本发明专利技术公开了显示装置、光检测方法和电子装置。该显示装置包括：多个像素电路、显示驱动部以及光量信息检测部。像素电路以矩阵形式设置在信号线和多条扫描线彼此交叉的位置处。显示驱动部向每个像素电路提供信号值并且驱动扫描线以使像素电路用根据信号值的亮度来实施发光，从而进行图像显示。光量信息检测部检测光量信息。每个像素电路包括发光元件、驱动晶体管、采样晶体管以及开关晶体管。每个像素电路执行，响应于接收到的光量改变驱动晶体管的栅极电势并且输出驱动晶体管的源极电势的光检测操作。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及例如将诸如有机电致发光元件(有机EL元件)的自发光装置用在像 素电路中的显示装置以及用于设置在像素电路中的光检测部的光检测方法和电子装置。
技术介绍
在将有机电致发光(EL 电致发光)发光元件用作像素的有源矩阵型的显示装 置中，通过有源元件来控制流向在每个像素电路中的发光元件的电流，通常将薄膜晶体管 (TFT)设置在每个像素电路中。由于有机EL元件为电流发光元件，所以通过控制流向EL元 件的电流量来获得彩色显色的灰度。尤其，在包括有机EL元件的像素电路中，将对应于施加的信号值电压的电流提供 给有机EL元件以根据信号值实施灰度发光。在使用自发光元件的显示装置(诸如使用如上所述的这种有机EL元件的显示装 置)中，重要的是抵消像素之间发光亮度上的偏差(dispersion)以消除屏幕上出现的不均 勻。尽管在面板制作时的初始状态下像素之间也出现发光亮度上的偏差，但偏差也随 时间变化而产生。有机EL元件的发光效率随着时间推移而劣化。尤其，即使流过相同的电流，发光 亮度也伴随时间的推移而劣化。结果，屏幕烧灼(screen burn)，如果在黑色背景上显示白色窗口(WINDOW)模式， 然后例如在图31A中所示的全屏幕上显示白色，则显示窗口模式部分的亮度降低。在JP-T-2007-501953或者JP_T2008_51拟63 (下文中，分别称作专利文件1和专 利文件2)中公开了预防如上所述这种情况的对策。尤其，专利文件1公开了将光传感器设 置在每个像素电路中并且将光传感器的检测值反馈回系统以校正发光亮度的装置。专利文 件2公开了将检测值从光传感器反馈回系统以实施发光亮度的校正的装置。
技术实现思路
本专利技术应用于具有检测像素电路的光的功能的显示装置。本专利技术实现了，例如，响 应于检测到的光量信息来校正要提供给像素电路的信号值以防止出现屏幕烧灼等的显示 装置。此外，本专利技术实现了可以由相对较少的元件、控制线等构造的用于显示装置的显示电路。根据本专利技术的实施方式，提供了显示装置和电子装置，包括多个像素电路，在信 号线和多条扫描线彼此交叉的位置处以矩阵形式设置；显示驱动部，用于经信号线向每个 像素电路提供信号值并且驱动扫描线使得像素电路用根据信号值的亮度来实施发光，从而 进行图像显示；以及光量信息检测部，用于检测从每个像素电路向针对像素电路设置的光 检测线输出的光量信息，每个像素电路包括发光元件；驱动晶体管，用于响应于对其输入 的信号值电压来实施向发光元件施加电流；采样晶体管，用于当采样晶体管导通时，将来自信号线的信号值输入至驱动晶体管的栅极；以及开关晶体管，连接在驱动晶体管的一端和 光检测线之间，每个像素电路能够执行，响应于接收到的光量改变驱动晶体管的栅极电势 并且将根据该电势的改变的驱动晶体管的源极电势经开关晶体管输出至光检测线的光检 测操作。根据本专利技术的另一实施方式，提供了显示装置的光检测方法，该显示装置包括多 个像素电路，在信号线和多条扫描线彼此交叉的位置处以矩阵形式设置；显示驱动部，用于 经信号线向每个像素电路提供信号值并且驱动扫描线使得像素电路用根据信号值的亮度 来实施发光，从而实施图像显示；以及光量信息检测部，用于检测从每个像素电路向针对像 素电路设置的光检测线输出的光量信息，每个像素电路包括发光元件；驱动晶体管，用于 响应于对其输入的信号值电压来实施向发光元件施加电流；采样晶体管，用于当采样晶体 管导通时，将来自信号线的信号值输入驱动晶体管的栅极；以及开关晶体管，连接在驱动晶 体管的一端和光检测线之间，光检测方法包括以下步骤利用像素电路响应于接收到的光量改变驱动晶体管的栅极电势，并且将响应于该 电势的改变的驱动晶体管的源极电势经开关晶体管输出至光检测线，然后，利用光量信息 检测部通过光检测线的电压检测来检测光量信息。根据本专利技术的另一实施方式，提供了显示装置，包括以矩阵形式设置的多个像素电路；信号线；以及光检测线；每个像素电路包括发光元件，驱动晶体管，用于实施向发光元件提供电流，采样晶体管，用于将来自信号线的信号值输入驱动晶体管的栅极，以及开关晶体管，连接在驱动晶体管的一端和光检测线之间；响应于接收到的光量来改变驱动晶体管的栅极电势以将在驱动晶体管的一端处 的电势经开关晶体输出至光检测线。在显示装置和电子装置及用于显示装置的光检测方法中，每个像素电路具有光传 感器功能。例如，在像素电路中的该采样晶体管在其处于截止状态时用作光传感器。具体 地，响应于通过采样晶体管接收到的光量来改变驱动晶体管的栅极电势。将驱动晶体管的 栅极电势的改变作为驱动晶体管的源极电势的改变经开关晶体管输出至光检测线。因此， 通过实施光检测线的电压检测，光量信息检测部可以检测像素电路接收到的光量。通过上述构造，每个像素电路可以检测从像素电路本身发出的光量、从邻接的一 个或多个像素电路所发出的光量、以及外部光的量。可以将检测到的光量信息用作从像素电路所发出的光亮度劣化信息或者用作外 部输入信息。通过显示装置和电子装置及显示装置的光检测方法，不是将光检测部设置为独立 于每个像素电路，而是可以利用像素电路的构造实施光检测而无需增加元件数量或者控制 线的数量。例如，将采样晶体管用作光传感器以响应于检测到的光量来改变驱动晶体管的栅6极电势，并且将驱动晶体管的源极经开关晶体管连接至光检测线。通过该构造，与利用专用 的光检测电路的其它构造相比，可以减少晶体管的数量和用于晶体管的控制线的数量。结果，可以实现产率提高，并且可以应对由发光元件的效率劣化所导致的画面质 量不合格(诸如屏幕烧灼)。从下文结合附图的描述和所附权利要求中，本专利技术的以上和其他目的、特征以及 优点将变得显而易见，图中，通过相同的参照数字表示相同的部件或者元件。附图说明图1为示出根据本专利技术的第一实施方式的显示装置的框图；图2为示出在本专利技术的过程中已经考虑的构造例1的电路图；图3为示出图2的电路的操作的波形图；图4为示出了在本专利技术的过程中已经考虑的构造例2的电路图；图5为示出图4的电路的操作的波形图；图6至图9为示出图4的电路的操作的等效电路图；图10为示出根据本专利技术的第一实施方式的像素电路的电路图；图11为示出在第一实施方式中邻接像素电路的电路图；图12为示出在第一实施方式中的光检测操作例A中的控制波形的波形图；图13为示出在第一实施方式中的光检测操作例A中的操作波形的波形图；图14为示出在第一实施方式中的光检测操作例B中的控制波形的波形图；图15为示出在第一实施方式中的光检测操作例B中的操作波形的波形图；图16为示出在第一实施方式中的光检测操作例C中的控制波形的波形图；图17为示出在第一实施方式中的光检测操作例C中的操作波形的波形图；图18A和图18B为示出根据本专利技术的实施方式的光检测操作时段的示意图；图19A和图19B为示出根据本专利技术的实施方式的光检测操作时段的示意图；图20为示出根据本专利技术的第二实施方式的显示装置的框图；图21为示出根据本专利技术的第二实施方式的像素电路的电路图；图22为示出图21的像素电路的通常发光操作的波形图；图23为示出第二实施方式中的邻接像素电路的电路图；图M为示出在第二实施方式中的光检测操作例中的控制波形的波形图；图25为示出在第二实施方式中的光检本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种显示装置，包括：多个像素电路，在信号线和多条扫描线彼此交叉的位置处以矩阵形式设置；显示驱动部，用于经所述信号线向每个所述像素电路提供信号值，并且驱动所述扫描线使得所述像素电路以根据所述信号值的亮度进行发光，从而进行图像显示；以及光量信息检测部，用于检测从每个所述像素电路向针对所述像素电路设置的光检测线输出的光量信息；每个所述像素电路包括：发光元件，驱动晶体管，用于响应于对其输入的信号值电压来实施向所述发光元件施加电流，采样晶体管，用于当所述采样晶体管导通时将来自所述信号线的所述信号值输入所述驱动晶体管的栅极，以及开关晶体管，连接在所述驱动晶体管的一端与所述光检测线之间；每个所述像素电路能够执行，响应于接收到的光量改变所述驱动晶体管的栅极电势并且将根据该电势的改变的所述驱动晶体管的源极电势经所述开关晶体管输出至所述光检测线的光检测操作。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：山本哲郎，内野胜秀，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP
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