放射线厚度计制造技术

放射线厚度计具有：在与搬运被测定物通过线平面垂直的方向上以夹着被测定物的方式设置的Ｃ型框架；检测部，具有设置在Ｃ型框架的相对置的一方臂部上的放射线源、设置在另一方臂部上且对透过放射线进行检测的主检测器、和在主检测器的周围，对从被测定物散射的散射线进行检测的副检测器；及运算部，具有存储以使被主检测器检测的放射线的增减产生的输出变化和被副检测器检测的散射线成分的输出变化一致的方式预先求出的修正系数，在被测定物沿与通过线平面垂直的光轴方向移动了的情况下，根据副检测器的输出选择并乘以修正系数，再求出主检测器和副检测器之差的修正运算部、和求得厚度的厚度运算部。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种放射线厚度计，向钢板等被测定物照射从放射线同位素或X射 线发生器发生的放射线，根据透过了被测定物的放射线的线量测定被测定物的厚度，尤 其是关于被测定物向照射放射线的光轴方向移动时的厚度测定技术。
技术介绍
以往，对于厚板或薄板等钢板的轧制线及其搬运线上的钢板的厚度测定，采用 使用了放射线同位素的Y线厚度计或使用了 X射线发生装器的X射线厚度计等放射线厚 度计。这样的放射线厚度计是，因向被测定物照射的放射线的线束径较大，所以空间 分辨率的提高存在极限，且必须进行基于法令的放射线的处理管理，因而也采用如下的 激光式厚度计在厚板等中，将使用了空间分辨率高的激光光线的距离计，设置于从垂 直方向夹着钢板的C型框架的上下的臂部上，根据这两个距离计的距离变化测定厚度。然而，钢板的厚度测定精度在确保钢板的品质保证及成品率方面是重要的，但 在轧制线或其搬运线中，存在钢板的上下动及翘曲或下垂等形状变化，精度提高存在极 限。例如，在放射线厚度计中，对于被搬运的钢板的搬运基准面(以下，称为通过 线面)，钢板沿相对于通过线面垂直的方向移动时，因透过了钢板的放射线的散射成分变 化，而发生测定误差。另外，对钢板在其相对于通过线面的搬运方向上的倾斜导致的测定误差进行修 正的方法，使用激光距离计检测钢板的倾斜而使厚度的测定精度提高的厚度测定方法。 例如，有日本公开专利公报，日本特开2007-263819号公报(以下，称为专利文献1)。—般，在钢板的轧制线或其搬运线中，在被搬运的钢板的前端部或后端部上， 发生翘曲或下垂等，但在除此以外的中央部分，主要发生上下方向的摆动。在放射线厚度计中，测定时存在钢板的上下移动时，存在产生测定误差的问 题。使用图1A、图IB说明其理由。图IA是表示在使用了 X射线的X射线厚度计中，钢板的基准厚度为0.1mm及 3.5mm的情况下，钢板相对于作为测定基准的通过线面(PL-O)上下移动了的情况下对于 基准厚度的测定误差(偏差％)的一例。图IB表示该X射线厚度计的检测部的光学模型图，从放射线源Ia的1个点放射 的X射线透过被测定物(钢板)3，在设置于被测定物3的后部的检测器lb，立体角em 的范围被检测。这里，在被测定物3从通过线面PL-O移动到上方PL+50的情况下，例如，来 自点Pi的散射线被主检测器Ib检测的受光立体角的范围是从立体角θ do扩大到立体角 θ dl。即，被主检测器Ib受光的散射线的量与被测定物3和主检测器Ib间的距离的平 方成正比例变化。因此，如图IA所示，被测定物3向上方移动时，被检测器Ib受光的散射线成分 增大，被测定物3的厚度视为变薄了散射线成分增大的量，相对于基准厚度的偏差被向 负(薄)方向输出。例如，3.5mm板厚的钢板3从通过线面Omm向检测器方向移动IOOmm时，其偏 差成为-1.5%。然而，在对钢板的摆动导致的测定误差进行修正的方法中公知有，使用专利文 献1公开的激光距离计测定钢板的位置并进行修正的方法，或者机械式地测定钢板的位 置，修正因钢板的倾斜或上下动导致的测定误差的方法。但是，利用这样的其他的位置检测器求出钢板的位置并进行修正的方法中，存 在在钢板搬运线上需要用于设置新设备的设置空间的问题，或者因为放射线厚度计和位 置检测器的时间响应不同，使在动态地变动的钢板上的测定点一致而进行修正变得困难 的问题。而且，由于专利文献1的激光距离计的方法只能在激光光线所通过的测定空间 洁净的环境中使用，所以存在必须清洁测定空间的、需要固有的环境对策设备的问题。
技术实现思路
本专利技术为解决上述问题而研发的，其目的是提供放射线厚度计，不用设置新设 备就能对被测定物的上下移动产生的误差进行修正，实现测定精度的提高。为实现上述目的，本专利技术的放射线厚度计为如下结构，即，一种放射线厚度 计，对移动的被测定物照射放射线，根据透过了被测定物的透过放射线的线量测定被测 定物的厚度，其特征在于，具有(I)C型框架，设置为在与搬运所述被测定物的通过线 平面垂直的方向上，夹着该被测定物；( 检测部，具有ω设置在所述c型框架的相 对置的一方臂部上的放射线源、Gi)设置在另一方臂部上且对所述透过放射线进行检测的 主检测器、和Gii)在所述放射线源的照射面的中心点与所述主检测器的受光的面所成的 立体角的光轴中心上设置的所述主检测器的周围，对从所述被测定物散射的散射线进行 检测的副检测器；以及(3)运算部，具有ω修正运算部，存储以使被所述主检测器检 测的放射线的增减引起的输出变化和被所述副检测器检测的散射线成分的输出变化一致 的方式预先求出的修正系数，所述被测定物沿与所述通过线平面垂直的光轴方向移动了 的情况下，根据所述副检测器的输出选择并乘以所述修正系数，再求出所述主检测器和 所述副检测器之差、和(ω根据所述修正运算部的输出求得厚度的厚度运算部。对所述 被测定物从通过线面沿垂直轴方向发生了移动时的散射成分的变化进行检测，实时地修 正测定误差。而且为实现上述目的，本专利技术的一放射线厚度计为以下结构，即，一种放射线 厚度计，对移动的被测定物照射放射线，根据透过了被测定物的透过放射线的线量测定 被测定物的厚度，其特征在于，具有(I)C型框架，设置为在与搬运所述被测定物的通 过线平面垂直的方向上，夹着该被测定物；( 检测部，具有ω设置在所述c型框 架的相对置的一方臂部上，且相对于所述被测定物的表面沿铅直方向照射放射线的放射 线源、Gi)设置在另一方臂部上且对所述透过放射线进行检测的主检测器、和Gii)设置 在所述一方的臂部上，在所述放射线源的照射面的中心点与所述主检测器的受光的面所成的立体角的光轴中心的周围，对向与所述放射线的照射方向相反的方向散射的散射线 进行检测的副检测器；以及C3)运算部，具有ω修正运算部，存储以使被所述主检 测器检测的放射线的增减引起的输出变化和被所述副检测器检测的散射线成分的输出变 化一致的方式预先求出的修正系数，所述被测定物沿与所述通过线平面垂直的光轴方向 移动了的情况下，根据所述副检测器的输出选择并乘以所述修正系数，再求出所述主检 测器和修正的所述副检测器之和、和(ii)根据所述修正运算部的输出求得厚度的厚度运 算部。对所述被测定物从通过线面沿垂直轴方向发生了移动时的散射成分的变化进行检 测，实时地修正测定误差。根据本专利技术，提供一种放射线厚度计，不用设置新设备就能对被测定物的上下 移动产生的误差进行修正，实现测定精度的提高。附图说明图1A、图IB是以往的放射线厚度计的误差发生的理由说明图。图2A、图2B是本专利技术的第一实施例的结构图。图3A、图3B是本专利技术的第二实施例的结构图。图4A、图4B是本专利技术的第三实施例的结构图。图5是本专利技术的检测部的光学模型图。附图标记的说明1检测部Ia放射线源Ib主检测器lc、Icl lc4副检测器Id C型框架2修正运算部2a修正部2al修正系数电路2a2修正运算电路2a3修正系数选择电路2b厚度运算部3被测定物具体实施方式以下，参照附图说明本专利技术的实施例。第一实施例在说明本专利技术的实施例之前，首先参照图5所示的检测部的光学模型图，对本 专利技术的原理进行说明。在图5中，将被测定物3位于测定基准位置即通过线面(PL-O)时的主检测器Ib 的输本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线厚度计，对移动的被测定物照射放射线，根据透过了被测定物的透过放射线的线量测定被测定物的厚度，其特征在于，具有：（１）Ｃ型框架，设置为在与搬运所述被测定物的通过线平面垂直的方向上，夹着该被测定物；（２）检测部，具有：（ｉ）设置在所述Ｃ型框架的相对置的一方臂部上的放射线源、（ｉｉ）设置在另一方臂部上且对所述透过放射线进行检测的主检测器、和（ｉｉｉ）在所述放射线源的照射面的中心点与所述主检测器的受光的面所成的立体角的光轴中心上设置的所述主检测器的周围，对从所述被测定物散射的散射线进行检测的副检测器；以及（３）运算部，具有：（ｉ）修正运算部，存储以使被所述主检测器检测的放射线的增减引起的输出变化和被所述副检测器检测的散射线成分的输出变化一致的方式预先求出的修正系数，在所述被测定物沿与所述通过线平面垂直的光轴方向移动了的情况下，根据所述副检测器的输出选择并乘以所述修正系数，再求出所述主检测器和所述副检测器之差、和（ｉｉ）根据所述修正运算部的输出求得厚度的厚度运算部，对所述被测定物从通过线面沿垂直轴方向发生了移动时的散射成分的变化进行检测，实时地修正测定误差。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小原哲，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]