可调节CCD光学检验装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可调节CCD光学检验装置，包括CCD摄像机，其特征在于，CCD摄像机与调节装置相连，调节装置包括固定导轨，活动导轨和滑块，活动导轨与固定导轨相连，滑块与活动导轨相连，CCD摄像机与滑块相连。本发明专利技术可以根据实际情况的需要调节CCD摄像头工作位置且结构简单。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检验仪器，特别是一种可调节CXD光学检验装置。
技术介绍
就目前技术而言，对复杂产品表面的图案和文字的检查校验工作主要依靠两种方式，一种是依靠人工检查的方法，靠人工检查，在处理大批量产品或产品需检查要素太多时一来容易造成视觉疲劳，二来工作强度大，由此极易造成错检漏检，检查时间长，耗费大量人力物力，检验效率低下；另一种是借助光学检验设备进行检查，效率高，错误率低，节省人力物力，但是传统的光学检验设备的装配位置都是固定的，无法调节检测设备的工作位置， 因此对物件的定位精度要求较高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种可以调节CCD摄像头工作位置的结构简单的CXD光学检验装置。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机，其特征在于，所述CCD摄像机与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨，活动导轨和滑块，所述活动导轨与固定导轨相连，所述滑块与活动导轨相连，所述CCD摄像机与滑块相连。调节装置用于调节CCD摄像机的空间位置，结构简单。所述固定导轨上设有辅助光源，所述辅助光源为环形辅助光源。环形辅助光源可以更好的为CCD摄像机提供辅助照明。所述活动导轨有两个，第一活动导轨和固定导轨连接，第二活动导轨和第一固定导轨连接，滑块与第二活动导轨连接。两个活动导轨的结构可以使C⑶摄像机在空间内上下左右任意调节。本专利技术所达到的有益效果是 可以任意调节工作位置，结构简单。附图说明图1为本专利技术的正面结构示意图； 图2为本专利技术的侧面结构示意图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。如图1、图2所示，CXD摄像机1与调节装置相连，调节装置包括固定导轨2，活动导轨和滑块3，活动导轨有两个，第一活动导轨4与固定导轨2相连，可以沿固定导轨2在水平方向前后移动，第二活动导轨5与第一活动导轨4相连，可以沿第一活动4导轨在垂直方向上下移动，滑块3与第二活动导轨5相连，可以沿第二活动导轨5在水平方向左右移动，CXD摄像机1与滑块3通过紧固件相连。环形辅助光源6设置在固定导轨2外侧，通过连接件与固定导轨2相连，为CCD摄像机1提供辅助光源，以确保拍摄效果。本专利技术的位置调节过程如下1、先调节第二活动导轨，在垂直方向上调节CXD摄像机位置，确定CXD摄像机高度；2、分别调节第一活动导轨和滑块，在水平方向调节CCD摄像机位置，使其可以准确拍摄到待测物件；3、使用CCD摄像机进行拍摄检验。本专利技术主要用于对物件表面的文字或图案进行检验，可以根据需要调节CCD摄像头工作位置，结构简单。以上实施例不以任何方式限定本专利技术，凡是对以上实施例以等效变换方式做出的其它改进与应用，都属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．可调节ＣＣＤ光学检验装置，包括ＣＣＤ摄像机（１），其特征在于：所述ＣＣＤ摄像机（１）与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨（２），活动导轨和滑块（３），所述活动导轨与固定导轨（２）相连，所述滑块（３）与活动导轨相连，所述ＣＣＤ摄像机（１）与滑块（３）相连。

【技术特征摘要】
1.可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机(1)，其特征在于所述CXD摄像机(1)与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨(2)，活动导轨和滑块(3)，所述活动导轨与固定导轨(2)相连，所述滑块(3)与活动导轨相连，所述CXD摄像机(1)与滑块(3)相连。2.根据权利要求1所述的可调节CCD光...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈皓然，
申请(专利权)人：苏州工业园区高登威科技有限公司，
类型：发明
国别省市：32