽度缺陷，该宽度缺陷容易造成使用安全隐患，例如电线存在宽度过窄的缺陷，流通的工作电流很容易在缺陷位置处熔断电线，造成工作事故；而且在正常工作一段时间后，珠体也会产生宽度缺陷，如不及时更换会产生工作异常。因此，宽度缺陷检测是保证珠体正常工作的关键。然而，由于珠体延展路径不规则，很难对珠体宽度缺陷进行精确检测，由此如何对珠体宽度缺陷进行精确检测是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例中提供了一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，以解决现有技术中的珠体宽度缺陷检测精度低的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例专利技术了如下技术方案：本专利技术实施例提供一种珠体宽度缺陷检测方法，该方法包括：将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。可选地，所述将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。可选地，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域之前，还包括：沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。可选地，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。可选地，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。可选地，沿所述路径折线，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。本专利技术实施例还提供一种珠体宽度缺陷检测装置，该装置包括：第一采样投影区域划分模块，用于将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；路径边缘对确定模块，用于在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；路径折线生成模块，用于连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；第二采样投影区域划分模块，用于沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；宽度边缘对确定模块，用于在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；宽度缺陷记录模块，用于当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。可选地，所述第一采样投影区域划分模块，用于根据待检测珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。可选地，该装置还包括：优化采样投影区域划分模块，用于沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；优化路径边缘对确定模块，用于在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；路径折线更新模块，用于连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。可选地，所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影取区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。可选地，所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据待检测珠体的弯曲度，设置多个的第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据珠体图像的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。可选地，第二采样投影区域划分模块，还用于沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本专利技术的实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。在所述珠体宽度缺陷检测过程中，通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在所述路径折线基础上，进行精细定位，获得珠体宽度边缘对，所述珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，从而保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的珠体示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种直线珠体采样投影区域划分示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种折线珠体采样投影区域划分示意图；图5为本专利技术实例提供的一种圆形珠体采样投影区域划分示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种圆形珠体的路径折线示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种圆形珠体第二采样投影区域划分的示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。2.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，所述将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。3.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域之前，还包括：沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。4.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。5.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。6.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，沿所述路径折线，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。7.一种珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨艺，彭斌，钟克洪，
申请(专利权)人：凌云光技术集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11