驱动电路及其驱动方法和液晶显示器技术

本发明专利技术公开了一种驱动电路及其驱动方法和液晶显示器。一种驱动电路，包括：光敏二极管，与背光源相连，设置在液晶面板的像素区域中，用于检测背光源的工作状态；同相放大器，与光敏二极管相连，用于控制PMOS的导通和截止；PMOS，其栅极与同相放大器的输出端相连，用于输出重置信号到栅极驱动集成电路IC，以开启全部栅线。本发明专利技术通过光敏二极管对背光源的工作状态进行检测，并根据背光源的工作状态，通过同相放大器对PMOS的导通和截止状态进行控制，在背光源关闭时，由POMS向栅极驱动IC输出重置信号，以开启全部栅线，解决了现有技术中LCD显示的画面中存在的残影问题，提高了液晶显示器的显示性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示技术，尤其涉及一种驱动电路及其驱动方法和液晶显示器。
技术介绍
液晶显示器是目前常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)是液晶显示器中的主流产品。随着 LCD产业的发展，目前大尺寸LCD产品逐渐成为市场的主流，而LCD尺寸的增加会导致数据线和栅线的电阻和电容增加，由于电阻电容的延迟问题，在关机时在画面中会出现残影现象。在现有技术中，通过采用带重置功能的电源模块或独立的具有重置功能的芯片， 来消除IXD画面中出现的残影现象。主要对TFT-IXD的输入电压进行检测，当输入电压小于芯片内部的一个参考电压时，向栅极驱动集成电路antegrated Circuit ；以下简称IC) 输出重置信号，将栅极驱动IC的所有输出电压拉升到栅极开启电压，将栅极打开，实现消除残影的功能。然而，残影现象主要存在的时间为背光源关闭之后，输入信号关闭之前的时间，根据一般产品的特性，在背光源关闭之后200ms以上才关闭输入信号，然后再关闭输入电压。 因此，采用现有技术的方法在背光源关闭之后的200ms之内仍有可能出现残影。而且，在现有技术的方法中，由于检测输入电压降低到某一个值才输出重置信号，而且此时的输入电压仍处于使得电源模块和驱动IC工作的一种临界状态，并且输出电压下降时间一般为0 IOms (电源模块和栅极驱动IC的工作状态都处于一种临界状态)，则TFT-⑶L的像素电容和存储电容不能迅速放电，使得残影不能迅速地消除。
技术实现思路
本专利技术提供一种驱动电路及其驱动方法和液晶显示器，以实现在背光源关闭的同时进行残影消除，提高了液晶显示器的显示性能。本专利技术提供一种驱动电路，包括光敏二极管，与背光源相连，设置在液晶面板的像素区域中，用于检测所述背光源的工作状态；同相放大器，与所述光敏二极管相连，用于控制P型金属氧化物半导体晶体管 PMOS的导通和截止；所述PM0S，其栅极与所述同相放大器的输出端相连，用于输出重置信号到栅极驱动集成电路IC，以开启全部栅线。本专利技术提供一种驱动方法，包括通过设置在液晶面板的像素区域中的光敏二极管对背光源的工作状态进行检测；根据所述背光源的工作状态，通过与所述光敏二极管相连的同相放大器对P型金属氧化物半导体晶体管PMOS的导通和截止状态进行控制，所述PMOS的栅极与所述同相放大器的输出端相连；通过所述PMOS向栅极驱动集成电路IC输出重置信号，以开启全部栅线。本专利技术提供一种液晶显示器，包括液晶面板、驱动电路、栅极驱动集成电路IC和源极驱动IC，所述驱动电路包括上述的驱动电路。本专利技术提供的驱动电路及其驱动方法和液晶显示器，通过在驱动电路中设置光敏二极管，由光敏二极管对背光源的工作状态进行检测，并根据背光源的工作状态，通过同相放大器对PMOS的导通和截止状态进行控制，在背光源关闭时，由POMS向栅极驱动IC输出重置信号，以开启全部栅线，解决了现有技术中IXD显示的画面中存在的残影问题，提高了液晶显示器的显示性能。附图说明图IA为本专利技术实施例提供的液晶显示器的俯视结构示意图；图IB为图IA中驱动电路的放大结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的驱动电路的等效结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的驱动电路的信号时序图；图4为本专利技术实施例提供的驱动方法的流程图。附图标记1-液晶面板； 2-驱动电路；3-栅极驱动IC;4-源极驱动IC; 11-像素区域；21-光敏二极管；22-同相放大器；23-PM0S。具体实施例方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图IA为本专利技术实施例提供的液晶显示器的俯视结构示意图，图IB为图IA中驱动电路的放大结构示意图，如图IA和图IB所示，本实施例提供了一种液晶显示器，可以包括液晶面板1、驱动电路2、栅极驱动集成电路IC 3和源极驱动IC 4。其中，驱动电路2可以包括光敏二极管、同相放大器和P型金属氧化物半导体晶体管(P-Metal Oxide Semiconductor ；以下简称PM0S)。图2为本专利技术实施例提供的驱动电路的等效结构示意图，如图2所示，本实施例提供了一种驱动电路，该驱动电路可以包括光敏二极管21、同相放大器22和PMOS 23。其中，光敏二极管21与背光源相连，设置在液晶面板的像素区域中， 用于检测所述背光源的工作状态。同相放大器22与光敏二极管21相连，用于控制PMOS 23 的导通和截止。PMOS 23的栅极与同相放大器22的输出端相连，用于输出重置信号到栅极驱动集成电路IC，以开启全部栅线。本实施例的技术方案通过在驱动电路中设置光敏二极管、同相放大器和PM0S，由光敏二极管对背光源的工作状态进行检测，并根据背光源的工作状态，通过同相放大器对PMOS的导通和截止状态进行控制，在背光源关闭时，由POMS向栅极驱动IC输出重置信号， 以开启全部栅线，解决了现有技术中LCD显示的画面中存在的残影问题，提高了液晶显示器的显示性能。如图IA所示，本实施例中的光敏二极管21可以设置在液晶面板1的像素区域11 中，可以具体设置在左侧第一个像素上，由于光敏二极管21的制作可以采用半导体工艺， 因此在像素区域11中增设光敏二极管21的工艺比较容易实现。基于光敏二极管本身的特性，当其在未受到光照照射时，反向截止，驱动电路中的电流无法通过光敏二极管21 ；当其在被光照照射时，光敏二极管21正向导通，驱动电路中的电流可以通过光敏二极管21。在本实施例提供的驱动电路中，光敏二极管21与背光源相连，当背光源开启时，光敏二极管 21导通，当背光源关闭时，光敏二极管21截止。因此，光敏二极管21可以用于检测背光源的工作状态，具体可以通过柔性基板上的芯片C0F(Chip on Film;以下简称C0F)技术(一种集成电路的封装方式)和TFT基板走线来检测光敏二极管21上的电流变化，当光敏二极管21上有电流通过时，表明光敏二极管21处于导通状态，则检测到背光源的工作状态为开启状态；当光敏二极管21上没有电流通过时，表明光敏二极管21处于截止状态，则检测到背光源的工作状态为关闭状态。在本实施例中，同相放大器22可以具体用于在光敏二极管21导通时，控制PMOS 23处于截止状态，在光敏二极管21截止时，控制PMOS 23处于导通状态。具体地，由于通过 COF和TFT基板走线能够检测光敏二极管21上电流的变化，将检测到的光敏二极管21上的电流的变化转换为电压的变化，通过同相放大器22来控制PMOS 23的导通和截止。如图2 所示，电阻Rl和R2为同相放大器22的正向输入端的分压电阻，电阻R3和R4为反馈电阻， 电阻R5为PMOS 23的漏极输出的上拉电阻，VDD为整个驱动电路的电源电压，VD为光敏二极管21的导通电压，VOUT为PMOS 23的栅极输入电压。当背光源开启时，光敏二极管21处于导通状态，则VI本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种驱动电路，其特征在于，包括：光敏二极管，与背光源相连，设置在液晶面板的像素区域中，用于检测所述背光源的工作状态；同相放大器，与所述光敏二极管相连，用于控制Ｐ型金属氧化物半导体晶体管ＰＭＯＳ的导通和截止；所述ＰＭＯＳ，其栅极与所述同相放大器的输出端相连，用于输出重置信号到栅极驱动集成电路ＩＣ，以开启全部栅线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于尧，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11