过零检测电路、装置及暖风机制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种过零检测电路，串接在交流电线与MCU的一I/O口之间，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述I/O口连接，所述第一二极管的负极与一电源连接；还包括一三极管，所述三极管的集电极与所述I/O口连接，所述三极管的发射极连接在所述第一二极管的负极与所述电源之间，所述三极管的基极用于与检测的负载和/或负载信号反馈电路连接。还公开应用上述过零检测电路的装置及暖风机。本发明专利技术将过零检测电路与需要检测的负载和负载信号反馈电路通过一个三极管连接起来，实现通过一个MCU的I/O口与多个检测控制电路或负载连接，而且保证检测信号不受负载特性影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及过零检测
，特别涉及一种过零检测电路和使用该过零检测电路的装置及暖风机。
技术介绍
现有的过零检测电路用于晶闸管斩波控制、控制负载(动力机)转速或控制负载功率的大小等作用，因此，当MCU(Micrc) Control Unit，微控制器或单片机)与多个电路或负载连接时，就需要通过多个MCU的I/O 口与负载电路连接，如图1、图2所示，过零检测电路和负载(电动机)分别与MCU的不同I/O 口连接，而MCU的1/0(输入/输出)口数量有限，如果每一个I/O 口单独与一个电路或负载连接，就浪费较多的MCU资源，不利于资源节省和实现设备的集成。因此，如何实现过零检测中一个MCU的I/O 口与多个检测控制的电路或负载连接是业内亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种过零检测电路和使用该过零检测电路的装置及暖风机，旨在实现过零检测中用一个MCU的I/O 口可与多个检测控制的电路或负载连接，节省 MCU资源，降低成本。本专利技术提出一种过零检测电路，串接在交流电线与MCU的一 I/O 口之间，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述I/本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种过零检测电路，串接在交流电线与ＭＣＵ的一Ｉ／Ｏ口之间，其特征在于，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述Ｉ／Ｏ口连接，所述第一二极管的负极与一电源连接；还包括一三极管，所述三极管的集电极与所述Ｉ／Ｏ口连接，所述三极管的发射极连接在所述第一二极管的负极与所述电源之间，所述三极管的基极用于与检测的负载和／或负载信号反馈电路连接。

【技术特征摘要】
1.一种过零检测电路，串接在交流电线与MCU的一 I/O 口之间，其特征在于，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述I/O 口连接，所述第一二极管的负极与一电源连接；还包括一三极管，所述三极管的集电极与所述I/O 口连接，所述三极管的发射极连接在所述第一二极管的负极与所述电源之间，所述三极管的基极用于与检测的负载和/或负载信号反馈电路连接。2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，还包括 第一分流电阻，串接在所述交流电线与所述MCU的I/O 口之间； 第一分压电阻，其一端与所述I/O 口连接，另一端接地； 第二二极管，其正极接地，其负极与所述I/O 口连接。3.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，还包括第三二极管，其正极与所述三极管的基极连接，其负极用于与检测的负载和/或负载信号反馈电路连接。4.根据权利要求1至3中任一项所述的过零检测电路，其特征在于，所述负载信号反馈电路串接在所述第三二极管的负极与第一负载之间；所述负载信号反馈电路包括第五二极管，其正极与所述第一负载连接，其负极通过第二分流电阻与所述第三二极管的负极连接；电容，其正极与所述第三二极管的负极连接，其负极接地； 第二分压电阻，其一端与所述第三二极管的负极连接，另一端接地。5.根据权利要求4所述的过零检测电路，其特征在于，包括第四二极管，其正极与第二负载连接，其负极与所述第三二极管的负极连接。6.一种过零检测电路装置，包括串接在交流电线与MCU的一 I/O 口之间的过零检测电路，其特征在于，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述I/O 口连接，所述第一二...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯磊，秦宏武，钟少武，
申请(专利权)人：深圳和而泰智能控制股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94