【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试电路，尤指一种计算机开关机测试电路。
技术介绍
计算机产品生产完毕后，都必须测试其稳定性以保证产品质量。测试计算机开关机性能 是计算机稳定性测试过程中必不可少的环节。测试计算机的开关机功能的传统方法是将计算 机接上交流电源并通过手工操作其电源键的方式以测试其开机或关机性能。若不能正常开/ 关机，或开/关机的时间过长，则需要更进一步测试计算机的性能以査出异常原因便于维修 。但是这种人工操作的方式效率低，尤其是测试多台计算机，而且需要重复测试计算机的开 /关机性能时，浪费时间及人力。为了提高测试效率，测试计算机开关机性能时可采用机械手开关模拟手动操作，重复触 压计算机开关，达成测试计算机开关机性能的目的。但是，这种机械手不太稳定，不能严格 的按照测试要求自动完成测试。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种测试效率高且稳定可靠的计算机开关机测试电路。 一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计 算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，所述计算机开关机测试电路还包括 一与所述开关模组相连以控制所述开关...
【技术保护点】
一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，其特征在于：所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高／低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高／低电平信号的切换频率及保持时间。
【技术特征摘要】
1.一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，其特征在于所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。2.如权利要求l所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 开关模组包括一与所述控制芯片相连的三极管及一光电耦合器，所述光电耦合器的输入端与 所述三极管相连，输出端与所述待测计算机的开关机引脚相连，所述控制芯片发出高电平信 号至所述三极管时所述三极管及所述光电耦合器均导通以切换所述待测计算机的开关机状态3.如权利要求l所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 控制芯片接有一第一按键，所述控制芯片内还烧录有一按键扫描程序，所述按键扫描程序检 测到所述第一按键被按下时开启或结束所述测试程序。4.如权利要求3所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 控制芯片还接有一第二按键，所述按...
【专利技术属性】
技术研发人员：范利平，卢洪浪，刘玉林，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。