基于数字信号处理功能的测控装置制造方法及图纸

技术编号:5779544 阅读:164 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种基于数字信号处理功能的测控装置,所述测控装置包括:用于交流电采样的采样模块;与所述采样模块连接,用于对所述采样模块的采样值进行快速傅立叶变换,获得电能参数并输出的带数字信号处理功能的控制器;与所述控制器连接,用于显示所述控制器输出的电能参数的显示模块;与所述控制器连接,用于接收上位机发送的控制指令的通信模块;所述控制器根据所述通信模块接收的上位机控制指令,对外部设备进行控制。本实用新型专利技术提供的测控装置体积小,可同时测量外部设备的多个电能参数以及对外部设备进行控制,实现测控装置的智能化。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测控
,尤其涉及一种基于数字信号处理功能的 测控装置。
技术介绍
随着微电子技术的发展,各种各样的微处理器速度越来越快,体积越来 越小,功能越来越强。通过在一块很小的微处理器里编写软件可以实现以往 硬件实现的功能,不仅体积小,功能全,而且只需更改软件就可更改功能。数字信号处理器(DSP, Digital Signal Processing )是一种特别适合于进行数字 信号处理运算的微处理器器,其主要应用是实时快速地实现各种数字信号处 理算法,具有^^件乘法器和多功能运算单元、功能强大、处理速度快等特点。目前的测量装置通常采用多个模拟测量表对设备的多个电能参数进行测 量。所谓的模拟测量表大都包括刻度盘、金属指针以及玻璃罩。用户可以通 过玻璃罩观察金属指针所指的刻度板的刻度,从而获知设备当前的电能参数 是否在允许的范围之内,如果设备当前的电能参数不在允许范围之内,则对 设备进行控制,使电能参数恢复到允许范围之内,保证设备的安全。专利技术人在创造本技术的过程中发现,现有的测量装置由于同时存在 多个模拟测量表,导致测量装置的体积较大,而且,现有的测量装置只具有 单一的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于数字信号处理功能的测控装置,其特征在于,包括: 用于交流电采样的采样模块; 与所述采样模块连接,用于对所述采样模块的采样值进行快速傅立叶变换,获得电能参数并输出的带数字信号处理功能的控制器; 与所述控制器连接,用于 显示所述控制器输出的电能参数的显示模块; 与所述控制器连接,用于接收上位机发送的控制指令的通信模块; 所述控制器根据所述通信模块接收的上位机控制指令,对外部设备进行控制。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:何育坤马永军黄磊张帆
申请(专利权)人:深圳市华力特电气股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1