一种测量盘传感器倍率校正工具制造技术

一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺，千分尺通过千分尺固定套向下垂直穿过并被固定在倒凹槽型金属型材的上平面中心位置，倒凹槽型金属型材左支撑的底部向左折有与左支撑垂直的左平台，右支撑的底部向右折有与右支撑垂直且和左平台大小相同的右平台，左平台和右平台上分别放置第一永磁铁和第二永磁铁，将千分尺的表头对正传感器的测头，调整千分尺至数显表为零，然后调整千分尺到０．５ｍｍ，同时调整倍率调整旋钮使数显表显示变化为０．５ｍｍ，从而完成传感器倍率校正，具有方便快捷完成测量盘传感器倍率校正，提高效率，节约成本的特点和效果。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种校正工具，特别涉及一种测量盘传感器倍率校正工具。
技术介绍
在屏生产过程中需要对每枚屏进行内面曲率的测定，使用的设备是屏曲率自动测 定机，测定方法是屏的销钉被测定机的销钉夹头加紧定位，由汽缸推动装有四个传感器的 测量盘上升，测量盘上的电子位移传感器就会将触屏后的位移量转化成电信号传输给工控 机进行处理，其结果由控制柜数显表显示出来。正常情况下传感器位移0. 5mm，数显表显示 变化0. 5mm，但很多情况下传感器位移与数显表显示量并不一致即传感器倍率不准，造成屏 内面曲率测定不准确，因此需要经常校正传感器倍率。在测量盘上有四个传感器基座，原 来使用的工具是体积比较大的磁力表，而且四个传感器基座把可供放置磁力表的范围变 的极其有限，有的点甚至够不着而需要将传感器拆下来校正倍率，使传感器倍率校正成本 高，效率低。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种测量盘传感器倍 率校正工具，具有方便快捷，节约成本的效果和特点。为了达到上述目的，本技术采取的技术方案为一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺1，千分尺1通过千分尺固定套2向 下垂直穿过倒凹槽型金属型材3的上平面中心位置，并被固定套2垂直固定在倒凹槽型金 属型材3的上平面，倒凹槽型金属型材3左支撑9的底部向左折有与左支撑9垂直的左平 台7，倒凹槽型金属型材3右支撑4的底部向右折有与右支撑4垂直且和左平台7大小相同 的右平台6，左平台7和右平台6上分别放置第一永磁铁8和第二永磁铁5。本技术的工作原理为使用工具时，将倒凹槽型金属型材3的左支撑9和右支撑4放置在传感器基座的 上端面上，千分尺1的表头对正传感器的测头，然后在左平台7和右平台6上分别放置第一 永磁铁8和第二永磁铁5使倒凹槽型金属型材3水平稳定，调整千分尺1至控制柜数显表 显示为零，然后调整千分尺1刻度到0. 5mm看控制柜数显表是否显示变化为0. 5mm，若不一 致则调整控制柜的倍率调整旋钮使控制柜数显表显示变化为0. 5mm，从而完成传感器倍率 校正。由于本技术采用了千分尺1垂直固定在倒凹槽型金属型材3的上平面中心位 置，倒凹槽型金属型材3左支撑9的底部向左折有与左支撑9垂直的左平台7，倒凹槽型金 属型材3右支撑4的底部向右折有与右支撑4垂直且和左平台7大小相同的右平台6，而且 左平台7和右平台6上分别放置第一永磁铁8和第二永磁铁5，因此使用本技术的有益 效果是方便快捷完成测量盘传感器倍率校正，提高效率，节约成本。附图说明附图是本技术的结构主视图。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。参见附图，一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺1，千分尺1通过千分尺 固定套2向下垂直穿过倒凹槽型金属型材3的上平面中心位置，并被固定套2垂直固定在 倒凹槽型金属型材3的上平面，倒凹槽型金属型材3左支撑9的底部向左折有与左支撑9 垂直的左平台7，倒凹槽型金属型材3右支撑4的底部向右折有与右支撑4垂直且和左平台 7大小相同的右平台6，左平台7和右平台6上分别放置第一永磁铁8和第二永磁铁5。本技术的工作原理为使用工具时，将倒凹槽型金属型材3的左支撑9和右支撑4放置在传感器基座的 上端面上，千分尺1的表头对正传感器的测头，然后在左平台7和右平台6上分别放置第一 永磁铁8和第二永磁铁5使倒凹槽型金属型材3水平稳定，调整千分尺1至控制柜数显表 显示为零，然后调整千分尺1刻度到0. 5mm看控制柜数显表是否显示变化为0. 5mm，若不一 致则调整控制柜的倍率调整旋钮使控制柜数显表显示变化为0. 5mm，从而完成传感器倍率 校正。附图中1为千分尺；2为千分尺固定套；3为倒凹槽型金属型材；4为右支撑；5为 第二永磁铁；6为右平台；7为左平台；8为第一永磁铁；9为左支撑。权利要求1.一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺(1)，其特征在于千分尺(1)通过千 分尺固定套O)向下垂直穿过倒凹槽型金属型材(3)的上平面中心位置，并被固定套(2) 垂直固定在倒凹槽型金属型材(3)的上平面，倒凹槽型金属型材C3)左支撑(9)的底部向 左折有与左支撑(9)垂直的左平台(7)，倒凹槽型金属型材C3)右支撑(4)的底部向右折有 与右支撑⑷垂直且和左平台(7)大小相同的右平台(6)。2.根据权利要求1所说的一种测量盘传感器倍率校正工具，其特征在于所说的左平 台(7)和右平台(6)上分别放置第一永磁铁(8)和第二永磁铁(5)。专利摘要一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺，千分尺通过千分尺固定套向下垂直穿过并被固定在倒凹槽型金属型材的上平面中心位置，倒凹槽型金属型材左支撑的底部向左折有与左支撑垂直的左平台，右支撑的底部向右折有与右支撑垂直且和左平台大小相同的右平台，左平台和右平台上分别放置第一永磁铁和第二永磁铁，将千分尺的表头对正传感器的测头，调整千分尺至数显表为零，然后调整千分尺到0.5mm，同时调整倍率调整旋钮使数显表显示变化为0.5mm，从而完成传感器倍率校正，具有方便快捷完成测量盘传感器倍率校正，提高效率，节约成本的特点和效果。文档编号G01B5/20GK201837349SQ20102057627公开日2011年5月18日 申请日期2010年10月22日 优先权日2010年10月22日专利技术者孙岗, 杜志远 申请人:彩虹集团电子股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量盘传感器倍率校正工具，包括千分尺（１），其特征在于：千分尺（１）通过千分尺固定套（２）向下垂直穿过倒凹槽型金属型材（３）的上平面中心位置，并被固定套（２）垂直固定在倒凹槽型金属型材（３）的上平面，倒凹槽型金属型材（３）左支撑（９）的底部向左折有与左支撑（９）垂直的左平台（７），倒凹槽型金属型材（３）右支撑（４）的底部向右折有与右支撑（４）垂直且和左平台（７）大小相同的右平台（６）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙岗，杜志远，
申请(专利权)人：彩虹集团电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：61[中国|陕西]