【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种可用于通信测量领域的新型光学系统，尤其涉及一种激光测 距系统。
技术介绍
现有激光测距的光学系统大概可以分为两类同轴光学系统和异轴光学系统。这 两种系统的主要不同在于出射激光的中心和探测器的中心的相对位置同轴光学系统是指 两个中心在同一条光轴上，激光器(或反射镜)在接收透镜的前面，信号光出射后经物体 反射回到透镜表面被聚焦到探测器表面；而异轴光学系统是指两个中心不在一条光轴上， 反射回来的信号光也由透镜聚焦到探测器表面，此方案的主要目的是解决激光器(或反射 镜)挡光。对于同轴光学系统，由于激光器(或反射镜)在接收透镜的前端，反射回来的信号 光中的一部分将被激光器(或反射镜)遮挡而无法到达探测器件的表面，即损失了一部分 反射信号光。对于异轴光学系统，由于探测器和激光器不在同一条光轴上，只有在透镜表面 的一部分的反射回来的信号光能到达探测器表面，这也损失了反射光能量。在实现本专利技术的过程中专利技术人发现，由于基模激光的光强峰值在正中心，镜面反 射回来的信号光的光强峰值也在正中心，因此无论采用现有何种(同轴或异轴)光学系统， 都无法接收到反射回来的信号...
【技术保护点】
１．一种激光测距系统，其特征在于，包括出光装置、收光装置和计算单元，所述出光装置出射高阶模激光，所述收光装置接收所述出光装置出射的高阶模激光经物体表面反射回来的信号光，所述计算单元对所述收光装置接收的信号光的光强进行计算得到需要测量的距离。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄梦园，李成，严光文，
申请(专利权)人：北京握奇数据系统有限公司，
类型：实用新型
国别省市：11
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