【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检验仪器，特别是一种可调节CXD光学检验装置。
技术介绍
就目前技术而言，对复杂产品表面的图案和文字的检查校验工作主要依靠两种方式，一种是依靠人工检查的方法，靠人工检查，在处理大批量产品或产品需检查要素太多时一来容易造成视觉疲劳，二来工作强度大，由此极易造成错检漏检，检查时间长，耗费大量人力物力，检验效率低下；另一种是借助光学检验设备进行检查，效率高，错误率低，节省人力物力，但是传统的光学检验设备的装配位置都是固定的，无法调节检测设备的工作位置， 因此对物件的定位精度要求较高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种可以调节CCD摄像头工作位置的结构简单的CXD光学检验装置。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机，其特征在于，所述CCD摄像机与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨，活动导轨和滑块，所述活动导轨与固定导轨相连，所述滑块与活动导轨相连，所述CCD摄像机与滑块相连。调节装置用于调节CCD摄像机的空间位置，结构简单。所述固定导轨上设有辅助光源，所述辅助光源为环形...
【技术保护点】
１．可调节ＣＣＤ光学检验装置，包括ＣＣＤ摄像机（１），其特征在于：所述ＣＣＤ摄像机（１）与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨（２），活动导轨和滑块（３），所述活动导轨与固定导轨（２）相连，所述滑块（３）与活动导轨相连，所述ＣＣＤ摄像机（１）与滑块（３）相连。
【技术特征摘要】
1.可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机(1)，其特征在于所述CXD摄像机(1)与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨(2)，活动导轨和滑块(3)，所述活动导轨与固定导轨(2)相连，所述滑块(3)与活动导轨相连，所述CXD摄像机(1)与滑块(3)相连。2.根据权利要求1所述的可调节CCD光...
【专利技术属性】
技术研发人员：沈皓然，
申请(专利权)人：苏州工业园区高登威科技有限公司，
类型：发明
国别省市：32
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