片上系统调试验证装置和系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例公开了一种片上系统调试验证装置和系统，涉及SOC领域，实现对IP硬核和SOC系统进行充分的验证，极大提高了SOC产品的开发效率，降低了开发成本。一种片上系统调试验证装置，所述片上系统调试验证装置与FPGA平台为总线连接，所述片上系统调试验证装置，包括：支持总线连接的IP核单元和FPGA接口单元；所述FPGA接口单元通过所述总线与所述IP核单元相连接，并通过所述总线与FPGA平台相连接。本实用新型专利技术应用于SOC系统验证。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及片上系统(System on Chip，以下简称S0C)领域，尤其涉及一种 SOC调试验证装置和系统。
技术介绍
在SOC芯片的前期开发中，系统的调试验证是芯片能否开发成功的关键。一个复 杂的SOC的系统，由众多的IP模块组成，各个模块都要参与整个系统的验证。在SOC芯片 进行前期验证时，一般会采用软核的方式，把各个IP模块综合后，载入现场可编程门阵列 (Field-Programmable Gate Array，以下简称 FPGA)平台。由于IP模块的保密性及厂家之间的合作问题，在工作的前期，一般很难拿到IP厂 家的软核；再就是FPGA平台的资源有限，新的IP系统的加入，有时会造成系统资源不够的 情况，这两种情况，往往会阻碍开发的进度，降低开发的效率。针对此问题，目前，在SOC芯片的前期验证调试中，在进行IP模块的整合时，一般 会更换新的资源更大的FPGA平台，加上IP质量风险性，这又在很大程度上增加了 SOC芯片 的开发成本。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于提供一种片上系统调试验证装置和系统，实 现对IP硬核和SOC系统进行充分的验证，极大提高了 SOC产品的开发效率，降低了开发成 本。为解决上述技术问题，本技术片上系统调试验证装置和系统采用如下技术 方案一种片上系统调试验证装置，所述片上系统调试验证装置与FPGA平台为总线连 接，所述片上系统调试验证装置，包括支持总线连接的IP核单元和FPGA接口单元；所述FPGA接口单元通过所述总线与所述IP核单元相连接，并通过所述总线与 FPGA平台相连接。还包括调试接口单元，与所述IP核单元相连接，用于对所述IP核单元进行实时调试。所述总线为PCI总线。所述总线为高级微处理器总线架构AMBA总线。所述AMBA 总线包括HRDATA、冊DATA、HADDR、 HRESP 、HBURST 、HSIZE 、HTRANS 、HRESETn, HGRANT, HREADY, HBUSREQ、HWRITE、HCLK。所述调试接口单元通过JRST、JTCK、JTDI、JTDO、JTMS把JTAG调试工具与IP核单元连接在一起。3所述IP核单元设置有数个为其调试提供驱动能力的上拉电阻。所述IP核单元的IP核为IP硬核。一种片上系统调试验证系统，包括FPGA平台和片上系统调试验证装置，所述FPGA平台和片上系统调试验证装 置通过所述总线相连接，所述片上系统调试验证装置，包括支持总线连接的IP核单元和FPGA接口单元；所述FPGA接口单元通过所述总线与所述IP核单元相连接，并通过所述总线与 FPGA平台相连接。在本技术的实施例中，在前期的SOC系统验证时，在没有IP软核或FPGA平台 资源不够时，可利用该片上系统调试验证装置通过总线把IP核单元与FPGA平台连接在一 起，对IP硬核和SOC系统进行充分的验证，该装置极大提高了 SOC产品的开发效率，降低了 开发成本。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例 描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新 型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根 据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例片上系统调试验证装置的结构示意图之一；图2为本技术实施例片上系统调试验证装置的结构示意图之二 ；图3为本技术实施例IP核单元的结构示意图之一；图4为本技术实施例IP核单元的结构示意图之二 ；图5为本技术实施例IP核单元的结构示意图之三；图6为本技术实施例IP核单元的结构示意图之四；图7为本技术实施例FPGA接口单元的结构示意图；图8为本技术实施例调试接口单元的结构示意图。附图标记说明1-片上系统调试验证装置；2-FPGA平台；Il-IP核单元；12-FPGA接口单元；13-调试接口单元。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施 例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获 得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术实施例提供一种片上系统调试验证装置和系统，实现对IP硬核和SOC 系统进行充分的验证，极大提高了 SOC产品的开发效率，降低了开发成本。本技术实施例提供一种片上系统调试验证装置，如图1所示，该片上系统调 试验证装置1与FPGA平台2为总线连接，通过所述总线连接，执行片上系统SOC调试验证。在前期的SOC系统验证时，在没有IP软核或FPGA平台资源不够时，可利用该片上 系统调试验证装置通过总线把IP核单元与FPGA平台连接在一起，对IP硬核和SOC系统进 行充分的验证，该装置极大提高了 SOC产品的开发效率，降低了开发成本。进一步地，如图2所示，本专利技术一个优选的实施例中，该片上系统调试验证装置1 包括支持总线连接的IP核单元11和FPGA接口单元12 ；所述FPGA接口单元12通过所述总线与所述IP核单元11相连接，并通过所述总 线与FPGA平台2相连接。再进一步地，该装置还包括调试接口单元13，与所述IP核单元11相连接，用于对所述IP核单元11进行实时调试ο进一步地，上述总线为可以实现的各种总线，例如所述总线为PCI总线，在本实施 例中，优选为，所述总线为高级微处理器总线架构AMBA总线。进一步地，所述IP核单元的IP核为IP硬核。通过IP硬核方式，实现对SOC系统 的FPGA平台的调试验证。以下以一个具体的实施例说明本技术的技术方案，如图3-图6所示，IP核单 元为肌(包括肌4州18州1(州10)，肌为具有AMBA总线的IP核单元，该IP核单元的IP核 为IP硬核，通过AMBA总线与FPGA平台连接，以进行SOC系统的调试验证。需要用到的AMBA 总线包括 HRDATA、HWDATA、HADDR、HRESP、HBURST、 HSIZE、HTRANS、HRESETn、HGRANT、HREADY、HBUSREQ、HWRITE、HCLK。如图 7 所 示，C0N2为FPGA接口，通过该接口可把FPGA平台与IP核单元连接在一起。如图8所示， CONl为JTAG调试接口，该接口通过JRST、JTCK、JTDI、JTDO、JTMS把JTAG调试工具与IP核 单元连接在一起，通过此接口，可方便的对IP核单元的IP硬核进行实时调试。进一步地， 图3中的R2、R4、R5、R6、R7为相应网络的上拉电阻，为其调试提供驱动能力。在本技术的实施例中，在前期的SOC系统验证时，在没有IP软核或FPGA平台 资源不够时，可利用该片上系统调试验证装置通过AMBA总线把IP核单元与FPGA平台连接 在一起，通过IP硬核的方式，实现对SOC系统的FPGA平台验证，该方法通过IP硬核的方式， 无需IP软核，方便了外置模块的实时调试，有效节省了 FPGA平台的系统资源，该装置极大 提高了 SOC产品的开发效率，降低了开发成本。本技术实施例还提供了一种利用上述片上系统调试验证装置进行片上本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种片上系统调试验证装置，其特征在于，所述片上系统调试验证装置与ＦＰＧＡ平台为总线连接，所述片上系统调试验证装置，包括：支持总线连接的ＩＰ核单元和ＦＰＧＡ接口单元；所述ＦＰＧＡ接口单元通过所述总线与所述ＩＰ核单元相连接，并通过所述总线与ＦＰＧＡ平台相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨元成，
申请(专利权)人：青岛海信信芯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：95