【技术实现步骤摘要】
本专利技术大体上涉及用于测试电子电路和装置的自动化测试系统，并且更具体地涉及配置成提供多种不同测试信号给装置的测试电路和系统。
技术介绍
自动化的测试系统用于通过施加并且监测到电子电路或装置(在下文中通称为被测试装置(DUT))的测试信号来测试电子电路和装置的一个或多个电性质。在典型的自动化测试系统中，一个或多个电测试信号提供给DUT的各种节点并且监测DUT的各种输出。 该测试信号典型地从将测试系统耦合于DUT的通道接口电路来施加。常规的自动化测试系统典型地包含多个昂贵的数据采集电路以覆盖并且测试很多种可用电子电路。这些数据采集电路可以包括多通道模拟输出卡、多通道模拟输入卡、多通道数字输出卡、多通道数字输入卡、示波器卡、数字万用表(DMM)卡、波形发生器卡、计数器/计时器卡和/或其他适合的数据采集电路。另外，更多高级系统中的许多典型地包含中继多路复用器/扫描仪卡，其允许一次建立四至十六个可编程通道接口连接。这样的测试系统要求增加数量的部件和电缆，导致测试电路设计的增加的尺寸、成本和复杂性。从而，需要有提供测试很多种电子电路和装置的功能能力并且包括当命令时提供任何...
【技术保护点】
１．一种通用接口通道电路（２１０），其包括：配置成接纳第一测试信号的第一路径；配置成接纳第二测试信号的第二路径；测试节点（２１２）；以及开关装置（２２０）；其中所述通用接口通道电路（２１０）耦合于配置成提供所述第一测试信号的第一Ｉ／Ｏ装置（１２０）和配置成提供所述第二测试信号的第二Ｉ／Ｏ装置（２０５），所述第一Ｉ／Ｏ装置（１２０）控制所述开关装置（２２０）以选择性地将所述第一路径或所述第二路径中的一个耦合于所述测试节点（２１２）。
【技术特征摘要】
2010.01.06 US 12/6830641.一种通用接口通道电路010)，其包括配置成接纳第一测试信号的第一路径；配置成接纳第二测试信号的第二路径；测试节点012)；以及开关装置(220)；其中所述通用接口通道电路(210)耦合于配置成提供所述第一测试信号的第一 I/O装置(120)和配置成提供所述第二测试信号的第二 I/O装置005)，所述第一 I/O装置(120) 控制所述开关装置O20)以选择性地将所述第一路径或所述第二路径中的一个耦合于所述测试节点012)。2.如权利要求1所述的通用接口通道电路010)，其中所述第一信号包括数字输入信号、数字输出信号、静态模拟信号、模拟输入信号、模拟输出信号、示波器信号、数字万用表信号、计数器/计时器信号或比较器信号中的一个。3.如权利要求1至2中任一项所述的通用接口通道电路010)，其中所述第二测试信号包括数字输入信号、数字输出信号、静态模拟信号、模拟输入信号、模拟输出信号、示波器信号、数字万用表信号、计数器/计时器信号或比较器信号中的一个。4.如权利要求1至3中任一项所述的通用接口通道电路010)，其中所述通用接口通道电路(210)位于通道电路板(200)上，所述通道电路板(200)包括多个通用接口通道电路 OlO)。5.如权利要求4所述的通用接口通道电路010)，其中所述第一I/O装置配置成提供不同的第一测试信号给所述多个通用接口通道电路中的每个。6.如权利要求4或5所述的通用接口通道电路010)，其中所述第二I/O装置(205) 配置成提供相同的第二测试信号给所述多个通用接口通道电路O10)中...
【专利技术属性】
技术研发人员：E·W·劳斯，P·D·凯利，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：US
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