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本发明公开一种过零检测电路，串接在交流电线与MCU的一I/O口之间，所述过零检测电路包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述I/O口连接，所述第一二极管的负极与一电源连接；还包括一三极管，所述三极管的集电极与所述I/O口连接，所述三极管的...
该专利属于深圳和而泰智能控制股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳和而泰智能控制股份有限公司授权不得商用。

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