【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁辐射探测装置领域，其有利地应用于基于辐射热计或微辐射热计的红外辐射测量装置，但本专利技术也涉及基于光电二极管或光电导体的电磁辐射测量装置。 本专利技术使用范围尤其涵盖电子视网膜(也称为成像仪)的制造，其可由大量单元探测器 (elementary detector)形成。微辐射热计是指其至少一个维度的尺寸是微米级的辐射热计，尤其是指其制造用到微电子技术或微米技术和/或纳米技术的辐射热计。
技术介绍
用于侦测和成像电磁辐射的最先进的探测装置使用在至少一行和/或至少一列上排列的单元探测器矩阵。由各种照准仪(diopter)组合构成的光学系统一般插在想要侦测的辐射源与一个包含这些单元探测器的平面之间。这个光学系统的作用是为了弯折入射射线以将它们聚焦在这些单元探测器上，以及在该侦测平面上再现该辐射源的图像。因此，每个单元探测器同时接收表示电磁辐射数量的信息元素，其中该电磁辐射是由该装置以特定入射角接收。 读取该矩阵的各单元探测器传送的信号使得可以重建该辐射源发射的电磁辐射的二维映射，称为图像。为了读取这些单元探测器传送的信号，在此提供了具有数目与探测装置...
【技术保护点】
１．一种电磁辐射探测装置，包括多个单元探测器（３２、３２０、６２、８２、９２），这些单元探测器被分组成一个或多个次组合（３００、３００’、６００），每个次组合包括多个单元探测器，其中每个单元探测器（３２、３２０、６２、８２、９２）利用互连线（３０１、３０２、６６、８５）连接至阻抗匹配装置（３３、３３’、６３、８３、９３），其特征在于：该阻抗匹配装置（３３、３３’、６３、８３、９３）为单个次组合（３００、３００’、６００）的所有单元探测器（３２、３２０、６２、８２、９２）所共用，在每个次组合（３００、３００’、６００）中，这些互连线（３０１、３０２、６６、８５）具有大致相同的电阻值。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：骏加喀思·伊克雍，巴谛克·罗伯特，
申请(专利权)人：法国原子能与替代能委员会，巫莉斯，
类型：发明
国别省市：FR
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