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显示装置和显示装置的亮度校正方法制造方法及图纸

技术编号:6392688 阅读:217 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种显示装置和显示装置的亮度校正方法。所述显示装置包括:显示区域,它包括多个发光元件;非显示区域,它包括多个发光元件和感光元件;驱动单元,它与所述显示区域中的各个所述发光元件连接;感光驱动单元,它与所述非显示区域中的所述多个发光元件连接;以及感光处理单元,它接收从所述非显示区域中所述多个发光元件中的各发光元件输出的信号,并将劣化信号输出给所述驱动单元,所述驱动单元根据所述劣化信号向所述显示区域中的所述多个发光元件提供信号。因此,能够正确地防止老化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在显示面板中包括发光元件的显示装置。技术背景近年来,在显示图像的显示装置领域中,已经开发了用于商品化的显示装置, 它们使用发光亮度根据流过的电流值而变化的电流驱动型光学元件,例如作为像素发光 元件的有机电致发光(Electro Luminescence,EL)元件。不像液晶元件等那样,有机EL 元件是自发光元件。因此,在使用有机EL元件的显示装置(有机EL显示装置)中,不 需要光源(背光),因此与需要光源的液晶显示装置相比,减小了显示装置的尺寸并提高 了显示装置的亮度。特别是,在显示装置使用有源矩阵系统作为驱动系统的情况下,各 像素连续发光,由此减少电力消耗。因此,期望有机EL显示装置成为下一代平板显示装 置的主流。在使用目前的EL元件时存在如下问题与流过的电流值对应的元件劣化使亮度 下降。因此,在使用有机EL元件作为显示装置的像素的情况下,像素可能具有不同的劣 化状态。例如,在显示装置的具有高亮度的固定区域内,在长时间显示诸如时间或显示 频道等信息的情况下,位于该区域内的像素加速劣化。结果,在包含显示装置的过早劣 化像素的区域内显示高亮度的图片时,会仅在包含过早劣化像素的区域内发生显示的图 片较暗的被称作老化(bum-in)的现象。老化是不可挽回的,因此一旦发生老化,则这种 老化就是永久的。已经提出了很多防止老化的技术。例如,如日本专利公开公报特开2002-351403 号所述,公开了一种在布置在显示区域外部的伪像素(dummy pixel)发光时通过检测端 子电压来预测伪像素的劣化度,然后根据预测的劣化度校正图片信号的方法。此外,例 如,如日本专利公开公报特开2008-58446号和国际申请公开WO 2006/046196所述,公 开了在各显示像素中布置光传感器,并利用从上述光传感器输出的感光信号校正图片信 号的方法。然而,在日本专利公开公报特开2002-351403号的技术中,没有根据显示区域 中像素的发光信息对显示区域中像素的劣化度进行预测,因而不能正确地校正图片信 号。因此,难以防止老化。此外,在日本专利公开公报特开2008-58446号和国际申请 公开WO 2006/046196的技术中,在各像素内的光传感器之间光电转换效率变化。因此, 例如,来自以相同亮度显示的两个像素的感光信号的大小互不相同。结果,难以正确地 防止老化。4
技术实现思路
本专利技术的目的是提供能够正确地防止老化的显示装置。本专利技术实施例提供了一种显示装置,其包括显示区域,它包括多个发光元 件;非显示区域,它包括多个发光元件和感光元件;驱动单元,它通过显示区域信号线 与所述显示区域中的各个所述发光元件相连接;感光驱动单元,它通过非显示区域信号 线与所述非显示区域中的所述多个发光元件连接;以及感光处理单元,它接收从所述非 显示区域中所述多个发光元件中的各个发光元件输出的信号,并将劣化信号输出给所述 驱动单元。所述驱动单元根据所述劣化信号向所述显示区域中的所述多个发光元件提供 信号。在本专利技术的另一实施例中,所述驱动单元根据所述劣化信号为所述显示区域中 所述多个发光元件校正信号。在本专利技术的另一实施例中,所述感光处理单元基于如下方程测定所述劣化信 号D1 = Dsn(Y" Ys)其中,D1是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一个发光元件的劣化率, Ds是参考发光元件的劣化率,!!(Y1, Ys)是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一 个发光元件的亮度相对于由所述感光处理单元选择的所述参考发光元件的亮度的指数因子。在本专利技术的另一实施例中,所述感光处理单元基于如下方程测定所述指数因子 _5] n(Yl> Yj=Log賺-Lo狐JLog(Ys(Tk))-Log(W1))其中,Ys(Tk)是在时刻Tk从所述参考发光元件输出的信号,Ys(Th)是在时刻 Tk_i从所述参考发光元件输出的信号,Y1(Tk)是在时刻Tk从所述非显示区域中所述多个发 光元件中的一个发光元件输出的信号,Y1(Th)是在时刻Tk_i从所述非显示区域中所述多 个发光元件中的一个发光元件输出的信号。在本专利技术的另一实施例中,所述显示装置包括存储单元,它连接在所述感光处 理单元与所述驱动单元之间,并在向所述驱动单元提供所述劣化信号之前存储所述劣化信号。在本专利技术的另一实施例中,所述感光驱动单元向所述非显示区域中的所述多个 发光元件提供恒定信号。在本专利技术的另一实施例中,所述参考发光元件是所述非显示区域中多个像素中 的一个像素。在本专利技术的另一实施例中,恒定采样周期通过如下方程将所述时刻Tk与所述时 刻Tk_i分隔开Tk = Tk-!+ Δ T其中,Δ T是恒定的时间间隔。在本专利技术的另一实施例中,时间间隔ΔΤ是可变的时间间隔。本专利技术另一实施例提供了一种显示装置的亮度校正方法,所述显示装置包括具5有多个发光元件的显示区域以及具有多个发光元件和感光元件的非显示区域,所述方法 包括如下步骤从感光驱动单元向所述非显示区域中的所述多个发光元件提供控制信 号;通过感光处理单元接收从所述非显示区域中所述多个发光元件的各个发光元件输出 的信号,并确定所述非显示区域中所述发光元件的劣化率;将所述劣化信号输出给驱动 单元;以及利用所述劣化信号校正从所述驱动单元发送给所述显示区域中的所述发光元 件的信号。在本专利技术的另一实施例中,所述包括如下步骤所述感光处理单元基于如下方 程测定劣化率D1 = Dsn(Y" Ys)其中,D1是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一个发光元件的劣化率, Ds是参考发光元件的劣化率,!!(Y1, Ys)是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一 个发光元件的亮度相对于由所述感光处理单元选择的所述参考发光元件的亮度的指数因子。在本专利技术的另一实施例中,所述感光处理单元基于如下方程测定所述指数因子[_ 刚,”々g=d^Log(Ys (Tk)) - Log( Yi (Tk_,))其中,Ys(Tk)是在时刻Tk从所述参考发光元件输出的信号,Ys(Th)是在时刻 Tk_i从所述参考发光元件输出的信号,Y1(Tk)是在时刻Tk从所述非显示区域中所述多个发 光元件中的一个发光元件输出的信号,Y1(Th)是在时刻Tk_i从所述非显示区域中所述多 个发光元件中的一个发光元件输出的信号。在本专利技术的另一实施例中,所述方法包括在所述输出步骤之前的步骤在向驱 动单元提供所述劣化信号之前将所述劣化信号存储在存储单元中,所述存储单元连接在 所述感光处理单元与所述驱动单元之间。在本专利技术的另一实施例中,所述感光驱动单元向所述非显示区域中所述多个发 光元件提供恒定信号。在本专利技术的另一实施例中,所述参考发光元件是所述非显示区域中多个像素中 的一个像素。在本专利技术的另一实施例中,恒定采样周期通过如下方程将所述时刻Tk与所述时 刻Th分隔开Tk = Th+ Δ T其中,Δ T是恒定的时间间隔。在本专利技术的另一实施例中,所述时间间隔ΔΤ是可变的时间间隔。根据下面的附图和详细的说明,对于本领域技术人员来说,本专利技术的其他系 统、方法、特征及优点是显而易见的。应当注意,全部的附加系统、方法、特征及优点 都包含在本说明书内、本专利技术的范围内、并被所附权利要求所保护。附图说明图1是图示了本专利技术实施例的显示装置本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种显示装置,其包括:显示区域,它包括多个发光元件;非显示区域,它包括多个发光元件,各个所述发光元件结合有对应的感光元件;驱动单元,它与所述显示区域中的各个所述发光元件连接;感光驱动单元,它与所述非显示区域中的所述多个发光元件连接;以及感光处理单元,它接收来自各个所述感光元件的信号,并根据接收到的信号将劣化信号输出给所述驱动单元,其中,所述驱动单元根据所述劣化信号向所述显示区域中的所述多个发光元件提供驱动信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:中村和夫内野胜秀长谷川洋小野宗纪
申请(专利权)人:索尼公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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