差压双离子阱质量分析仪及其使用方法技术

一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能（冷却和碎裂），在第二阱中执行倾向低压的功能（分离和分析扫描）。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术通常涉及质语仪，尤其是涉及用在质谱仪系统中的差压，二维 双离子阱质量分析仪。
技术介绍
二维四极离子阱质量分析仪(也称为线性离子阱)在质谙学领域是公知 的，并且已经成为用于分析各种化合物的重要且广泛使用的工具。如通常 所述，二维离子阱由一组四个伸长的电极组成，其中在该电极上施加预定相位关系的射频(RF)俘获电压，以将离子径向约束在阱内部。离子的轴向 约束受棒电极和/或纵向位于棒电极外部的电极的端部施加恰当直流(DC) 偏差的影响。该俘获离子的质谱可以通过从阱内部按照质量顺序地向相关 联的检测器发射离子来获得，其中可以沿如Bier等在美国专利No.5420425 中描述的与离子阱的中心纵轴垂直的径向或，如Hager在美国专利 No.6177668中描述的与中心纵轴平行的轴向。该二維离子阱的加大的离子 体积、较强的俘获能力、以及较高的俘获效率都提供了显著的性能优势(与 传统的三维离子阱相比)，这包括增强了的灵敏性、以及执行增加了数量的 多阶段的离子选择和碎裂的能力。离子阱质量分析仪的成功运行需要向阱内增加緩冲气体(典型的是氦 气)。缓沖气体(在现有技术中名称不一，也可以称为阻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于质谱仪的双阱质量分析仪，包括：　第一二维四极离子阱，其具有内部区域，该内部区域在质谱仪运行期间保持在第一压力，所述第一离子阱构造成接收、约束和冷却离子；　与所述第一离子阱相邻放置且具有内部区域的第二二维四极离子阱，该内部 区域在质谱仪运行期间保持在基本低于第一压力的第二压力，所述第二离子阱构造成接收和约束从第一二维离子阱传输的离子，并按照质量顺序地将离子发射至检测器以产生质谱；以及　至少一个放置在第一和第二离子阱之间，并构造成控制在其之间传输离子的离子 光学元件。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：杰C施瓦兹，约翰EP西卡，斯科特T夸姆比，
申请(专利权)人：塞莫费尼根股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]